用于电弧诊断的设备
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115954253A

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202211207798.8

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 一种用于电弧诊断的设备包括第一VI传感器和第二VI传感器、光学传感器和电弧检测器。第一VI传感器设置在电力过滤器中或者设置在连接至设置在工艺室的下电极中的加热器的电源线上,在工艺室中执行等离子体工艺。第一VI传感器感测从向下电极供电的第一电源生成的谐波并且输出第一信号。光学传感器感测从工艺室生成的光的强度并且输出第二信号。第二VI传感器设置在连接至上电极的电源线上并且感测从向上电极供电的第二电源生成的谐波并且输出第三信号。电弧检测器基于第一信号、第二信号和第三信号中的一个或多个确定是否出现电弧。

    用于电子装置的散热片及其制造方法

    公开(公告)号:CN117063622A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202280023673.1

    申请日:2022-02-25

    Inventor: 金永焘 朴天命

    Abstract: 根据实施例的散热片可以具有:多个氧化石墨烯颗粒层,通过具有第一尺寸的平均直径的第一氧化石墨烯颗粒和具有第二尺寸的平均直径的第二氧化石墨烯颗粒形成;以及精细折痕结构,在多个氧化石墨烯颗粒层之间并包括厚度小于2μm的孔。另外还公开了一种散热片的制造方法以及包括该散热片的移动通信装置。

    半导体处理系统及其控制方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115565911A

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202210777663.9

    申请日:2022-07-04

    Abstract: 提供了一种半导体处理系统及其控制方法。该半导体处理系统包括:半导体处理室,其包括设置在室外壳中的静电卡盘和用于将第一射频(RF)电力供应至设置在静电卡盘中的内部电极的第一电力供应器;电压测量装置,其测量对应于第一RF电力的电压,以输出数字信号;以及控制装置,当基于数字信号确定电压增大至预定参考范围内时,其将互锁控制信号输出至半导体处理室。静电卡盘被配置为使得晶圆能够安装于静电卡盘的表面上。

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