基片处理装置和基片处理方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114433397A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202111271671.8

    申请日:2021-10-29

    Abstract: 本发明提供有利于减少向基片排出的处理液中的异物的技术。基片处理装置包括:具有向基片排出处理液的喷嘴的排出部(30);将处理液送至排出部的送液部(60);和将用于送至排出部(30)的处理液向送液部(60)供给的作为供给源的液源(51),送液部(60)具有:供处理液流动的管路;设置在管路上的彼此不同的位置的、对设置在处理液中会含有的多个种类的异物的捕集特性彼此不同的多个过滤器。

    基片处理装置和基片处理方法

    公开(公告)号:CN112058537B

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202010483452.5

    申请日:2020-06-01

    Abstract: 本发明提供基片处理装置和基片处理方法。基片处理装置包括:保持基片并使其旋转的旋转保持部;液供给部,其具有释放处理液的喷嘴,对由旋转保持部保持的基片的表面供给处理液;使喷嘴在基片的中心与周缘部之间移动的驱动部;以及控制旋转保持部、液供给部和驱动部的控制部。控制部执行供给控制,该供给控制通过一边使基片旋转,一边使喷嘴从基片的中心向周缘部移动并从该喷嘴释放处理液,以形成作为螺旋状的轨迹的供给轨迹的方式对所述基片的表面供给所述处理液,控制部在执行供给控制时,至少在形成供给轨迹的最外周的部分,使基片的表面的每单位面积的处理液的释放量逐渐减少。本发明的目的在于使形成在基片的表面的覆膜的膜厚均匀性提高。

    处理液供给装置以及基板处理系统

    公开(公告)号:CN109482381B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN201811057063.5

    申请日:2018-09-11

    Abstract: 本公开涉及供给异物更少的处理液的处理液供给装置以及基板处理系统。抗蚀液供给装置(200)经由配设了用于去除抗蚀液中的异物的过滤器(206)以及用于送出抗蚀液的泵(207)的供给路径(202),向涂布喷嘴(142)供给抗蚀液。在作为隔管泵的泵(207)以及过滤器(206)的上游侧配有设开闭阀(205),在泵(207)以及过滤器(206)的下游侧配设有回吸阀(208)。控制部(U)进行使来自泵(207)的抗蚀液的送出停止的控制,以及进行在通过回吸阀(208)的动作使来自涂布喷嘴(142)的抗蚀液的喷出中断之后、将开闭阀(205)关闭以使所述喷出完全停止的控制。

    基板处理装置和处理液供给方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117747484A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311178054.2

    申请日:2023-09-13

    Abstract: 本发明提供一种基板处理装置和处理液供给方法。在多个液处理模块层叠成多层的基板处理装置中,针对各液处理模块抑制缺陷的产生。一种基板处理装置,其具备:多个液处理模块,其分别对基板进行使用了处理液的处理,多个该液处理模块层叠成多层;和供液单元,其用于向所述多个液处理模块供给所述处理液,所述供液单元与所述液处理模块相对应地具有设置有送液部的供给管路,所述送液部均具有:泵,其用于向相对应的所述液处理模块加压输送所述处理液;和过滤器,其用于过滤所述处理液,所述送液部在水平方向上与相对应的所述液处理模块相邻地配置。

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