一种应用于MEMS惯组的零偏长短期变化值测试方法

    公开(公告)号:CN103954304B

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201410216044.8

    申请日:2014-05-21

    Abstract: 一种应用于MEMS惯组的零偏长短期变化值测试方法,步骤为:(1)获取MEMS惯组的原始输出数字量;(2)对原始输出数字量进行误差补偿;(3)获得MEMS惯组每一拍输出的角速度与加速度;(4)将MEMS惯组每一拍输出的角速度与加速度作为一组测试数据样本Xi,从固定时刻开始连续记录多组Xi,记录时长为t;(5)如果t≤40min,则利用全部Xi求取MEMS惯组的零偏短期变化值ΔXS,如果t>40min,则求取MEMS惯组的零偏长期变化值ΔXL;(6)选取作为判断条件,当且仅当MEMS惯组的零偏短期变化值均小于J时,判定MEMS惯组的短期变化值满足要求;当且仅当MEMS惯组的零偏长期变化值均小于J时,判定MEMS惯组的长期变化值满足要求。

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