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公开(公告)号：CN116544903A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310485234.9
申请日：2023-04-28
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开一种辐照评估试验用电源控制装置、系统及方法，包括电源切换控制电路板，电源切换控制电路板包括输入接口模块、控制处理模块和电压输出模块，程控直流电源和上位机PC分别与电源切换控制电路板连接，上位机PC同时与程控直流电源和远程控制机PC连接，通过远程控制机PC控制上位机PC进而控制电源切换控制电路板上的控制处理模块，控制处理模块通过控制电压输出模块实现单路或多路不同电压的串行或并行输出，无须在试验进行过程中手动控制直流电源，可实现程序自动控制电压的切换，提高了辐照试验的效率。
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公开(公告)号：CN111798916A
公开(公告)日：2020-10-20
申请号：CN202010614989.0
申请日：2020-06-30
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种通用型存储器单粒子辐照试验平台及试验方法，试验平台包括存储器单粒子辐照试验板、控制计算机、供电电源和终端计算机；所述控制计算机通过串口与存储器单粒子辐照试验板相连，用以控制存储器单粒子辐照试验板在试验中的相关操作，并接收实时的试验信息数据；控制计算机与供电电源连接用于控制其开断，并实时监测电流情况；所述存储器单粒子辐照试验板包括母板和存储器子板，存储器子板上承载被测存储器，母板与存储器子板连接。多种类型的存储器单粒子辐照试验可在同一个试验平台上进行，操作简单快捷，与传统试验方式相比，极大的节省了试验成本，提高了试验效率，节约试验机时。
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公开(公告)号：CN109411009A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811168610.7
申请日：2018-10-08
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明公开了一种Flash器件擦写寿命测试系统装置，受试器件测试载板经测试控制显示电路板与PC机连接，直流稳压电源分别与受试器件测试载板和测试控制显示电路板连接；受试器件测试载板上设置有测试锁紧插座，受试Flash器件安装在测试锁紧插座上，测试控制显示板生成激励信号并发送给受试Flash器件，并接收受试Flash器件的反馈响应进行判断和显示，本发明可以实现Flash擦写疲劳和稳态寿命两种可靠性试验，方案实施的成本低。
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公开(公告)号：CN118819229A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410862685.4
申请日：2024-06-28
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种一级电源输出电压通断次序控制设计方法，采用DC/DC类电压转换电路作为一级电源器件完成板级输入电压到电路工作电压的转换，根据RC充电电压达到两只监控定序电路电压输入阈值先后顺序，依次输出一级电源工作使能信号，开通不同电源轨通道输出，根据RC放电电压下降到两只监控定序电路电压输入阈值先后顺序，依次撤销一级电源工作使能信号，关断不同电源轨通道输出采用电源轨次序管理监控电路完成对一级电源输出电压跟踪定序，实现一级电源输出多电源轨通断次序的控制，满足了超大规模集成电路对工作电压通断次序的特殊需求，并保障了实际应用的上电控制的时效性。
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公开(公告)号：CN119780668A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411830858.0
申请日：2024-12-12
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G01R31/28 , H04L67/00 , G06F11/3668
Abstract: 本发明公开了一种多芯片集成的SIP模块的自动化测试系统及方法，测试系统在对各芯片单独测试后，通过整体系统测试，能够全面检测SIP模块中FPGA和ARM之间的互联通信以及协同工作情况，有效解决了多芯片互联测试难题。该自动化测试系统通过上位机的统一控制和管理，实现了从编程到测试结果输出的全自动化流程，减少了人工干预，提高了测试效率和准确性。通过上位机对各芯片的独立测试以及整体系统测试的综合数据收集和分析，能够更精准地判断故障所在，大大缩短了故障排查和修复的时间。因此，本发明提出的系统提高了SIP的测试自动化、测试覆盖率和测试的可扩展性。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN109063323A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201810849996.1
申请日：2018-07-28
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5081
Abstract: 本发明公开了一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，以被验证SDRAM的特征参数和验证需求为程序生成入口限制条件，根据SDRAM的状态机跳变图约束限制指令的组合生成随机测试程序方法，保证了测试验证程序的有效性和高效性，对提高SDRAM测试覆盖率具有重要意义；本发明的方法以单指令模板库和固定指令组合库作为生成测试程序的基础，在被验证对象SDRAM的技术升级换代后，只要对指令库进行更新，根据被验证的SDRAM进行参数约束就可适应新的测试验证需求，无需进行大量的数据库更新维护，适用范围广泛。
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公开(公告)号：CN116610611A
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN202310440837.7
申请日：2023-04-21
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于SIP应用和开发的系统，选用自主设计的SIP模块，以替代一般处理器最小系统需要很多外围电路的最小系统设计，简化系统集成，集成了供电接口应用开发模块、存储器接口应用开发模块、采集/转换接口应用开发模块、通讯接口应用开发模块、控制接口应用开发模块和预留扩展接口应用开发模块，满足高主频、高性能、通用性的要求同时，预留扩展升级，满足设备更新升级的需求。
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公开(公告)号：CN109063323B
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN201810849996.1
申请日：2018-07-28
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G06F30/3308
Abstract: 本发明公开了一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，以被验证SDRAM的特征参数和验证需求为程序生成入口限制条件，根据SDRAM的状态机跳变图约束限制指令的组合生成随机测试程序方法，保证了测试验证程序的有效性和高效性，对提高SDRAM测试覆盖率具有重要意义；本发明的方法以单指令模板库和固定指令组合库作为生成测试程序的基础，在被验证对象SDRAM的技术升级换代后，只要对指令库进行更新，根据被验证的SDRAM进行参数约束就可适应新的测试验证需求，无需进行大量的数据库更新维护，适用范围广泛。
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公开(公告)号：CN109411009B
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201811168610.7
申请日：2018-10-08
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明公开了一种Flash器件擦写寿命测试系统装置，受试器件测试载板经测试控制显示电路板与PC机连接，直流稳压电源分别与受试器件测试载板和测试控制显示电路板连接；受试器件测试载板上设置有测试锁紧插座，受试Flash器件安装在测试锁紧插座上，测试控制显示板生成激励信号并发送给受试Flash器件，并接收受试Flash器件的反馈响应进行判断和显示，本发明可以实现Flash擦写疲劳和稳态寿命两种可靠性试验，方案实施的成本低。
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