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公开(公告)号：CN106845225A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611186553.6
申请日：2016-12-20
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
CPC classification number: G06F21/566 , G06F9/45525
Abstract: 本发明公开一种JAVA卡帧的边界检查方法，属于智能卡技术领域。该方法包括：Java卡虚拟机执行应用的Java方法时，建立一个方法帧，并压入栈，记录方法帧的起始地址。同时记录两个范围：合法操作数范围和合法局部变量索引范围；Java卡虚拟机执行应用的Java方法内字节码时，获取其操作的栈数据类型。如果当前操作数据是局部变量，则判断局部变量索引是否在合法局部变量索引范围内,是则允许操作，否则抛出异常。如果当前操作数据是操作数，则判断操作数地址是否在合法操作数范围内,是则允许操作，否则抛出异常。本发明实现了Java卡的多应用安全管理。
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公开(公告)号：CN114090438A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202111349295.X
申请日：2021-11-15
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 仲倩黎
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开一种从端软件自动化测试方法，适用于包含主从两端的从端自动化测试。该方法包括：构建从端功能逻辑库；在测试执行过程中，构建测试条件，并将测试条件传递给功能逻辑库，获取功能逻辑库输出的结果，将此结果作为输出正确性的判定依据；使用相同的测试条件，发送给测试对象，获取输出结果，判定正确性。通过上述方式，该软件测试方法实现了，从端软件的自动化测试，测试用例编写过程的复杂程度降低，从而缩短了开发周期。
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公开(公告)号：CN109165115B
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN201810665139.6
申请日：2018-06-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明介绍一种增强FLASH存储器可靠性的方法,涉及应对上层应用对FLASH存储器页的访问请求，通过建立FLASH映射表,在映射表中查找访问页对应的实际地址，访问该实际地址；访问后，检查硬件提供的ECC校验寄存器，如果该寄存器的值为0，则表示访问成功；如果该寄存器的值为1，则表示存在ECC1bit错误并被纠错，此错误作为换页条件，进行换页操作。换页时，在映射表中按规则找到可用冗余区的页地址，如果冗余区耗尽，FLASH存储器可靠性失效，否则使用该冗余区,并更新FLASH映射表信息，完成换页操作。本发明介绍的方法，可以通过建立FLASH映射表,配置FLASH存储器冗余区大小，动态提升FLASH存储器的可靠性，解决不同用户对FLASH存储器可靠性的需求，提高开发效率。
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公开(公告)号：CN106339308A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201510404186.1
申请日：2015-07-10
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种Java Card事务机制的测试方法，其特征在于，该方法包括，初始化JavaCard中数组，然后对所述数组进行赋值，同时对Java Card进行断电，PC端读取Java Card数组中的数值，根据所读取的数值判定Java Card事务机制的准确性。采用本发明所述的方法，能够对Java Card平台的事务机制进行全面验证，保证事务机制的准确性。
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公开(公告)号：CN112149065A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN202010974976.4
申请日：2020-09-16
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/12
Abstract: 本发明涉及一种软件防御故障注入的方法，包括：通过随机执行一段应用正常命令流程以掩盖安全防御措施的起始位置，通过将在软件执行实际安全防御操作上累加随机芯片CPU指令操作或者电流操作的掩盖安全防御措施功耗，通过审计数据冗余存储、审计数据不使用掉电机制而是直接写入到目的地址、上电恢复通过审计数据与备份数据中的较大的值进行恢复的方式确保了防御措施实施的有效性。本发明所提供的软件防御故障注入的方法，能有效防御错误注入，提升产品的安全防御能力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106649009A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611074995.1
申请日：2016-11-30
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
CPC classification number: G06F11/2273 , G06F11/3648
Abstract: 本发明提出一种JAVA卡字节码引用访问测试方法，构建java语言编写的测试用源程序；在所述java源程序的基础上，添加一个带有short类型入参的测试方法，通过编译、转换得到CAP文件；在所述CAP文件中的测试方法中，找到待测试字节码的位置，然后向前，定位到将其访问的引用压栈的字节码；将所述压栈字节码替换为“XX”；所述“XX”为将测试方法short类型参数值压栈的字节码。通过在字节码层面对Java Card CAP文件进行修改，生成的特殊Java Card Applet可用于对字节码进行引用访问测试，解决了常规Java Card Applet无法测试字节码访问虚假引用的情况。
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公开(公告)号：CN112149065B
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202010974976.4
申请日：2020-09-16
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F21/12
Abstract: 本发明涉及一种软件防御故障注入的方法，包括：通过随机执行一段应用正常命令流程以掩盖安全防御措施的起始位置，通过将在软件执行实际安全防御操作上累加随机芯片CPU指令操作或者电流操作的掩盖安全防御措施功耗，通过审计数据冗余存储、审计数据不使用掉电机制而是直接写入到目的地址、上电恢复通过审计数据与备份数据中的较大的值进行恢复的方式确保了防御措施实施的有效性。本发明所提供的软件防御故障注入的方法，能有效防御错误注入，提升产品的安全防御能力。
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公开(公告)号：CN109165115A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201810665139.6
申请日：2018-06-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明介绍一种增强FLASH存储器可靠性的方法,涉及应对上层应用对FLASH存储器页的访问请求，通过建立FLASH映射表,在映射表中查找访问页对应的实际地址，访问该实际地址；访问后，检查硬件提供的ECC校验寄存器，如果该寄存器的值为0，则表示访问成功；如果该寄存器的值为1，则表示存在ECC1bit错误并被纠错，此错误作为换页条件，进行换页操作。换页时，在映射表中按规则找到可用冗余区的页地址，如果冗余区耗尽，FLASH存储器可靠性失效，否则使用该冗余区,并更新FLASH映射表信息，完成换页操作。本发明介绍的方法，可以通过建立FLASH映射表,配置FLASH存储器冗余区大小，动态提升FLASH存储器的可靠性，解决不同用户对FLASH存储器可靠性的需求，提高开发效率。
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公开(公告)号：CN108875376A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810516349.9
申请日：2018-05-25
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 仲倩黎
IPC: G06F21/56
Abstract: 本发明公开一种智能卡平台联合攻击的精准定位方法，属于智能卡技术领域。该方法包括：构建攻击用源程序；在所述源程序的基础上，找到攻击点所在的语句；在攻击点所在语句的前面，添加循环体代码和相邻定位代码。循环体代码为相邻定位代码的多次循环。相邻定位代码为单一代码的多次循环。通过使用该框架，生成特殊的测试应用，可用于对智能卡平台进行联合攻击过程中的定位，解决了联合攻击中无法精确定位攻击点的问题。
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公开(公告)号：CN106021088A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201510404187.6
申请日：2015-07-10
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 仲倩黎
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提出一种JAVA卡上原子性测试方法及装置，该方法为：应用断电读卡器，在测试命令的执行过程中进行断电，根据断电后卡片所处的状态，判断测试命令是否具有原子性。首先量取测试命令的完整执行时间，并列出测试命令允许的断电后的卡状态；然后按照读卡器所能提供的步长，对该测试命令进行时间递增的断电；断电后对卡状态进行检查，与所列状态不符则测试结束，相符则增加一个步长继续断电。该方法能够对测试命令的全部执行过程进行断电，解决了测试命令写内存时间范围不能准确定位，并且次数较多，传统的断电测试方法不适用于JAVA卡的问题，提高了测试效率和测试覆盖率。
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