公开(公告)号：CN114019938A

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN202111201694.1

申请日：2021-10-15

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 ,  北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 陈宣成 ,  宗磊 ,  戴昭君 ,  崔丽华 ,  张翰文

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。

公开(公告)号：CN119758029A

公开(公告)日：2025-04-04

申请号：CN202411835925.8

申请日：2024-12-13

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司

Inventor： 陈宣成 ,  解宁浦 ,  崔丽华

IPC: G01R31/28 ,  G01N3/12

Abstract: 本发明公开了一种芯片自动化压力测试方法及系统，所述芯片自动化压力测试方法包括：S1，将压力测试程序按不同功能模块划分为不同的编译目标；S2，压力测试脚本调用编译目标调用测试用例，将测试脚本发送至被测单元执行配置及测试，实时判断测试执行情况；S3，压力测试脚本在测试过程中通过辅助设备产生测试激励或者判断测试结果；若压力测试项无需借助测试辅助设备进行产生测试激励或者判定测试结果则执行步骤S4；若未达到压力测试时间则循环执行步骤S2和步骤S3；S4，压力测试通过保存测试LOG生成测试报告。本发明能降低测试环境偶发性干扰因素造成测试流程中断带来的损失，能够快速复现异常现场定位芯片设计缺陷，提升芯片压力测试效率。

公开(公告)号：CN112363436A

公开(公告)日：2021-02-12

申请号：CN202011385590.6

申请日：2020-12-01

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司

Inventor： 陈宣成 ,  张修远 ,  崔丽华 ,  林秋

IPC: G05B19/042

Abstract: 本发明公开了一体式测试终端设备及其控制方法。随着技术的日益发展，市面上使用支持可编程仪器命令的仪器设备越来越多，同时为后期提高效率减少人力与时间成本投入，提高仪器测试的自动化程度的需求也日益增加。由于自动化测试需要搭建测试环境，并根据测试场景的需求对支持可编程的仪器进行二次开发，前期需投入大量的时间和人力成本。本发明主要解决上述诉求，降低可编程仪器仪表的自动化测试门槛，且对比同类型产品具有低成本、高扩展性，便携等特点。

公开(公告)号：CN112131109A

公开(公告)日：2020-12-25

申请号：CN202010992183.5

申请日：2020-09-21

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司

Inventor： 张瀚文 ,  林秋 ,  戴昭君 ,  陈宣成

IPC: G06F11/36 ,  G06F11/273 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明公开了基于Python的芯片自动化验证测试系统及方法，特别适用于低功耗MCU芯片的IP功能验证，接口电特性参数，芯片性能的自动化测试。本发明使用Python开发的PC端上位机框架，涵盖UART/SPI/I2C/芯片JTAG调试四种连接模式与自定义通讯协议，并以透传指令的形式直接对单个或多个待测板进行通信，对待测芯片进行测试验证。同时使用程控的方式对可编程测试设备进行自动化控制，配合透传指令与数据采集算法以实现对芯片的实时数据监控与采集。本发明简化了传统芯片IP功能的验证操作流程，可适用于复杂IP与测试项的芯片验证环境。

公开(公告)号：CN215813785U

公开(公告)日：2022-02-11

申请号：CN202022846028.0

申请日：2020-12-01

Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司

Inventor： 陈宣成 ,  张修远 ,  崔丽华 ,  林秋

IPC: G05B19/042

Abstract: 本实用新型公开了一体式测试终端设备。包括板载微控制器、通用通信接口适配模块、非易失性存储单元、触摸显示屏、电源模块、In‑port通信端口、Out‑port通信端口和触摸屏驱动模块通信端口本实用新型降低可编程仪器仪表的自动化测试门槛，且对比同类型产品具有低成本、高扩展性，便携等特点。