公开(公告)号：CN106290131A

公开(公告)日：2017-01-04

申请号：CN201610659878.5

申请日：2016-08-11

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 钱诚 ,  吝凯 ,  叶怀宇 ,  樊嘉杰 ,  文康 ,  樊学军 ,  张国旗

IPC: G01N17/00

CPC classification number: G01N17/00 ,  G01N17/004

Abstract: 本发明公开了一种光学高分子材料用的光湿热老化加速测试系统及测试方法，通过一个内表面涂有一层光吸收材料的恒温恒湿试验箱，恒温恒湿试验箱内部设有蓝光光源面板，蓝光光源面板的下方设有置物架，置物架的上下表面都设有一层光吸收材料，蓝光光源面板的上方设置有风扇；蓝光光源面板的一侧设有控制其工作的控制器和驱动装置，蓝光光源面板的中心具有置物区，在置物区的外围布满均匀分布的穿孔；置物架上焊接有光度探头支架，光度探头支架的上端安装有放置光度探头的固定环。本发明的优点：够使样品温度、湿度不受环境的影响而波动，能够让样品表面不受力，且在测试过程中位置恒定。避免蓝光从后方反射照射到样品上，提高了测试结果的准确性。

公开(公告)号：CN105242188B

公开(公告)日：2018-05-01

申请号：CN201510629325.0

申请日：2015-09-28

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 叶怀宇 ,  吝凯 ,  陈显平 ,  樊学军 ,  张国旗

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明公开了一种测量LED器件的结温的方法及系统，该方法包括选取多个测量电流，并分别标定每个测量电流下待测LED器件的K系数曲线；选取一个工作电流，并至少配置两组包含所述工作电流与一个所述测量电流的标定组；对至少两组标定组的回复时间进行测量，并根据所述回复时间建立回复时间模型；基于所述回复时间模型与所述K系数曲线测量LED器件在工作电流下的结温。该方法显著地提高了LED器件的结温测量的精度。同时由于考虑到回复时间的影响，可以进一步降低在LED器件的结温测量过程中对测量时间的苛刻限制，减少了对测试设备的硬件要求。

公开(公告)号：CN105242188A

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201510629325.0

申请日：2015-09-28

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 叶怀宇 ,  吝凯 ,  陈显平 ,  樊学军 ,  张国旗

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明公开了一种测量LED器件的结温的方法及系统，该方法包括选取多个测量电流，并分别标定每个测量电流下待测LED器件的K系数曲线；选取一个工作电流，并至少配置两组包含所述工作电流与一个所述测量电流的标定组；对至少两组标定组的回复时间进行测量，并根据所述回复时间建立回复时间模型；基于所述回复时间模型与所述K系数曲线测量LED器件在工作电流下的结温。该方法显著地提高了LED器件的结温测量的精度。同时由于考虑到回复时间的影响，可以进一步降低在LED器件的结温测量过程中对测量时间的苛刻限制，减少了对测试设备的硬件要求。

公开(公告)号：CN205982027U

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201620869183.5

申请日：2016-08-11

Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院

Inventor： 钱诚 ,  吝凯 ,  叶怀宇 ,  樊嘉杰 ,  文康 ,  樊学军 ,  张国旗

IPC: G01N17/00

Abstract: 本实用新型公开了一种光学高分子材料用的光湿热老化加速测试系统，具有恒温恒湿试验箱，恒温恒湿试验箱的内表面涂有一层光吸收材料，内部设有蓝光光源面板，蓝光光源面板的下方设有置物架，置物架的上下表面都设有一层光吸收材料，蓝光光源面板的上方设置有风扇；蓝光光源面板的一侧设有控制其工作的控制器和驱动装置，蓝光光源面板的中心具有置物区，在置物区的外围布满均匀分布的穿孔；置物架上焊接有光度探头支架，光度探头支架的上端安装有放置光度探头的固定环。本实用新型的优点：够使样品温度、湿度不受环境的影响而波动，能够让样品表面不受力，且在测试过程中位置恒定。同时避免了蓝光从后方反射照射到样品上，提高了测试结果的准确性。