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公开(公告)号:CN105242188B
公开(公告)日:2018-05-01
申请号:CN201510629325.0
申请日:2015-09-28
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种测量LED器件的结温的方法及系统,该方法包括选取多个测量电流,并分别标定每个测量电流下待测LED器件的K系数曲线;选取一个工作电流,并至少配置两组包含所述工作电流与一个所述测量电流的标定组;对至少两组标定组的回复时间进行测量,并根据所述回复时间建立回复时间模型;基于所述回复时间模型与所述K系数曲线测量LED器件在工作电流下的结温。该方法显著地提高了LED器件的结温测量的精度。同时由于考虑到回复时间的影响,可以进一步降低在LED器件的结温测量过程中对测量时间的苛刻限制,减少了对测试设备的硬件要求。
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公开(公告)号:CN106092904A
公开(公告)日:2016-11-09
申请号:CN201610741657.2
申请日:2016-08-26
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/171 , G01N2021/1714
Abstract: 本发明提供一种材料光热转换效率测试平台,它包括测试支架、红外温度测试设备、控温平台、供电电源、计算机、结温测试仪和光色电参数测试系统;所述红外温度测试设备和控温平台置于测试支架上,所述供电电源设于控温平台的下方,所述计算机连接结温测试仪和光色电参数测试系统。本发明通过搭建综合光、热、电性能分析的测试平台,通过测试定量分析灌封材料吸收光能再转换成热能的效率,提高适用于高密度封装器件的灌封材料的研发效率,能够帮助科研单位迅速有效地进行材料性能对比及开发。
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公开(公告)号:CN105242188A
公开(公告)日:2016-01-13
申请号:CN201510629325.0
申请日:2015-09-28
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种测量LED器件的结温的方法及系统,该方法包括选取多个测量电流,并分别标定每个测量电流下待测LED器件的K系数曲线;选取一个工作电流,并至少配置两组包含所述工作电流与一个所述测量电流的标定组;对至少两组标定组的回复时间进行测量,并根据所述回复时间建立回复时间模型;基于所述回复时间模型与所述K系数曲线测量LED器件在工作电流下的结温。该方法显著地提高了LED器件的结温测量的精度。同时由于考虑到回复时间的影响,可以进一步降低在LED器件的结温测量过程中对测量时间的苛刻限制,减少了对测试设备的硬件要求。
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公开(公告)号:CN105744723B
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201610151198.2
申请日:2016-03-16
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: H05K1/02
Abstract: 一反光高导热金属基印刷电路板及其应用,该电路板用于连接支撑各种电子器件,其包括一金属层板,一金属箔板和一绝缘层。所述金属层板位于所述绝缘层和所述金属箔板之间,以使所述绝缘层和所述金属箔板被所述金属层板隔离,当所述电子器件连接于所述金属箔板时,即直接透过所述金属层板进行散热。
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公开(公告)号:CN106129225A
公开(公告)日:2016-11-16
申请号:CN201610735620.9
申请日:2016-08-26
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
CPC classification number: H01L33/48 , H01L33/005
Abstract: 本发明提供一种形状可调的柔性LED光源,包括LED发光单元和灌封胶;其特征是:所述发光单元包括LED芯片、柔性基板和电极;所述LED芯片设于柔性基板的上表面和下表面;所述电极与柔性基板连接。本发明所提出的LED光源结构,可以在后续使用过程中,任意裁剪出需要的形状,如条状、片状、圆形等,本发明使用的是柔性基板以及柔性封装,可大角度弯曲;LED芯片设于柔性基板的上表面和下表面,能获得更高的光通量,更利于LED光源散热,提高了LED光源的使用寿命,无需进行频繁的更换,避免整体LED光源的报废;而且LED光源采用柔性外壳内套入柔性线路板的方式来组装灯条,再注入胶水固化,使得结构简单、生产方便,所以生产成本较低,降低了劳动强度。
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公开(公告)号:CN106525391A
公开(公告)日:2017-03-22
申请号:CN201510580204.1
申请日:2015-09-11
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法。其中,该方法包括:控温台或温箱,用于在老化过程中,为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境;温度控制器,用于在预设时间段内控制控温台上或温箱中的环境温度,使环境温度满足预定温度条件。本发明解决了相关技术中由于并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化,导致测试结果受不同老化环境的影响严重的技术问题。
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公开(公告)号:CN105744723A
公开(公告)日:2016-07-06
申请号:CN201610151198.2
申请日:2016-03-16
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: H05K1/02
CPC classification number: H05K1/0209
Abstract: 一反光高导热金属基印刷电路板及其应用,该电路板用于连接支撑各种电子器件,其包括一金属层板,一金属箔板和一绝缘层。所述金属层板位于所述绝缘层和所述金属箔板之间,以使所述绝缘层和所述金属箔板被所述金属层板隔离,当所述电子器件连接于所述金属箔板时,即直接透过所述金属层板进行散热。
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公开(公告)号:CN109115965A
公开(公告)日:2019-01-01
申请号:CN201811284055.4
申请日:2018-10-31
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: G01N33/00
Abstract: 本发明公开了一种多功能气敏动态测试装置,包括底座,所述底座的底部安装有控温板,且控温板内部的底端均匀设置有定位槽,所述底座的顶部设置有上盖,所述底座一侧的中间位置处安装有出气口,且底座另一侧的中间位置处安装有进气口,所述上盖的顶部均匀设置有压片,且压片的两侧设置有电极通孔,所述电极通孔的内侧设置有可伸缩电极。本发明可以通过在腔室底部内置控温装置,能够提供不同的工作温度,通过使用多波段的LED模组,对待测器件进行光辐照,从而提供多波段的气敏性能测试环境,可与市场上已有的各种类型的配气系统匹配使用,提供不同类型气体、不同流速以及不同气体浓度的测试环境,简单易执行。
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公开(公告)号:CN106290131A
公开(公告)日:2017-01-04
申请号:CN201610659878.5
申请日:2016-08-11
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: G01N17/00
CPC classification number: G01N17/00 , G01N17/004
Abstract: 本发明公开了一种光学高分子材料用的光湿热老化加速测试系统及测试方法,通过一个内表面涂有一层光吸收材料的恒温恒湿试验箱,恒温恒湿试验箱内部设有蓝光光源面板,蓝光光源面板的下方设有置物架,置物架的上下表面都设有一层光吸收材料,蓝光光源面板的上方设置有风扇;蓝光光源面板的一侧设有控制其工作的控制器和驱动装置,蓝光光源面板的中心具有置物区,在置物区的外围布满均匀分布的穿孔;置物架上焊接有光度探头支架,光度探头支架的上端安装有放置光度探头的固定环。本发明的优点:够使样品温度、湿度不受环境的影响而波动,能够让样品表面不受力,且在测试过程中位置恒定。避免蓝光从后方反射照射到样品上,提高了测试结果的准确性。
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公开(公告)号:CN105650612A
公开(公告)日:2016-06-08
申请号:CN201510122411.2
申请日:2015-03-19
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: F21V29/51
Abstract: 一种灯具及其散热方法,其中所述灯具的发光元件工作时,产生的热量传导至散热基座,储液腔中的散热液体经由毛细通孔的毛细吸附力进入蒸发腔与所述散热基座的热交换并蒸发以经历汽化相变,汽化后的蒸汽进入冷凝腔将热量散发到所述灯具外部并经历液化相变,液化后的所述散热液体回流进入所述储液腔,从而所述散热液体基于毛细吸附力驱动在腔体环路中循环流动,以实现所述灯具持续的散热操作。
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