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公开(公告)号：CN103729655B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201410028467.7
申请日：2014-01-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种用于片式元件视觉定位的检测方法。本发明涉及片式元件的视觉定位检测领域。本发明是为了解决传统片式元件检测方法检测精度和鲁棒性差，对吸嘴吸取元件的精度要求高。本发明主要技术为采用光学照明系统获取元件图像，进行阀值分割得到二值化预处理后的图像，找到元件的等效椭圆对元件定位并得到元件旋转角度，标记连通区域，对元件的边缘点拟合分类，计算元件的中心坐标和旋转角度。本发明用于片式元件的视觉定位检测。
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公开(公告)号：CN106341956A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201610873046.3
申请日：2016-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: H05K3/303 , H05K13/08 , H05K2203/166
Abstract: 本发明公开了一种固定相机校正方法，涉及机器视觉定位检测领域，属于贴片机高精度校正的过程。本发明主要解决现有贴片机固定相机在机械安装时，相机位置、刻度以及旋转角度在设备坐标系中无法准确测量的问题。本发明利用标定吸嘴头确定贴片头在固定相机中的位置关系，计算推导出两个坐标系之间的转换关系；通过圆心的位置坐标来计算固定相机的刻度；通过贴片头的位置坐标和贴片头的值坐标来计算固定相机在设备坐标系中的旋转角度。通过校正固定相机的坐标、旋转角度和刻度，补偿人工安装给检测过程带来的偏差，提高贴片机对标定点检测定位时的精度，改善贴片机的贴装效果。本发明适用于机器视觉的精度校正领域。
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公开(公告)号：CN105184770A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201510474957.4
申请日：2015-08-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/10004 , G06T2207/30141 , G06T2207/30152
Abstract: 一种用于球栅阵列引脚芯片的焊球定位及其参数识别方法，涉及一种芯片的视觉识别方法。为了解决现有方法存在鲁棒性差，芯片焊球识别精度低的问题。对原芯片图像处理后得二值焊球图像并对每个二值化焊球连通域标记；对连通域标记后的每个二值化焊球在原始图像上对应邻域范围内灰度连通域提取并建立灰度信息列表；建立背景图像并局部分析；边界直线拟合求解芯片的偏转角度和中心位置；确定每行每列等效焊球的直线方程，等效焊球搜索得到每行等效焊球集合和每列等效焊球集合，求解出焊球相关尺寸；直线拟合后将所有相邻行拟合直线间距作为焊球标准行间距，将相邻列拟合直线间距作为焊球标准列间距。对于具有500个焊球引脚规模的芯片识别与定位时间小于200ms。
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公开(公告)号：CN105046271A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510358082.1
申请日：2015-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G06K9/6201 , G06T2207/30108
Abstract: 基于模板匹配的MELF元件定位与检测方法，属于元件定位与检测领域。传统模板匹配算法对带旋转角度的元件进行检测时存在计算量大、执行速度慢，导致元件定位与检测速度慢问题。一种基于模板匹配的MELF元件定位与检测方法，通过建立带有角度的模板图像、得到缩小后的元件图像、获得缩小后的元件图像的距离变换图像和原始元件图像的距离变换图像、获取最终最佳匹配模板图像和最佳匹配位置、在带干扰点的边缘图像中提取关键边缘点并形成最小外接矩形、根据最小外接矩形设置偏置量后内部非零像素的个数的过程，得出元件位置正确且元件的长度和宽度在容差范围内，结束定位与检测过程并输出元件位置信息。本发明能减少模板匹配计算搜索位置的个数和匹配计算量，提高模板匹配计算效率且定位与检测正确率达95-98％。
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公开(公告)号：CN105005997A
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201510474956.X
申请日：2015-08-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00
Abstract: 一种基于行列直线聚类的多类型BGA芯片视觉识别方法，本发明涉及BGA芯片视觉识别方法。本发明是要解决现有技术对于焊球排布稀疏的BGA芯片鲁棒性较差、采用单阈值二值化图像来提取焊球导致欠分割、过分割以及算法时间复杂度高的问题；本发明是通过1对原始图像进行动态阈值分割、形态学以及连通域标记处理；2建立完整灰度BGA焊球信息列表；3构成等效BGA阵列；4局部分析确定等效BGA阵列粗略偏转角度；5得到每行、每列等效BGA焊球蔟以及边界等效BGA焊球蔟；6求解原始图像中BGA芯片的偏转角度和中心位置；7对BGA焊球蔟进行直线拟合；8求解标准芯片参数等步骤实现的。本发明应用于BGA芯片视觉识别领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104933720A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510357923.7
