公开(公告)号：CN109411009A

公开(公告)日：2019-03-01

申请号：CN201811168610.7

申请日：2018-10-08

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李春 ,  张晓敏 ,  刘洪卫

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明公开了一种Flash器件擦写寿命测试系统装置，受试器件测试载板经测试控制显示电路板与PC机连接，直流稳压电源分别与受试器件测试载板和测试控制显示电路板连接；受试器件测试载板上设置有测试锁紧插座，受试Flash器件安装在测试锁紧插座上，测试控制显示板生成激励信号并发送给受试Flash器件，并接收受试Flash器件的反馈响应进行判断和显示，本发明可以实现Flash擦写疲劳和稳态寿命两种可靠性试验，方案实施的成本低。

公开(公告)号：CN109411009B

公开(公告)日：2020-11-06

申请号：CN201811168610.7

申请日：2018-10-08

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李春 ,  张晓敏 ,  刘洪卫

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明公开了一种Flash器件擦写寿命测试系统装置，受试器件测试载板经测试控制显示电路板与PC机连接，直流稳压电源分别与受试器件测试载板和测试控制显示电路板连接；受试器件测试载板上设置有测试锁紧插座，受试Flash器件安装在测试锁紧插座上，测试控制显示板生成激励信号并发送给受试Flash器件，并接收受试Flash器件的反馈响应进行判断和显示，本发明可以实现Flash擦写疲劳和稳态寿命两种可靠性试验，方案实施的成本低。