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公开(公告)号：CN100580491C
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200810136912.6
申请日：2008-08-13
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种毛细管光纤光镊及其制作方法。在具有环形芯层的中空毛细管光纤的一端加工有使得出射光形成环形锥体交叉光场的锥体，在具有环形芯层的中空毛细管光纤的中部一侧开有一个小孔，并且该小孔与一个气压调整装置相连接，在具有环形芯层的中空毛细管光纤的另一端焊接有一段标准实心光纤，标准实心光纤与具有环形芯层的中空毛细管光纤通过将焊接处拉制而成的锥体过渡区连成一体。本发明的毛细管光纤光镊中，毛细管为微小粒子提供了一个存储场所，一方面所俘获的微小粒子可以通过毛细管内的微负压吸附作用而存储在毛细管内；另一方面微小粒子也可以通过微正压提供给纤端光镊，完成对大量微小粒子实施连续组装的操纵。
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公开(公告)号：CN100541114C
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200710072553.8
申请日：2007-07-24
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种双曲面反射镜的多维全场光学校验装置。它包括准直光源、分束镜、参考臂光路、测量光路和接收装置；准直光源发出的准直光束射入分束镜，分束镜将准直光束分成两部分，反射部分经反射镜II反射后再透过分束镜作为参考光；透射部分经汇聚透镜汇聚到被测双曲面镜的部分镜面上，汇聚光线延长线相交于被测双曲面镜的一个焦点上，经被测双曲面镜反射后，汇聚到一个标准球面反射镜上，光线的延长线汇聚于球面反射镜的球心，经球面反射镜反射后，沿原路返回，再经过被测双曲面镜和汇聚透镜和半反射镜反射，作为测试光；参考光和汇聚光汇集到接收装置。本发明的装置能够对不同尺度、高反射率的双曲面反射镜表面形貌及反射率参数进行测量。
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公开(公告)号：CN101363940A
公开(公告)日：2009-02-11
申请号：CN200810137257.6
申请日：2008-10-07
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G02B6/02 , C03B37/012
Abstract: 本发明提供的是一种具有环形波导层的毛细管光纤及其制作方法。包括高纯石英基管，在高纯石英基管的至少一侧有光波导层，在高纯石英基管与光波导层之间有阻挡层，中间有中心空气孔，光波导层沉积在阻挡层的表面，其中阻挡层的折射率略小于高纯石英基管的折射率，波导层的折射率大于高纯石英基管折射率，阻挡层是由掺杂F和P离子的透明合成石英材料构成，波导层由掺杂Ge离子的透明合成石英材料构成。本发明拓宽了毛细管光纤的种类，特别对具有波导层结构的毛细管光纤制备方法而言，大大提高了光纤的制备效率。
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公开(公告)号：CN101144172A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200710072545.3
申请日：2007-07-20
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供了一种高耐腐蚀性的纳米孪晶镍镀层及其制备技术。利用脉冲电解沉积技术制备的纳米孪晶镍镀层，其微观结构由近于等轴的亚微米200nm到800nm晶粒组成。在晶粒内部存在高密度的不同取向的孪晶片层结构，取向相同的孪晶片层之间相互平行，孪晶片层的厚度主要分布在10nm到30nm范围，其长度为100～400nm。本发明防腐蚀性能优异，在pH为8.4的0.1M H3PO3+0.025M Na2B4O7溶液中，自腐蚀电位为－345mVSCE，自腐蚀电流密度为0.61μA/cm2，阴极塔菲尔斜率为0.2V/decade，维钝电流密度为7.9× 10－7A/cm2，击破电位820mVSCE。
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公开(公告)号：CN116226714A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310201375.3
申请日：2023-01-16
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G06F18/24 , G06F18/10 , G06F18/214 , G06N3/096 , G06N3/084 , G06N3/0464
Abstract: 本发明公开了一种基于迁移学习的系外行星光变信号分类方法，获取两个使用凌星法探测系外行星的望远镜的光变信号，分别作为预训练模型使用数据集1和目标模型使用数据集2；对获取到的数据进行预处理；分别将两个数据集数据分为训练集和测试集；用数据集1构建卷积神经网络模型进行训练，建立最优的时间序列数据分类模型进行时间序列分类；保存预训练模型；使用数据集2调整模型，得到适用于数据集2的模型。本发明避免了小样本的情况下模型无法学习的局限，加速数据智能的系外行星探测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116049724A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202310201369.8
