处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统

    公开(公告)号:CN113380602B

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202110031638.1

    申请日:2021-01-11

    Abstract: 提供一种处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统,用于处理半导体晶圆的方法包括在一晶圆承载台的一顶表面上装载一半导体晶圆。该方法亦包括经由一第一气体入口端口及一第二气体入口端口在该半导体晶圆与该晶圆承载台的该顶表面之间供应一气态材料,该第一气体入口端口及该第二气体入口端口位于该顶表面的一扇状区段下方。该方法进一步包括将一流体介质供应至该晶圆承载台的一流体入口端口且引导来自该流体入口端口的该流体介质以流经位于该顶表面的该扇状区段下方的许多弧状通道。另外,该方法包括在该半导体晶圆上方供应一电浆气体。

    半导体制程工具、气流加速器及处理半导体装置的方法

    公开(公告)号:CN113471128B

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202110035455.7

    申请日:2021-01-12

    Abstract: 一种半导体制程工具、气流加速器及处理半导体装置的方法,气流加速器可以包括主体部分,以及一包括与主体部分一体形成的第一端的锥形主体部分。气流加速器可包括与主体部分连接的入口端口,并用于接收将由主泵送线路从半导体制程工具中移除的制程气体。半导体制程工具可包括吸盘及用以向吸盘施加真空以固定半导体装置的吸盘真空线路。锥形主体部分可配置以产生制程气体的旋转流动,以防止制程副产物在主泵送线路的内壁上堆积。气流加速器可包括与锥形主体部分的第二端一体形成的出口端口。吸盘真空线路的末端部分可以通过出口端口提供。

    半导体制程工具、气流加速器及处理半导体装置的方法

    公开(公告)号:CN113471128A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110035455.7

    申请日:2021-01-12

    Abstract: 一种半导体制程工具、气流加速器及处理半导体装置的方法,气流加速器可以包括主体部分,以及一包括与主体部分一体形成的第一端的锥形主体部分。气流加速器可包括与主体部分连接的入口端口,并用于接收将由主泵送线路从半导体制程工具中移除的制程气体。半导体制程工具可包括吸盘及用以向吸盘施加真空以固定半导体装置的吸盘真空线路。锥形主体部分可配置以产生制程气体的旋转流动,以防止制程副产物在主泵送线路的内壁上堆积。气流加速器可包括与锥形主体部分的第二端一体形成的出口端口。吸盘真空线路的末端部分可以通过出口端口提供。

    半导体制程机台
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113113326B

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202010025322.7

    申请日:2020-01-10

    Abstract: 一种半导体制程机台,包含缓冲室、机器手臂、气流供应源、抽气系统以及多个腔室。缓冲室具有一缓冲室本体,其中缓冲室本体具有进气口、抽气口、一第一晶圆通道以及一第二晶圆通道,其中进气口邻近该第一晶圆通道,抽气口邻近该第二晶圆通道,其中该第一晶圆通道与该第二晶圆通道相对设置。机器手臂设置于缓冲室中。气流供应源连接进气口。抽气系统连接抽气口。多个腔室分别连接缓冲室的第一晶圆通道以及第二晶圆通道。

    处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统

    公开(公告)号:CN113380602A

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202110031638.1

    申请日:2021-01-11

    Abstract: 提供一种处理半导体晶圆的方法与晶圆制造系统,用于处理半导体晶圆的方法包括在一晶圆承载台的一顶表面上装载一半导体晶圆。该方法亦包括经由一第一气体入口端口及一第二气体入口端口在该半导体晶圆与该晶圆承载台的该顶表面之间供应一气态材料,该第一气体入口端口及该第二气体入口端口位于该顶表面的一扇状区段下方。该方法进一步包括将一流体介质供应至该晶圆承载台的一流体入口端口且引导来自该流体入口端口的该流体介质以流经位于该顶表面的该扇状区段下方的许多弧状通道。另外,该方法包括在该半导体晶圆上方供应一电浆气体。

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