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公开(公告)号：CN107832223A
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201711151051.4
申请日：2017-11-18
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 崔丽华
IPC: G06F11/36
CPC classification number: G06F11/3648
Abstract: 本发明公开了一种用于调试应用程序的有效方法。在客户程序开发过程中，常规方式为：在应用态采用仿真器的方式进行程序开发调试，但在一定程度上无法模拟真实芯片的性能；且一旦切换到应用态后，则无法再回到下载态，重新下载更新的应用程序。同时，当需要对应用程序运行环境参数进行配置时，直接切换到应用态后，如果需要重新调整其参数时，则无法有效地修改重置。本发明提出客户开发调试应用程序时，可在下载态调用调试应用程序指令，即可以灵活配置应用程序运行参数，又可在增强调试环境的真实性的情况下，有效地提高调试效率，这样既保证发布的应用程序正确性和完整性，也大大降低程序出错率。
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公开(公告)号：CN114019938A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111201694.1
申请日：2021-10-15
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。
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公开(公告)号：CN112363436A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011385590.6
申请日：2020-12-01
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明公开了一体式测试终端设备及其控制方法。随着技术的日益发展，市面上使用支持可编程仪器命令的仪器设备越来越多，同时为后期提高效率减少人力与时间成本投入，提高仪器测试的自动化程度的需求也日益增加。由于自动化测试需要搭建测试环境，并根据测试场景的需求对支持可编程的仪器进行二次开发，前期需投入大量的时间和人力成本。本发明主要解决上述诉求，降低可编程仪器仪表的自动化测试门槛，且对比同类型产品具有低成本、高扩展性，便携等特点。
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公开(公告)号：CN110401913A
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201910649277.X
申请日：2019-07-18
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种基于低功耗蓝牙技术提高室内无线定位效率的方法。首先，蓝牙设备以T3为时间间隔发送广播数据包，移动终端在蓝牙设备区域，定时发送广播数据包；其次，蓝牙设备接收到移动终端发送的广播数据包后，减小自身发送广播数据包的时间间隔至T4；然后，移动终端扫描附近蓝牙设备的广播数据包，并选取RSSI(接收信号强度指示)值最大的3个数据包，解析里面的坐标信息以及楼层信息，对坐标信息作定位算法处理，进而获取自身位置坐标；最后，移动终端远离原来所在区域，则原来区域的蓝牙设备在一段时间内扫描到移动终端所广播的蓝牙数据包里的RSSI值均小于设定阈值N，则恢复到之前的以T3为时间间隔发送广播数据包。
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公开(公告)号：CN106571163A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610974619.1
申请日：2016-11-04
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种非易失性存储器编程方法，在进行NVM编程过程中首先对待编程区域进行擦除状态检测，如果所有待编程区域处于擦除状态，则只进行写操作；否则先执行擦除再完成写操作。本发明能够有效提高非易失性存储器编程效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104598350B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310533597.1
申请日：2013-10-31
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Inventor： 崔丽华
IPC: G06F11/26
Abstract: 本发明公开了一种接触式CPU芯片生产测试方法，接触式CPU芯片上电后，首先判断该接触式CPU芯片处于何种模式；如果为非测试模式，则直接进入应用模式，此时接触式CPU芯片仍采用内部时钟作为其工作时钟；如果为测试模式，则测试接触式CPU芯片所有功能；此时接触式CPU芯片同样采用内部时钟作为其工作时钟，测试后的结果保存在SRAM中；完成功能测试后，再将接触式CPU芯片的工作时钟切换到外部时钟，并对测试结果数据进行比对，如果和预期值一致，则通过，否则为失败。本发明能够降低测试成本，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN119758029A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411835925.8
申请日：2024-12-13
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种芯片自动化压力测试方法及系统，所述芯片自动化压力测试方法包括：S1，将压力测试程序按不同功能模块划分为不同的编译目标；S2，压力测试脚本调用编译目标调用测试用例，将测试脚本发送至被测单元执行配置及测试，实时判断测试执行情况；S3，压力测试脚本在测试过程中通过辅助设备产生测试激励或者判断测试结果；若压力测试项无需借助测试辅助设备进行产生测试激励或者判定测试结果则执行步骤S4；若未达到压力测试时间则循环执行步骤S2和步骤S3；S4，压力测试通过保存测试LOG生成测试报告。本发明能降低测试环境偶发性干扰因素造成测试流程中断带来的损失，能够快速复现异常现场定位芯片设计缺陷，提升芯片压力测试效率。
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公开(公告)号：CN111025121A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201910955837.4
申请日：2019-10-09
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种用于智能卡芯片多通道同测的嵌入式软件实现方法，是采用如下技术特征实现的：主控端测试程序发送启动测试命令，测试设备上的嵌入式软件正确接收后，将集成所有生产测试指令，并分给多个测试子板；每块测试子板完成单通道测试后，记录测试结果；如果测试失败，则关闭该通道；后续测试指令将屏蔽该通道，直到所有通道测试完毕。嵌入式软件对返回的数据进行整理打包后，以报文的方式输出，从而实现多通道同测的目的。本发明能够快速、准确的实现智能卡测试任务，减少测试时间，提高测试效率，同时对智能卡安全性也具有一定保障。
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公开(公告)号：CN104598350A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201310533597.1
申请日：2013-10-31
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
Inventor： 崔丽华
IPC: G06F11/26
Abstract: 本发明公开了一种接触式CPU芯片生产测试方法，接触式CPU芯片上电后，首先判断该接触式CPU芯片处于何种模式；如果为非测试模式，则直接进入应用模式，此时接触式CPU芯片仍采用内部时钟作为其工作时钟；如果为测试模式，则测试接触式CPU芯片所有功能；此时接触式CPU芯片同样采用内部时钟作为其工作时钟，测试后的结果保存在SRAM中；完成功能测试后，再将接触式CPU芯片的工作频率切换到外部频率，并对测试结果数据进行比对，如果和预期值一致，则通过，否则为失败。本发明能够降低测试成本，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN215813785U
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202022846028.0
申请日：2020-12-01
Applicant: 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC: G05B19/042
Abstract: 本实用新型公开了一体式测试终端设备。包括板载微控制器、通用通信接口适配模块、非易失性存储单元、触摸显示屏、电源模块、In‑port通信端口、Out‑port通信端口和触摸屏驱动模块通信端口本实用新型降低可编程仪器仪表的自动化测试门槛，且对比同类型产品具有低成本、高扩展性，便携等特点。
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