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公开(公告)号:CN103500776A
公开(公告)日:2014-01-08
申请号:CN201310445623.5
申请日:2013-09-26
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18
CPC classification number: Y02P70/521 , H01L31/1832 , H01L31/1836
Abstract: 本发明涉及一种Si基CdZnTe薄膜紫外光探测器的制备方法,属于紫外光探测器光敏材料及器件制造工艺技术领域;本发明是采用近空间升华方法,在P型Si衬底上制备N型CdZnTe薄膜,形成CdZnTe薄膜/Si异质结结构紫外光探测器,为制作高性能的紫外光探测器提供了新的方法;本发明是一种基于硅衬底的异质结CdZnTe薄膜紫外光探测器,其特点在于,采用近空间升华方法在Si片上制备高平整、颗粒尺寸均匀、质量高的CdZnTe薄膜样品,所制成的异质结型探测器具有高的灵敏度。