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公开(公告)号:CN113113326A
公开(公告)日:2021-07-13
申请号:CN202010025322.7
申请日:2020-01-10
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L21/67
Abstract: 一种半导体制程机台,包含缓冲室、机器手臂、气流供应源、抽气系统以及多个腔室。缓冲室具有一缓冲室本体,其中缓冲室本体具有进气口、抽气口、一第一晶圆通道以及一第二晶圆通道,其中进气口邻近该第一晶圆通道,抽气口邻近该第二晶圆通道,其中该第一晶圆通道与该第二晶圆通道相对设置。机器手臂设置于缓冲室中。气流供应源连接进气口。抽气系统连接抽气口。多个腔室分别连接缓冲室的第一晶圆通道以及第二晶圆通道。
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公开(公告)号:CN113113326B
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202010025322.7
申请日:2020-01-10
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L21/67
Abstract: 一种半导体制程机台,包含缓冲室、机器手臂、气流供应源、抽气系统以及多个腔室。缓冲室具有一缓冲室本体,其中缓冲室本体具有进气口、抽气口、一第一晶圆通道以及一第二晶圆通道,其中进气口邻近该第一晶圆通道,抽气口邻近该第二晶圆通道,其中该第一晶圆通道与该第二晶圆通道相对设置。机器手臂设置于缓冲室中。气流供应源连接进气口。抽气系统连接抽气口。多个腔室分别连接缓冲室的第一晶圆通道以及第二晶圆通道。
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公开(公告)号:CN101567360B
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN200910133930.3
申请日:2009-04-10
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/525
CPC classification number: H01L23/5256 , H01L2924/0002 , H01L2924/3011 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提出一种电致熔丝及其编程方法。一种电致熔丝,包括:在非掺杂和轻掺杂多晶硅层上的低层硅化物层,高层导电层,以及连接在低层硅化物层和高层导电层之间的钨接触孔。钨接触孔和硅化物层的颈部是电致熔丝的可编程部分。通过第一程序阶段消耗硅化物层内的硅化物,之后通过第二程序阶段消耗钨接触孔内的钨,得到高的编程后电阻。
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公开(公告)号:CN101567360A
公开(公告)日:2009-10-28
申请号:CN200910133930.3
申请日:2009-04-10
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/525
CPC classification number: H01L23/5256 , H01L2924/0002 , H01L2924/3011 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提出一种电致熔丝及其编程方法。一种电致熔丝,包括:在非掺杂和轻掺杂多晶硅层上的低层硅化物层,高层导电层,以及连接在低层硅化物层和高层导电层之间的钨接触孔。钨接触孔和硅化物层的颈部是电致熔丝的可编程部分。通过第一程序阶段消耗硅化物层内的硅化物,之后通过第二程序阶段消耗钨接触孔内的钨,得到高的编程后电阻。
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