公开(公告)号：CN119339750A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202410777044.9

申请日：2024-06-17

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 俞尚根 ,  方光奎

IPC: G11B33/12 ,  G11C29/56

Abstract: 提供了多连接器夹具和包括多连接器夹具的存储装置测试系统。所述多连接器夹具包括：第一表面，包括：第一线缆连接器凹槽，被配置为容纳第一线缆连接器，第一线缆连接器凹槽具有第一线缆连接器凹槽深度，并且第一线缆连接器具有第一深度；以及第二表面，与第一表面背对并且包括：第二线缆连接器凹槽，被配置为容纳第二线缆连接器，第二线缆连接器凹槽具有第二线缆连接器凹槽深度，并且第二线缆连接器具有第二深度，其中，第一线缆连接器凹槽深度与第二线缆连接器凹槽深度之间的差等于第一深度与第二深度之间的差。

公开(公告)号：CN115856566A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202210868110.4

申请日：2022-07-22

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张伦 ,  俞尚根 ,  方光奎 ,  尹吉重 ,  崔松礼 ,  崔载奎

IPC: G01R31/28 ,  G11C29/56

Abstract: 一种用于存储装置的测试模块包括：板；设置在所述板上的测试板，所述测试板包括接收部分，待测试的存储装置将插入到所述接收部分中；传感器，具有设置在所述接收部分的内表面上的多个开关，所述多个开关可操作为由于所述存储装置被插入到所述接收部分中而接通；以及多个柱塞，设置在所述内表面上以接触并支撑所述存储装置。