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公开(公告)号:CN103531662A
公开(公告)日:2014-01-22
申请号:CN201310507778.7
申请日:2013-10-24
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18 , H01L31/0224
CPC classification number: H01L21/02008 , C30B11/00 , C30B29/46 , H01L31/022408 , H01L31/18
Abstract: 本发明涉及一种移动加热器法(THM)生长的CdZnTe晶体欧姆结构器件的制备方法,属于辐射探测器材料及其器件制造工艺技术领域,本发明是采用移动加热器法制备CdZnTe晶体,并将CdZnTe晶体进行切片、倒角、磨片、抛光和腐蚀等后期工艺,最后在CdZnTe晶体上表面采用蒸镀或溅射方法制备100~300nm厚的金电极,为制作CdZnTe晶体欧姆结构器件提供了一种新的方法,也为最后制作CdZnTe探测器奠定基础。本发明的特点在于:采用移动加热器法制备单晶率高、尺寸大、晶体缺陷少、电阻率高的CdZnTe晶体样品。晶体的尺寸一般为10mm×10mm×3mm,电阻率2×1010Ω·cm;金电极的厚度为100~300nm。
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公开(公告)号:CN103474513A
公开(公告)日:2013-12-25
申请号:CN201310443533.2
申请日:2013-09-26
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明涉及一种欧姆结构CdMnTe薄膜紫外光探测器的制备方法,属于紫外光探测器光敏材料及器件制造工艺技术领域。本发明是采用近空间升华方法制备CdMnTe薄膜,并制作CdMnTe薄膜欧姆结构紫外光探测器,为制作高性能的紫外光探测器提供了新的方法。本发明制备高平整、颗粒尺寸均匀、电阻率高的CdMnTe薄膜样品。薄膜的厚度为>200m,电阻率>109Ω·cm。
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公开(公告)号:CN103343389A
公开(公告)日:2013-10-09
申请号:CN201310280052.4
申请日:2013-07-05
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种柱状结构CdZnTe薄膜及其制备方法,本方法包括如下步骤:(a)CdZnTe单晶升华源的准备;(b)衬底预处理;(c)CdZnTe薄膜生长;(d)CdZnTe薄膜抛光、腐蚀及退火;制得的柱状结构的CdZnTe薄膜厚度为100~500mm。本发明方法相比CdZnTe单晶生长工艺简单、成本更低、可大面积制备、批量生长可行性高。本发明制备的柱状CdZnTe薄膜相比常规的CdZnTe薄膜,具有更少的晶界缺陷和更好的电阻率,电阻率最高可达6×109Ω·cm。
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公开(公告)号:CN103219423A
公开(公告)日:2013-07-24
申请号:CN201310117565.3
申请日:2013-04-07
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18 , H01L31/0216 , H01L31/108 , H01L31/0272 , H01L31/0224
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明涉及一种CdMnTe薄膜紫外光探测器的制备方法,属于无机非金属材料器件制造工艺技术领域。本发明是采用近空间升华方法制备CdMnTe薄膜,并制作CdMnTe薄膜肖特基结构紫外光探测器,为制作高性能的紫外光探测器提供了新的方法。本发明制备高平整、颗粒尺寸小、电阻率高的CdMnTe薄膜样品。薄膜的面积>2cm2,薄膜的厚度为>20mm,电阻率达1010Ω·cm;金属电极的厚度为50~300nm。
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公开(公告)号:CN103500776A
公开(公告)日:2014-01-08
申请号:CN201310445623.5
申请日:2013-09-26
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18
CPC classification number: Y02P70/521 , H01L31/1832 , H01L31/1836
Abstract: 本发明涉及一种Si基CdZnTe薄膜紫外光探测器的制备方法,属于紫外光探测器光敏材料及器件制造工艺技术领域;本发明是采用近空间升华方法,在P型Si衬底上制备N型CdZnTe薄膜,形成CdZnTe薄膜/Si异质结结构紫外光探测器,为制作高性能的紫外光探测器提供了新的方法;本发明是一种基于硅衬底的异质结CdZnTe薄膜紫外光探测器,其特点在于,采用近空间升华方法在Si片上制备高平整、颗粒尺寸均匀、质量高的CdZnTe薄膜样品,所制成的异质结型探测器具有高的灵敏度。
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公开(公告)号:CN103219422A
公开(公告)日:2013-07-24
申请号:CN201310117393.X
申请日:2013-04-07
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明涉及一种欧姆结构CdZnTe薄膜紫外光探测器的制备方法,属于无机非金属材料器件制造工艺技术领域。本发明是采用近空间升华方法制备CdZnTe薄膜,并制作CdZnTe薄膜欧姆结构紫外光探测器,为制作高性能的紫外光探测器提供了新的方法。本发明制备高平整、颗粒尺寸均匀、电阻率高的CdZnTe薄膜样品。薄膜的厚度为>300m,电阻率>109Ωcm。
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