Patent search ap:("上海华虹集成电路有限责任公司" OR "北京中电华大电子设计有限责任公司") AND inv:"张翰文" Page 1

1.

发明公开
一种微控制器芯片通信类接口测试系统及其方法审中-实审

公开(公告)号：CN114019938A

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN202111201694.1

申请日：2021-10-15

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 陈宣成 , 宗磊 , 戴昭君 , 崔丽华 , 张翰文

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。

Patent Agency Ranking