半导体器件及其制作方法
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115472499A

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202211143850.8

    申请日:2022-09-20

    Inventor: 张连 张韵 王欣远

    Abstract: 本发明公开了一种半导体器件的制作方法,包括:在衬底上形成基本功能层;在基本功能层上形成导电掩膜层;刻蚀导电掩膜层,以在导电掩膜层上形成向下凹陷的窗口;在导电掩膜层和窗口上形成绝缘介质层;刻蚀绝缘介质层,以在窗口内形成侧墙,侧墙位于导电掩膜层的侧壁;在侧墙之间形成载流子提供层;在窗口的外围刻蚀导电掩膜层、基本功能层,以形成向下凹陷的台面;以及在台面、导电掩膜层、载流子提供层和侧墙上形成钝化层。本发明还公开了一种利用上述的制作方法得到的半导体器件,该半导体器件为双极型晶体管或者pin结二极管。

    在侧向外延薄膜上自对准形成图形及制备外延材料的方法

    公开(公告)号:CN109920727B

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN201910192567.6

    申请日:2019-03-13

    Inventor: 张韵 倪茹雪

    Abstract: 本公开提供一种在侧向外延薄膜上自对准形成图形及制备外延材料的方法,包括:S1:制备图形化衬底;S2:在图形化衬底上通过侧向外延合并生长的方式,制备表面合并的侧向外延薄膜;S3:通过在步骤S1所制备的图形化衬底背面进行曝光处理使得在步骤S2所制备的侧向外延薄膜上自对准形成图形并制备自对准图形化光刻胶;进一步的可继续后续步骤制备外延材料,S4:以步骤S3所制备的自对准图形化光刻胶为掩膜对侧向外延薄膜进行加工;以及S5:清除自对准图形化光刻胶掩膜,完成外延材料的制备。

    兰姆波谐振器及其制备方法

    公开(公告)号:CN109560784A

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201710893347.7

    申请日:2017-09-27

    Abstract: 一种兰姆波谐振器及其制备方法,其中兰姆波谐振器包括自下而上的衬底、底电极层、单晶氮化物薄膜层及叉指电极,其中:在底电极层与单晶氮化物薄膜层之间还具有AlN成核层;衬底在正对底电极层的区域具有一凹槽,以使部分/全部的底电极层处于悬空状态;叉指电极位于底电极层的正上方。因此,本发明由于在底电极层与单晶氮化物薄膜层之间形成有覆盖底电极层的AlN成核层,一方面消除了底电极层在高温形成单晶氮化物薄膜层的过程中,表面变粗糙和极易与氨气发生反应的问题,另一方面为后续其他材料层的高温生长提供了理想的模板,因此为研制单晶氮化物基兰姆波谐振器奠定了基础。

    声表面波谐振器、滤波器及其制备方法

    公开(公告)号:CN107634734A

    公开(公告)日:2018-01-26

    申请号:CN201710893349.6

    申请日:2017-09-27

    Abstract: 声表面波谐振器、滤波器及其制备方法,其中声表面波谐振器自下而上包括:衬底层、叉指电极及单晶氮化物薄膜层,还包括介于叉指电极和单晶氮化物薄膜层之间的AlN成核层;该AlN成核层覆盖于叉指电极的上表面、侧面及叉指电极中各电极单元之间的间隔区域,该AlN成核层的边缘与衬底层的边缘平齐;单晶氮化物薄膜层的上表面与水平面平行。因此,本发明的谐振器结构,在叉指电极与单晶氮化物薄膜层之间形成有覆盖叉指电极的AlN成核层,一方面消除了叉指电极在高温形成单晶氮化物薄膜层的过程中,表面变粗糙和极易与氨气发生反应的问题;另一方面为后续其他材料层的高温生长提供了理想的模板,因此为研制单晶氮化物声表面波谐振器及滤波器奠定了基础。

    紫外发光二极管器件的制备方法

    公开(公告)号:CN103943737B

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201410181967.4

    申请日:2014-04-30

    Abstract: 本发明提供了一种紫外发光二极管器件的制备方法。该紫外发光二极管器件的制备方法通过AlGaN电子阻挡层205和p型AlGaN层206的总厚度小于该电极层最底层金属层的金属材料的等离激元耦合距离的方式有效精确控制有源区到金属等离激元的距离,消除了工艺工程中对有源区造成损伤的风险,提高了紫外发光二极管器件发光效率。

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