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公开(公告)号：CN107959571A
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201711072601.3
申请日：2017-11-04
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种用于PUF的快速软判决取值生成方法，并给出了采用该方法的一个用于PUF的快速软判决取值生成方法的实现实例。用于PUF的快速软判决取值生成方法如下：只需要在注册阶段对每个挑战进行若干次PUF特征结果的提取，通过将PUF特征结果均值和响应判断阈值进行比较，就能够计算得到每个比特位对应的软判决值。在电路噪声相对工艺偏差较小的情况下，甚至只需要一次PUF特征结果提取就能得到软判决值。从而能够在保证应用阶段纠错失败概率足够小的前提下，大幅减少注册阶段响应和辅助数据的采集生成时间。
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公开(公告)号：CN109784099A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201811549450.0
申请日：2018-12-18
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/73
Abstract: 本发明公开了一种新型强物理不可克隆函数，并给出了采用该方法的一个新型强物理不可克隆函数的实现实例。新型强物理不可克隆函数的特征在于建立各个芯片中独特的查找表，而查找表是基于多个物理单元的特征结果排序产生。新型强物理不可克隆函数如下：采集芯片中多个物理单元的特征结果，根据物理单元特征结果的排序产生若干个查找表，基于这些查找表产生各个芯片中独特的PUF运算单元，PUF的挑战经过PUF运算单元得到PUF响应。基于PUF查找表的物理不可克隆函数能够大幅提升挑战响应空间，使得基于这种结构的物理不可克隆函数适用于密钥生成、身份识别等各类应用。
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公开(公告)号：CN108173657A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711246973.3
申请日：2017-12-01
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种基于高效抗差分功耗分析RSA实现方法，并给出了采用该方法的一个RSA CRT实现方法的实现实例。该方案避免了实现传统盲化方案中复杂的模逆运算，用较易实现的模乘运算取代了模逆运算，在不影响安全性的前提下，能够极大提高RSA运算效率，节省RSA实现的时间和空间。
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公开(公告)号：CN109784099B
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN201811549450.0
申请日：2018-12-18
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/73
Abstract: 本发明公开了一种新型强物理不可克隆函数，并给出了采用该方法的一个新型强物理不可克隆函数的实现实例。新型强物理不可克隆函数的特征在于建立各个芯片中独特的查找表，而查找表是基于多个物理单元的特征结果排序产生。新型强物理不可克隆函数如下：采集芯片中多个物理单元的特征结果，根据物理单元特征结果的排序产生若干个查找表，基于这些查找表产生各个芯片中独特的PUF运算单元，PUF的挑战经过PUF运算单元得到PUF响应。基于PUF查找表的物理不可克隆函数能够大幅提升挑战响应空间，使得基于这种结构的物理不可克隆函数适用于密钥生成、身份识别等各类应用。
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公开(公告)号：CN107959571B
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN201711072601.3
申请日：2017-11-04
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种用于PUF的快速软判决取值生成方法，并给出了采用该方法的一个用于PUF的快速软判决取值生成方法的实现实例。用于PUF的快速软判决取值生成方法如下：只需要在注册阶段对每个挑战进行若干次PUF特征结果的提取，通过将PUF特征结果均值和响应判断阈值进行比较，就能够计算得到每个比特位对应的软判决值。在电路噪声相对工艺偏差较小的情况下，甚至只需要一次PUF特征结果提取就能得到软判决值。从而能够在保证应用阶段纠错失败概率足够小的前提下，大幅减少注册阶段响应和辅助数据的采集生成时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105743652B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201410765160.5
申请日：2014-12-11
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种基于地址异或的数据总线加密方法，对于总线加密密钥的每一个比特位，都与存储器地址总线的某一比特位或者多位比特位进行异或操作，得到异或后的总线加密密钥。将与地址异或后的总线加密密钥与存储器明文数据进行异或来得到密文数据。使得每一个地址中的明文数据所对应的异或密钥都不同，从而使得攻击者难以通过分析密文数据来推算密钥从而恢复明文。本发明能够抵抗针对存储器数据的物理攻击；既能有效提高系统的安全性，又能大幅提高运算速度。
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公开(公告)号：CN103199999A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201210004418.0
申请日：2012-01-06
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC: H04L9/30
Abstract: 本发明公开了一种二元域快速通用模约减方法，提取二元域下不可约多项式中所有非零项的次数；预计算约减位置参数qi和移位参数ri，满足(m-di)＝w×qi+ri，其中，w＞0，为每次循环中约减的数据块的位数；根据m、被约减数据的位数和被约减数据块的位数计算约减循环次数，从最高数据块到最低数据块逐块进行约减，其中最低数据块中的部分位进行约减；对被约减数据块进行约减，采用多次数据块的加法来完成数据块的约减，根据预计算的约减位置参数qi和移位参数ri计算被约减数据块多次加法的位置。本发明适用于所有的二元域上的不可约多项式的模约减运算，大幅提高二元域上的椭圆曲线以及双线性对的运算效率。
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公开(公告)号：CN102447556A
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN201010506013.8
申请日：2010-10-14
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Inventor： 柴佳晶
IPC: H04L9/06
Abstract: 本发明公开了一种基于随机偏移的抗差分功耗分析DES加密方法，该方法如下：将DES运算根据随机数在时域上进行偏移，同时插入假DES运算，并使得真DES和假DES的功耗曲线难以区分，从而使得攻击者无法找到真DES运行的位置。另外也可以对DES运算中子运算和子函数的运算顺序进行改变，使得攻击者无法确定运算的位置。在进行差分功耗分析时，攻击者将无法在时域上对齐需要统计分析的DES功耗曲线，从而无法累计大量样本的功耗差异来进行最终的统计分析。因此本发明中的方法能够抵抗差分功耗分析。
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公开(公告)号：CN102023962A
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN200910057887.7
申请日：2009-09-10
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Inventor： 柴佳晶
Abstract: 本发明公开了一种适用于密码学应用的素数生成方法，将随机数和一系列小素数通过求最大公约数的方法进行素数预检测，仅当该随机数与这些小素数都互素时能够通过素数预检测，再将通过素数预检测的随机数进行素性检测。由于通过预检测的方法能够排除掉一部分合数，因而使得预检测之后的素性检测的循环次数能够大大减少。传统的素数生成方法为直接对随机数进行素性检测，因此需要进行大量的素性检测运算；在通常实现情况下，素性检测的时间要远远大于求最大公约数的时间，因此本发明的方法能够大幅改善素数生成的运算速度和时间。
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公开(公告)号：CN104579648B
公开(公告)日：2018-06-05
申请号：CN201310484893.7
申请日：2013-10-16
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC: H04L9/30
Abstract: 本发明公开了一种三元域抗错误攻击Tate双线性对计算方法，该方法如下：对原始的Tate双线性对计算流程进行改造，加入随机数的因素来抵御错误攻击。当三元域Tate双线性对没有被攻击，那么随机数的因素不会影响最终结果。当三元域Tate双线性对由于攻击导致计算错误，那么攻击者最终得到的结果将掺入随机数的因素。由于攻击者无法得知随机数的具体值，从而无法从最终结果中去除随机数的因素得到有效的信息来推算密钥。因此本发明中的方法能够有效抵御针对三元域Tate双线性对的错误攻击。
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