一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法

    公开(公告)号:CN106356314B

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN201611030790.3

    申请日:2016-11-16

    Abstract: 本发明公开了一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法,属于芯片测试技术领域。本发明的测试凹槽可调式SOT26测试夹,包括固定夹和活动夹;固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接,并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节,实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节。本发明测试夹的操作方法,通过SOT26的压入→测试→顶出的步骤,利用弹簧控制活动夹的开口及闭合,以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率,同时加装了顶杆;活动夹和顶杆的协同作用,起到了测试时对SOT26的精确定位及防叠料和提高测试良率的目的,相当于提高了产能,达到了一举双得的效果。

    一种半导体封装方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110098168B

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN201910355423.8

    申请日:2019-04-29

    Abstract: 本发明公开了一种半导体封装方法,属于电子元器件封装领域。针对现有技术中边框分离仍旧需要使用刀片切割的情况,且引线框产品易发生翘曲的问题,使引线框产品整体的共面性差,易发生卡料的问题。本发明提供了一种半导体封装方法,包括引线框,所述的引线框产品区外部设置有边框,所述边框与引线框内部的产品区之间间隔一过渡的抓胶区,所述抓胶区内设置有一圈或多圈半蚀刻槽,还包括菲林片,所述的菲林片覆盖于引线框上,菲林片在引线框半蚀刻槽位置设置有黑色边框。它可以保证边框能够直接撕下而不影响内部器件,有效控制待切割产品区平整,传送时候不会发生卡料,提高切割品质和效率。

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