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公开(公告)号：CN119575150A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411946570.X
申请日：2024-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/309
Abstract: 本申请涉及电路测试技术领域，特别是涉及一种电路板的探测装置及其方法、分析装置。电路板的探测设备包括：射频探头，用于连接待测电路板的测试线路的一端；分析装置，连接射频探头，分析装置经由射频探头向待测电路板的测试线路发射探测信号，探测信号沿待测电路板的测试线路中传播并发生反射生成反射信号，射频探头还用于接收反射信号并将反射信号发送至分析装置，分析装置用于基于反射信号确定电路板的缺陷情况。本申请中，通过设置分析装置连接射频探头，从而可以通过射频探头向待测电路板发射探测信号，分析装置也可以获取反射信号并基于反射信号确定电路板的缺陷情况，从而无需对待测电路板切割即可快速确定待测电路板的缺陷情况。
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公开(公告)号：CN117471182B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311765666.1
申请日：2023-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电路板的介电性能测试系统、方法和存储介质。所述系统包括：测试夹具，用于分别将多层电路板中各介质层单独接入测试环路，其中，所述测试环路由所述测试夹具、所述测试夹具夹持的介质层和网络分析仪组成；所述网络分析仪，用于在所述测试环路中向所述多层电路板的介质层输出预设频率的电磁波信号，并接收所述预设频率的电磁波信号通过所述多层电路板的介质层产生的电磁波反馈信号；上位机，用于根据所述网络分析仪接收的电磁波反馈信号，测试所述多层电路板中各介质层的介电性能参数。采用本系统可以直接对电路板进行介电性能测试，提高了电路板介电性能测试的方便性。
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公开(公告)号：CN115901435A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211149314.9
申请日：2022-09-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及材料检测技术领域，特别是涉及一种材料检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取检测温度和检测压力；通过测试夹具，将检测温度和检测压力同时施加于待检测材料；控制抵接在待检测材料上的网络分析仪，对施加有检测温度和检测压力的待检测材料进行压力温度检测，并根据检测结果，确定待检测材料的耐用度。本申请提高了压力温度检测的效率，保证了待检测材料能够在检测温度和检测压力的前提下完成压力温度检测，降低了压力温度检测的操作难度。
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公开(公告)号：CN115684871A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211147281.4
申请日：2022-09-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供了一种传输线性能监测装置，该装置包括测试设备、测试线缆、测试夹具；测试线缆的一端与测试设备连接，测试线缆的另一端与测试夹具的一端连接，测试夹具的另一端与印制电路板通过焊盘连接；测试设备，通过测试线缆监测待测试传输线的性能参数；其中，印制电路板中印制有待测试传输线，且印制电路板处于环境应力发生变化的空间中。采用本装置能够加固测试线缆和PCB，有效地获取PCB上印制的传输线的性能参数。
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公开(公告)号：CN113607528A
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202110972908.9
申请日：2021-08-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N1/28
Abstract: 本申请提供一种离子清洁度检测治具及离子清洁度检测方法，其中，离子清洁度检测治具包括支撑装置；滚动链条，其绕过所述支撑装置的顶端和所述支撑装置的底端；驱动装置，与所述滚动链条传动连接，用于驱动所述滚动链条绕经所述支撑装置的顶端和底端做旋转滚动；试样槽体，其与所述滚动链条连接。本申请能够通过控制试样槽体的上升和下降，有效地减少投入试样过程中引入其他污染，另一方面，本申请还能够避免夹具损坏待检测电路板。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115358562B
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202210981086.5
申请日：2022-08-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/0639 , G06Q50/04 , G07C3/14
Abstract: 本申请提供了一种印制线路板的质量测试方法、装置及电子设备，印制线路板的质量测试方法包括：针对目标供应商生产的目标型号的多个印制线路板，按照与目标型号相适配的多个预设测试参数项，对每个印制线路板进行质量测试，确定每个印制线路板在每个预设测试参数项下的测试结果数据；根据各个预设测试参数项对应的测试结果数据和各个预设测试参数项对应的测试权重，确定目标供应商生产的多个印制线路板的质量测试得分。本申请实现了能够对供应商生产的印制线路板进行更全面的测试，通过印制线路板的质量测试得分可以反映出供应商生产的印制线路板的优劣程度，增强了检测的全面性和准确率。
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公开(公告)号：CN118150989A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410579384.0
申请日：2024-05-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种挠性板浸水可靠性的模拟测试方法及装置。方法包括：针对挠性板的待测样品连接电源设备所形成的测试回路，获取测试回路的初始导通电阻值；将待测样品没入密闭容器的液体中，将待测样品的连接垫片置于液体底部，调节密闭容器内的空气压力值；在空气压力值达到预设模拟水深对应的压力值的情况下，对测试回路持续施加电流；获取测试回路的实际导通电阻值；根据初始导通电阻值和实际导通电阻值，获取待测样品的电阻值变化率；在电阻值变化率达到预设变化率阈值时，停止施加电流，记录待测样品的失效时间。采用本方法能够通过模拟实际浸水环境，对挠性电路板进行防水性能测试。
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公开(公告)号：CN117452176A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311786835.X
申请日：2023-12-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种器件耐功率测试系统、方法和夹具。所述系统包括：测试夹具，用于安装待测器件；网络分析仪，用于采集待测器件的性能参数；信号源，连接于待测器件，用于提供待测器件所需的测试信号；第一功率计，用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值；第二功率计，用于检测待测器件输出端的输出功率值；计算单元，用于根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件是否达到耐功率状态，并根据待测器件在耐功率状态下对应的性能参数，判断待测器件是否失效。采用本方法能够准确掌握器件的最大耐功率值。
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公开(公告)号：CN111879220B
公开(公告)日：2023-02-21
申请号：CN202010606575.3
申请日：2020-06-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01B5/252
Abstract: 本发明公开了一种PCB板背钻孔对准度检测装置及方法，所述检测装置包括测试支架和刻度尺，所述测试支架包括底座和位于底座之上的支撑杆，所述刻度尺的中心位置开口，在检测状态下，所述底座卡在PCB板的首钻孔外侧，所述支撑杆插入PCB板的首钻孔，其上端部从PCB板的背钻孔伸出，所述刻度尺的开口套入所述支撑杆的上端部，并与所述支撑杆的上端部贴合。本发明能够快速高效地检测背钻孔对准度，提高检测效率。
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公开(公告)号：CN115291081A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210925273.1
申请日：2022-08-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供一种耐电化学迁移的试验方法，其中，该方法包括：在目标测样上的满足预设条件的位置进行钻孔，得到固定孔，其中，所述满足预设条件的位置为不影响对所述目标测样进行耐电化学迁移测试的位置；对所述目标测样的焊盘进行点焊，使所述目标测样的焊盘附着有焊锡；对所述目标测样进行清洗，以清洗点焊接残留物；将所述目标测样放入至高温烘箱中烘干，并在所述高温烘箱冷却到室温时，将所述目标测样从所述高温烘箱中取出；将高阻监测设备配套的监测线一端焊接于所述目标测样的焊盘上；将所述目标测样放入湿热试验箱中并基于所述固定孔将所述目标测样固定于所述湿热试验箱，以通过所述高阻监测设备监测所述目标测样在不同温湿度条件下的电阻变化。本申请能够对目标测样进行电化学迁移性能测试。
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