申请日：2023-01-16
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G06F18/24 , G06F18/10 , G06F18/213 , G06F18/2413 , G06N3/08 , G06F18/25 , G06F18/214 , G06N20/20 , G06N3/0464
Abstract: 本发明公开了一种基于数据增强和集成学习的系外行星光变信号分类方法，包括拼接同一目标不同观测季度光变信号数据，对数据进行预处理；对数据重采样到定长；将重采样后的数据集划分为训练集，测试集和验证集；分别采用过采样和欠采样对训练集进行数据增强，得到子训练集1和子训练集2；针对两个训练集分别搭建一维CNN网络模型，通过调整隐藏层层数、神经元个数、激活函数和模型优化器，优化网络；分别采用N折交叉验证获得最佳分类模型作为基分类器1和基分类器2；采用加权投票法组合基分类器得到光变信号分类器，根据信号分类器得到分类结果。本发明解决系外行星光变信号类别不平衡问题，使模型能够获得更多特征来提高泛化能力。
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公开(公告)号：CN112050800B
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202010840386.2
申请日：2020-08-19
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C21/00 , G01R33/02 , G01R33/022
Abstract: 本发明公开了一种基于日字型三轴磁强计对称配置平面阵列的磁梯度张量定位方法，属于磁性目标反演技术领域。按特定构型配置六只三轴磁强计，使相关的三轴磁强计敏感轴关于点O、O1和O2对称，构成对称配置平面阵列；使用多通道数采系统同步采集六只三轴磁强计的测量输出将变换到解算坐标系，得到计算对称点O，O1和O2处磁梯度张量独立分量值，构造对应的磁梯度张量矩阵由计算出磁偶极子与对称点O，O1和O2之间的距离均值；计算磁偶极子的位置坐标值x；由坐标利用二分法计算一元二次方程；舍弃复根，求取剩余实根对应的差值集，依据差值最小原则挑选方程正确解，得到磁偶极子的位置坐标y和z。本方法计算量较小，能实现快速定位。
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公开(公告)号：CN112050799A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202010837023.3
申请日：2020-08-19
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C21/00 , G01R33/022 , G01R33/02
Abstract: 本发明公开了一种基于磁梯度张量缩并量之比的测距定位方法，属于磁探测与定位技术领域。所述定位方法包括以下步骤：将十个同类型三轴磁强计构成三轴磁强计平面阵列并将它们的各个敏感轴相互对齐；采集平面阵列的十个三轴磁强计输出；计算阵列四个面心处的磁性体磁梯度张量的独立分量值；由每两面心与磁性体之间的距离值的平方比为固定数值构成关于磁性体位置坐标的线性方程组，计算方程组得出磁性体位置坐标值。本发明相比于三轴磁强计阵列的空间立体结构，平面结构易于多个三轴磁强计组阵，特别是对于芯片化的微型三轴磁强计更具优势，也减少了阵列的安放空间。
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公开(公告)号：CN106980152B
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201710258268.9
申请日：2017-04-19
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种嵌入式铌酸锂或钽酸锂单晶芯光纤的制备方法及单晶芯光纤。本发明单晶芯光纤由低折射率的二氧化硅石英玻璃包层和高折射率的铌酸锂或钽酸锂单晶芯组成。本发明是采用将铌酸锂或钽酸锂单晶圆柱棒或多晶圆柱棒嵌入到低软化温度点的高纯厚壁石英管中，通过加热拉伸、堆积组棒、光纤拉制及纤芯单晶化等步骤来制备石英包层铌酸锂或钽酸锂单晶芯光纤。通过将光纤拉制与晶体生长相结合，本发明克服了一般单晶光纤生长方法所制备的晶纤长度较短，且光纤形貌存在诸多缺陷及与光通信系统中的标准单模光纤不能兼容的缺点。且用该方法生长出的单晶光纤具有丝径、长度可控等优点，可用于微小型及在线光子调控的相位调制器等。
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公开(公告)号：CN109408385B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201811209067.0
申请日：2018-10-17
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提出了一种基于缺陷规则和分类反馈的缺陷发现方法，包括以下步骤：步骤一、利用静态数据分析工具提取分析过程下源代码中的数据信息；步骤二、用静态分析工具进行代码分析树的构造过程，并且通过设置的语法规则来构造代码分析树的每个节点；利用代码分析树描述源代码的逻辑结构，采用4C模型检索出源代码中数据的缺陷；步骤三、利用Taxonomy分类方法对缺陷进行分类；步骤四、开发人员对分类后的缺陷进行正误判断并进行反馈。所述方法可以提高缺陷发现的准确度，开发人员以及测试人员可以较容易地发现这些软件缺陷。
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