溅射装置
    2.
    发明公开
    溅射装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118147589A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202311645413.0

    申请日:2023-12-04

    Abstract: 本发明的溅射装置具备朝向具有基板表面的被成膜基板排出溅射粒子的阴极单元。阴极单元具有靶、磁铁单元、磁铁单元扫描部和磁力线倾斜机构。磁铁单元具有磁铁。磁力线倾斜机构使在一个摆动端由磁铁形成的磁力线朝向另一个摆动端倾斜。

    成膜方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109328243A

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201780038184.2

    申请日:2017-05-31

    Abstract: 本发明提供一种可维持规定的成膜率不变,并有效形成应力在规定值以内的氧化铝膜的成膜方法。在本发明中,在真空室(1)内相对配置被成膜物(S)和铝材质的靶(21,22),向真空气氛中的真空室内导入稀有气体和氧气、给靶施加规定电力对靶进行溅射,使铝原子和氧的反应产物附着并堆积在被成膜物的表面上形成氧化铝膜。此时,向真空室内导入水蒸汽。水蒸汽的分压设置在1×10-3Pa~0.1Pa的范围内。

    溅射方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102312206B

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201010215176.0

    申请日:2010-06-29

    Abstract: 提供一种溅射方法,以简单的方法防止被处理基板外周部的膜层下垂,实现均匀的膜厚分布。在同一平面上并列设置至少三个靶对,在该靶的后方平行配置磁回路,由前述并列设置方向两端的靶对上连接的溅射电源根据规定的电力比供给电力,该电力大于被前述两端的靶对夹持的靶对上连接的溅射电源所供给的电力,并且,提高与前述磁回路并列设置方向垂直的方向上的两端部的磁场强度。

    真空处理装置
    7.
    发明公开
    真空处理装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116745458A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202280011677.8

    申请日:2022-03-18

    Abstract: 本发明提供一种在维持真空气氛的状态下能够尽量排除带入的颗粒的真空处理装置。具有真空室(1、2),其设置有处理单元(4),在真空室上连接真空泵(15),且在真空室内安装有台架(3);具备摆动机构,基板(Sw)与处理单元对置地被实施处理的台架的姿态为第一姿态,以实施处理时以外的台架的姿态为第二姿态,该摆动机构使台架在第一姿态与第二姿态间摆动;还具备在真空室内向台架喷射惰性气体的喷射机构(5),喷射机构构成为可在第一流量和第二流量之间进行流量切换,所述第一流量能在使真空室内为规定压力的真空气氛的状态下喷飞附着在台架和基板中的至少一方上的颗粒,所述第二流量可将因喷飞而在真空室内扩散的颗粒向真空泵移送。

    用于磁控管溅射电极的磁铁组以及溅射装置

    公开(公告)号:CN102097270B

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201010580566.8

    申请日:2010-12-09

    Abstract: 本发明提供一种用于磁控管溅射电极的磁铁组以及溅射装置,其不必更换磁铁组即可简单地改变靶的腐蚀区域,使靶的使用效率高。在溅射室内以彼此相对设置的靶朝向基板的方向为上,所述磁铁组设置在靶的下侧,在靶的上方形成隧道形的磁力线,所述磁铁组包括:沿靶长度方向呈线状设置的中央磁铁,以及由中央磁铁两侧平行延伸的直线部和分别连接各直线部两端的拐弯部构成的无端头形状的周边磁铁,用以改变靶一侧的极性,还具有通过相对移动前述中央磁铁和周边磁铁的直线部,即可改变中央磁铁及周边磁铁彼此间隔的变更装置。

    溅射成膜装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102906303B

    公开(公告)日:2015-01-28

    申请号:CN201180027118.8

    申请日:2011-06-02

    Abstract: 提供一种对靶材的溅射面整体进行溅射而提高靶材的使用效率并不会产生发弧的溅射成膜装置。包围导电性的靶材(211)的溅射面(231)的外周的防附着部件(251)由绝缘性的陶瓷形成。一边令磁体装置(261)在外周磁体(27a1)的外周整体进入溅射面(231)的外周的内侧的位置、和外周磁体(27a1)的外周的一部分伸出到溅射面(231)的外周的外侧的位置之间移动,一边在反应气体环境中对靶材(211)进行溅射。靶材(211)的溅射面(231)整体被溅射,所以不会在靶材(211)上堆积绝缘性的化合物,不会产生发弧。

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