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公开(公告)号：CN116387277A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202211684277.1
申请日：2022-12-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/498 , H01R13/502 , H01R13/24 , H01R13/40 , G01R31/69 , H01L23/14 , H01L23/544
Abstract: 本发明提供一种用于半导体模块的模块基板、一种半导体模块和一种用于半导体基板的测试插座，其中该模块基板包括：布线基板，具有上表面和与上表面相对的下表面，其中布线基板包括电路布线和在厚度方向上从上表面延伸到下表面的多个通孔；分别提供在通孔上并电连接到电路布线的多个测试端子；以及提供在布线基板上并覆盖通孔的紧固薄膜，其中紧固薄膜具有预定厚度，使得当接口检查针从上表面穿过通孔插入紧固薄膜的一部分中时，紧固薄膜的该部分被穿透，并且已被穿透的紧固薄膜的该部分保持正穿过的接口检查针。
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公开(公告)号：CN114390768A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111124136.X
申请日：2021-09-24
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 可以提供一种模块基板和包括该模块基板的半导体模块。所述模块基板包括布线基板和通槽测试端子，所述布线基板具有彼此相对的上表面和下表面并且包括形成在其中的布线，所述布线基板具有位于至少一个侧壁中并且在厚度方向上延伸的至少一个通槽，所述通槽测试端子包括至少一个接触焊盘，所述接触焊盘的表面从所述通槽的内壁暴露，所述接触焊盘与从所述布线基板的所述侧壁延伸的竖直平面间隔开。
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公开(公告)号：CN115206410A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210038725.4
申请日：2022-01-13
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了一种存储设备，其包括：第一非易失性存储器件，其存储用户数据；第二非易失性存储器件，其存储用于故障分析的状态信息；电压检测电路，所述电压检测电路检测在所述存储设备处通过连接器接收的输入电压是否超过参考电压，以及当所述输入电压超过所述参考电压时，输出过电压检测信号；状态显示设备，所述状态显示设备响应于警报信号而显示所述输入电压的状态；以及存储控制器，所述存储控制器将所述用户数据存储在所述第一非易失性存储器件中或从所述第一非易失性存储器件读取所述用户数据，响应于所述过电压检测信号，向所述状态显示设备输出所述警报信号，以及将所述状态信息存储在所述第二非易失性存储器件中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109493911A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811022123.X
申请日：2018-09-03
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F11/006 , G06F3/0653 , G06F11/073 , G06F11/0772 , G06F11/0787 , G11C29/44 , G11C29/82
Abstract: 一种用于控制非易失性存储器件的存储器控制器的操作方法包括：从非易失性存储器件接收关于操作失败的信息，从非易失性存储器件接收锁出状态信息，基于锁出状态信息确定是否输出了锁出信号，以及根据确定结果将与关于操作失败的信息相对应的失败块确定为正常块或坏块。
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公开(公告)号：CN115877040A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202210927031.6
申请日：2022-08-03
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R1/04
Abstract: 提供了用于对电子设备执行测试的测试插座。该测试插座包括：第一主体，所述第一主体包括被配置为容纳具有多个测试端子的样本的固定部分；第二主体，面向所述第一主体并且与所述第一主体耦接，使得所述第二主体能够围绕铰链销相对于所述第一主体旋转；测试板，所述测试版设置在所述第二主体上并且被配置为测试所述样本，其中，所述测试板中设置有多个第一开口；和穿过所述第一开口的多个接口引脚，其中，所述多个接口引脚中的每一个接口引脚包括接触引脚和弹簧，其中，所述接触引脚设置在所述多个接口引脚中的每一个接口引脚的第一端部中，并且被配置为与所述多个测试端子中的一个测试端子接触，并且所述弹簧弹性地支撑所述接触引脚。
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公开(公告)号：CN111352582A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201911318044.8
申请日：2019-12-19
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种存储设备，包括：电力管理集成电路芯片；多个非易失性存储器，被配置为从电力管理集成电路芯片接收电力；以及控制器，被配置为控制非易失性存储器，其中，控制器在非易失性存储器的读取操作和写入操作期间检查电力的状态，并且当在非易失性存储器中的至少一个中检测到电力故障时，关于所有非易失性存储器上的读取操作和写入操作实施电力故障检测模式。
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公开(公告)号：CN1691322A
公开(公告)日：2005-11-02
申请号：CN200510076264.6
申请日：2005-04-21
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/525 , H01L21/768
CPC classification number: H01L23/5258 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 公开了一种熔丝区域及其制造方法。熔丝区域可以包括在衬底上形成的层间绝缘层，排列在层间绝缘层上的多个熔丝，以及位于熔丝之间的熔丝隔离壁，其中每一个熔丝隔离壁都可以包括下和上熔丝隔离图案。
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公开(公告)号：CN119339750A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202410777044.9
申请日：2024-06-17
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了多连接器夹具和包括多连接器夹具的存储装置测试系统。所述多连接器夹具包括：第一表面，包括：第一线缆连接器凹槽，被配置为容纳第一线缆连接器，第一线缆连接器凹槽具有第一线缆连接器凹槽深度，并且第一线缆连接器具有第一深度；以及第二表面，与第一表面背对并且包括：第二线缆连接器凹槽，被配置为容纳第二线缆连接器，第二线缆连接器凹槽具有第二线缆连接器凹槽深度，并且第二线缆连接器具有第二深度，其中，第一线缆连接器凹槽深度与第二线缆连接器凹槽深度之间的差等于第一深度与第二深度之间的差。
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