申请日：2015-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30141
Abstract: 一种基于视觉的SOP元件定位和缺陷检测方法，本发明涉及表面组装技术视觉系统中SOP元件的视觉定位与视觉缺陷检测，本发明是要解决SOP元件在贴片机贴装时出现的精度不够，对外界环境变化敏感的问题，而提出的一种基于视觉的SOP元件定位和缺陷检测方法；该方法按照检查所选区域图像是否符合亮度要求；将所选区域图像进行二值化，得到二值化图像采用canny边缘检测提取法提取第二步得到的二值化图像的外边界轮廓，得到二值化图像的各个外边界点集；由以上得到的数据进行SOP元件引脚缺陷检测等步骤实现的。本发明应用于贴片机视觉领域。
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公开(公告)号：CN104918479A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201510358057.3
申请日：2015-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H05K13/08
Abstract: 一种校正贴片机的飞行相机和固定相机的偏移量方法，本发明涉及飞行相机和固定相机的偏移量方法。本发明是要解决飞行相机检测高度和贴装平面高度不同，直接应用飞行相机检测结果进行贴装会引入一系列误差，而提出的一种校正贴片机的飞行相机和固定相机的偏移量方法。该方法是通过1、初始化操作；2、得到标定吸嘴头1号点在飞行相机中的8个位置飞行相机坐标；3、得到标定吸嘴头1号点在固定相机中的8个位置固定相机坐标；4、得到飞行相机坐标系和固定相机坐标系的平均值；5、得到1号飞行相机与固定相机的偏移量：6、得到1～6号飞行相机与固定相机的偏移量等步骤实现的。本发明应用于飞行相机和固定相机的偏移量领域。
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公开(公告)号：CN117741677B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202311761113.9
申请日：2023-12-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01S17/08
Abstract: 本发明属于高精度激光测距技术领域，公开了一种基于光梳齿间自干涉信号二次混频的测距装置和方法，双光梳光源发出的双光梳激光进入光梳齿间自干涉信号探测光路，从而获取到调制了待测距离信息的光梳齿间自干涉信号；光梳齿间自干涉信号经过光梳齿间自干涉信号探测光路进入到光梳齿间自干涉二次混频信号生成、采集与计算模块，并生成光梳齿间自干涉二次混频信号，实现信号采集并计算得到测距结果；本发明实现了不同尺度下的粗、精测量，结合同步生成的中间过渡级测尺和级间过渡方法，可有效兼顾测距范围和精度，测量实时性强，光源成本低且系统规模较小。
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公开(公告)号：CN117741678A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311761337.X
申请日：2023-12-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01S17/08
Abstract: 本发明属于高精度激光测距技术领域，公开了一种基于集成双光梳光源的齿间自干涉测距装置和方法，包括集成双光梳光源、集成双光梳齿间自干涉信号探测、采集与计算模块；集成双光梳光源发出的激光进入集成双光梳齿间自干涉信号探测、采集与计算模块，获取到调制了距离信息的光梳齿间自干涉信号和双光梳齿间自干涉信号，并进行采集和计算得到测距结果；本发明光源成本低且系统规模较小，不依赖于价格昂贵、体积庞大的两套全稳频光梳光源；兼顾数百米至数公里的测距范围和十微米甚至微米级的测距精度；测量实时性强。
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公开(公告)号：CN117741677A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311761113.9
申请日：2023-12-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01S17/08
Abstract: 本发明属于高精度激光测距技术领域，公开了一种基于光梳齿间自干涉信号二次混频的测距装置和方法，双光梳光源发出的双光梳激光进入光梳齿间自干涉信号探测光路，从而获取到调制了待测距离信息的光梳齿间自干涉信号；光梳齿间自干涉信号经过光梳齿间自干涉信号探测光路进入到光梳齿间自干涉二次混频信号生成、采集与计算模块，并生成光梳齿间自干涉二次混频信号，实现信号采集并计算得到测距结果；本发明实现了不同尺度下的粗、精测量，结合同步生成的中间过渡级测尺和级间过渡方法，可有效兼顾测距范围和精度，测量实时性强，光源成本低且系统规模较小。
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