一种柱状结构CdZnTe薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN103343389A

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201310280052.4

    申请日:2013-07-05

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明涉及一种柱状结构CdZnTe薄膜及其制备方法,本方法包括如下步骤:(a)CdZnTe单晶升华源的准备;(b)衬底预处理;(c)CdZnTe薄膜生长;(d)CdZnTe薄膜抛光、腐蚀及退火;制得的柱状结构的CdZnTe薄膜厚度为100~500mm。本发明方法相比CdZnTe单晶生长工艺简单、成本更低、可大面积制备、批量生长可行性高。本发明制备的柱状CdZnTe薄膜相比常规的CdZnTe薄膜,具有更少的晶界缺陷和更好的电阻率,电阻率最高可达6×109Ω·cm。

    一种硅基CdZnTe薄膜紫外光探测器的制备方法

    公开(公告)号:CN103500776A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201310445623.5

    申请日:2013-09-26

    Applicant: 上海大学

    CPC classification number: Y02P70/521 H01L31/1832 H01L31/1836

    Abstract: 本发明涉及一种Si基CdZnTe薄膜紫外光探测器的制备方法,属于紫外光探测器光敏材料及器件制造工艺技术领域;本发明是采用近空间升华方法,在P型Si衬底上制备N型CdZnTe薄膜,形成CdZnTe薄膜/Si异质结结构紫外光探测器,为制作高性能的紫外光探测器提供了新的方法;本发明是一种基于硅衬底的异质结CdZnTe薄膜紫外光探测器,其特点在于,采用近空间升华方法在Si片上制备高平整、颗粒尺寸均匀、质量高的CdZnTe薄膜样品,所制成的异质结型探测器具有高的灵敏度。

    一种中子探测器
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103336296A

    公开(公告)日:2013-10-02

    申请号:CN201310211429.0

    申请日:2013-05-31

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明涉及核辐射探测领域,尤其涉及一种探测慢中子和热中子的中子探测器。所述探测器具有金刚石薄膜、含硼薄膜和复合电极构成。被探测的中子经所述硼薄膜转化为带电的α粒子,所述α粒子电离所述金刚石,在所述复合电极上产生电流信号,从而实现对中子的探测。相对于已有的氦介质中子探测器,本发明可显著降低成本,并且提高探测效率。

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