蚀刻组合物
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1873054A

    公开(公告)日:2006-12-06

    申请号:CN200610084694.7

    申请日:2006-05-29

    Abstract: 本发明提供蚀刻组合物,采用所述组合物可以以下部膜Al-Nd或Mo不产生底切现象的方式通过单一工序对构成薄膜晶体管液晶显示装置的TFT的栅极配线材料Al-Nd/Mo双层膜或Mo/Al-Nd/Mo三层膜进行湿式蚀刻,并可以获得优异的锥度,同时源极/漏极配线材料Mo单层膜也可以形成优异的轮廓。本发明的薄膜晶体管液晶显示装置的蚀刻组合物含有磷酸、硝酸、乙酸、磷酸盐阴离子表面活性剂和水。

    薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物

    公开(公告)号:CN100470345C

    公开(公告)日:2009-03-18

    申请号:CN200510112849.9

    申请日:2005-10-14

    Abstract: 本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物,特别涉及含有硝酸、醋酸、氟盐、磷酸盐以及水的薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物。采用所述组合物通过单一工序即可以以下部膜Al-Nd不产生底切现象的方式对薄膜晶体管液晶显示器中构成像素电极的ITO及构成TFT的栅极配线材料Mo/Al-Nd双重膜进行湿式蚀刻,并可以获得优异的锥形,同时源极/漏极配线材料Mo单一膜也可以形成优异的轮廓。

    薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物

    公开(公告)号:CN1760743A

    公开(公告)日:2006-04-19

    申请号:CN200510112849.9

    申请日:2005-10-14

    Abstract: 本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物,特别涉及含有硝酸、醋酸、氟盐、磷酸盐以及水的薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物。采用所述组合物通过单一工序即可以以下部膜Al-Nd不产生底切现象的方式对薄膜晶体管液晶显示器中构成像素电极的ITO及构成TFT的栅极配线材料Mo/Al-Nd双重膜进行湿式蚀刻,并可以获得优异的锥形,同时源极/漏极配线材料Mo单一膜也可以形成优异的轮廓。

    薄膜晶体管液晶显示装置的蚀刻组合物

    公开(公告)号:CN101070596A

    公开(公告)日:2007-11-14

    申请号:CN200710102300.0

    申请日:2007-05-10

    Abstract: 本发明提供一种薄膜晶体管液晶显示装置的蚀刻组合物,通过使用该组合物即可利用单一工序来对构成薄膜晶体管液品显示装置的TFT中的作为栅极配线材料的Mo/AlNd双重膜或Mo/AlNd/Mo三重膜进行湿式蚀刻以获得优异的锥形而不会产生作为下部膜的AlNd或Mo的底切现象,同时使得作为源极/漏极配线材料的Mo单一膜和Mo/AlNd/Mo三重膜也可以形成优异的轮廓。本发明涉及薄膜晶体管液晶显示装置的蚀刻组合物,特别是涉及含有a)磷酸、b)硝酸、c)乙酸、d)锂类化合物、e)磷酸盐类化合物和f)水的薄膜晶体管液晶显示装置的蚀刻组合物。

    薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物

    公开(公告)号:CN1760742A

    公开(公告)日:2006-04-19

    申请号:CN200510112840.8

    申请日:2005-10-14

    Abstract: 本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物,特别是涉及包含磷酸、硝酸、醋酸、[H+]离子浓度调节剂以及水的薄膜晶体管液晶显示器的蚀刻组合物。采用所述组合物仅通过湿式工序即可以以下部膜Al-Nd不产生底切现象的方式对构成薄膜晶体管液晶显示器的TFT的栅极配线材料Mo/Al-Nd双重膜进行蚀刻,并可以获得优异的锥形,同时源极/漏极配线材料Mo单一膜也可以形成优异的轮廓。

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