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发明公开
用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法无效

公开(公告)号：CN106525391A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201510580204.1

申请日：2015-09-11

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 玛丽亚姆·雅思丹梅尔 , 威廉·凡德尔 , 叶怀宇 , 范供齐 , 钱诚 , 张国旗

IPC: G01M11/02 , G01R31/26

Abstract: 本发明公开了一种用于光学元件的加速老化系统及透光度测试方法。其中，该方法包括：控温台或温箱，用于在老化过程中，为放置在其中的待老化光学元件提供满足预定温度条件的温度环境；温度控制器，用于在预设时间段内控制控温台上或温箱中的环境温度，使环境温度满足预定温度条件。本发明解决了相关技术中由于并没有统一的设备及标准用于实现LED光学元件加速老化，导致测试结果受不同老化环境的影响严重的技术问题。

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