公开(公告)号：CN111752784A

公开(公告)日：2020-10-09

申请号：CN202010598483.5

申请日：2020-06-28

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李春 ,  王会敏 ,  张晓敏 ,  闫辉 ,  魏晓彤

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明公开了一种串行高速接口DIL测试平台及测试方法，测试平台包括上位机、直流稳压源、交换芯片承载电路板和终端节点电路板；所述上位机具有仿真器，上位机分别与交换芯片承载电路板、终端节点电路板通过串行高速接口连接，形成总线数据传输系统，所述直流稳压源分别为交换芯片承载电路板和终端节点电路板供电；所述交换芯片承载电路板与至少一个终端节点电路板通过交换器-终端节点连接线连接；多个终端节点电路板之间通过终端节点-终端节点连接线连接。该测试平台能够兼容交换芯片和终端节点两种不同类型的被测试对象；交换芯片进行响应事务测试，终端节点进行发起事务和响应事务测试，从而实现串行高速接口DIL测试的全覆盖性。

公开(公告)号：CN111798916A

公开(公告)日：2020-10-20

申请号：CN202010614989.0

申请日：2020-06-30

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 闫辉 ,  李磊 ,  马琳丽 ,  张晓敏 ,  魏晓彤

IPC: G11C29/56 ,  G11C29/50

Abstract: 本发明公开了一种通用型存储器单粒子辐照试验平台及试验方法，试验平台包括存储器单粒子辐照试验板、控制计算机、供电电源和终端计算机；所述控制计算机通过串口与存储器单粒子辐照试验板相连，用以控制存储器单粒子辐照试验板在试验中的相关操作，并接收实时的试验信息数据；控制计算机与供电电源连接用于控制其开断，并实时监测电流情况；所述存储器单粒子辐照试验板包括母板和存储器子板，存储器子板上承载被测存储器，母板与存储器子板连接。多种类型的存储器单粒子辐照试验可在同一个试验平台上进行，操作简单快捷，与传统试验方式相比，极大的节省了试验成本，提高了试验效率，节约试验机时。

公开(公告)号：CN111752784B

公开(公告)日：2023-05-30

申请号：CN202010598483.5

申请日：2020-06-28

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李春 ,  王会敏 ,  张晓敏 ,  闫辉 ,  魏晓彤

IPC: G06F11/22

公开(公告)号：CN109932638A

公开(公告)日：2019-06-25

申请号：CN201910198290.8

申请日：2019-03-15

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李春 ,  闫辉 ,  刘蕾

IPC: G01R31/3163

Abstract: 本发明公开了一种V8核SoC类器件SEE检测系统装置，包括远程共享终端机、上位机和承载受试V8核SoC类器件电路板，远程共享终端机设置在试验监测厅内，上位机和承载受试V8核SoC类器件电路板设置在试验辐照厅内，远程共享终端机通过以太网与上位机连接，上位机通过RS串口通讯线与承载受试V8核SoC类器件电路板连接，承载受试V8核SoC类器件电路板通过受试器件电路板+V供电线缆连接直流稳压电源，通过承载受试V8核SoC类器件电路板对其上设置的V8核SoC类器件进行检测。本发明适用SEL和SEU两种试验环境要求，设备精简、易于操控，对于宇航用V8核SoC类器件进行的抗SEE能力的评估和考核具有重要意义。