公开(公告)号：CN112948172B

公开(公告)日：2023-01-20

申请号：CN202110135370.6

申请日：2021-02-01

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 高景阳

IPC: G06F11/14 ,  G06F11/20 ,  G06F12/1009

Abstract: 本发明公开一种基于具有页原子性FLASH芯片的镜像保护方法和数据结构，通过芯片的页原子性以及软件基于cache的镜像保护方法，确保擦写FLASH遇到断电时，能够使得镜像保护的数据具有原子性，同时提升镜像保护的性能。本发明提供的方法为：基于cache的FLASH擦写，利用cache缓存目标地址页的数据和事务log数据，当cache不足或事务提交时，对目标地址的原始数据进行备份，将更新的数据写入目标地址。

公开(公告)号：CN109784099B

公开(公告)日：2023-01-10

申请号：CN201811549450.0

申请日：2018-12-18

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 ,  北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 柴佳晶 ,  刘戬

IPC: G06F21/73

Abstract: 本发明公开了一种新型强物理不可克隆函数，并给出了采用该方法的一个新型强物理不可克隆函数的实现实例。新型强物理不可克隆函数的特征在于建立各个芯片中独特的查找表，而查找表是基于多个物理单元的特征结果排序产生。新型强物理不可克隆函数如下：采集芯片中多个物理单元的特征结果，根据物理单元特征结果的排序产生若干个查找表，基于这些查找表产生各个芯片中独特的PUF运算单元，PUF的挑战经过PUF运算单元得到PUF响应。基于PUF查找表的物理不可克隆函数能够大幅提升挑战响应空间，使得基于这种结构的物理不可克隆函数适用于密钥生成、身份识别等各类应用。

公开(公告)号：CN115389907A

公开(公告)日：2022-11-25

申请号：CN202210992600.5

申请日：2022-08-18

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 陈汶永 ,  王哲 ,  董攀 ,  王西国

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明介绍一种基于交叉点开关的多接口同测装置，涉及测试领域。本发明的多接口同测装置，包括USB HUB模块、MCU通讯模块、交叉点开关模块和双向电平转换模块。其中，USB HUB模块与MCU模块相连，实现上位机与MCU模块的通讯。MCU模块与交叉点开关模块的配合使用，使MCU的多个通讯接口有选择的输出其中一个连接到电平转换模块。本发明提出的基于交叉点开关的多接口同测装置，可在一个数据通道上分时复用实现多种接口通讯，并且数据通道中信号的顺序可以任意调整。本发明提出的同测装置可用于测试大批量芯片的多种接口通讯功能及稳定性。

公开(公告)号：CN110635900B

公开(公告)日：2022-05-20

申请号：CN201910851738.1

申请日：2019-09-10

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 黄钰

IPC: H04L9/08 ,  H04L9/32 ,  H04L9/40

Abstract: 本发明公开了一种适用于物联网系统的密钥管理方法和系统，其方法包括：使用随机数方式生成根密钥分量；使用至少两个根密钥分量生成根密钥；使用业务代码合成业务主密钥；使用业务主密钥生成适用于物联网应用的根证书；使用业务主密钥生成适用于物联网应用的子证书；该系统主要包括随机密钥生成子系统、证书生成子系统、用户管理子系统，可以完成根密钥分量生成、根密钥和业务主密钥生成、适用于物联网应用的根证书和子证书生成以及将证书写入物联网设备等功能，方便物联网设备和后台、物联网设备和物联网设备之间进行身份识别以及双向认证等。

公开(公告)号：CN114355151A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202111395035.6

申请日：2021-11-23

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 姜京哲 ,  赵来钖 ,  张楠

IPC: G01R31/28 ,  G06F30/20

Abstract: 本发明公开了一种半导体芯片双温trim测试方法，使芯片在常温下完成第一次trim后，将中间测试结果存储到flash中供高温trim使用，之后切换到高温下再完成第二次trim，使芯片在常温/高温下的表现都能达到预期。

公开(公告)号：CN114172632A

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN202110949456.2

申请日：2021-08-18

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 何迪 ,  杨念东

IPC: H04L9/06

Abstract: 本发明提出一种提高AES加解密效率的方法和装置，该方法打破原先每轮加解密所需要执行的四个子流程，采用错轮次流程合并的方式，使所有行操作连续执行并形成一个整体，使所有列操作连续执行并形成一个整体，以更加简洁的电路设计合并实现所有行以及列运算流程，以加快算法的运行时间，并减少了硬件电路的规模。同时对算法中所有操作数据在执行方法上进行转置，以去掉原始算法中对数据处理前和处理后的两次转置行为，进一步提升速度和减少硬件电路规模。本发明主要解决依照算法原理实现时效率不够高的问题。

公开(公告)号：CN114157284A

公开(公告)日：2022-03-08

申请号：CN202111392690.6

申请日：2021-11-23

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 史立轺 ,  王小曼 ,  陈艳 ,  张昱桐

IPC: H03K19/0185 ,  H03K19/003

Abstract: 本发明公开了一种电平转换电路，适用于电路中的低压信号转换为高压信号，该电路可以在实现电平转换的同时，电平由低至高和由高至低的转换阈值不同，从而克服来自外界的干扰。此功能可以作为配置位进行选择，需要此功能时打开配置位，不需要此功能时关闭，电平转换电路可以工作在传统模式。

公开(公告)号：CN114090438A

公开(公告)日：2022-02-25

申请号：CN202111349295.X

申请日：2021-11-15

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 仲倩黎

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公开一种从端软件自动化测试方法，适用于包含主从两端的从端自动化测试。该方法包括：构建从端功能逻辑库；在测试执行过程中，构建测试条件，并将测试条件传递给功能逻辑库，获取功能逻辑库输出的结果，将此结果作为输出正确性的判定依据；使用相同的测试条件，发送给测试对象，获取输出结果，判定正确性。通过上述方式，该软件测试方法实现了，从端软件的自动化测试，测试用例编写过程的复杂程度降低，从而缩短了开发周期。

公开(公告)号：CN114076883A

公开(公告)日：2022-02-22

申请号：CN202111327774.1

申请日：2021-11-10

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 王辉 ,  李建波 ,  赵来钖

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请公开了一种老化电路、芯片老化测试方法及芯片。该老化电路包括：随机数发生模块，根据模式信号生成老化图形；以及扫描链模块，至少根据模式信号将老化图形发送至待测电路，其中，随机数发生模块在接收到有效状态的模式信号之后，生成随机数，并根据随机数生成随机的老化图形。该老化电路降低了老化板硬件开发成本，并且提供了随机的老化图形，使得所有的图形组合都有机会被施加到待测电路，即待测电路中的所有逻辑结构都有机会被图形遍历到，保证了老化测试覆盖率。

公开(公告)号：CN114019938A

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN202111201694.1

申请日：2021-10-15

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 ,  北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 陈宣成 ,  宗磊 ,  戴昭君 ,  崔丽华 ,  张翰文

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。