维修店信息的推送方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119379236A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202310924111.0

    申请日:2023-07-25

    Abstract: 本发明涉及了一种维修店信息的推送方法、装置、电子设备及存储介质,所述维修店信息的推送方法通过获取车辆故障信息,车辆故障信息表示目标车辆的故障,以及确定目标车辆的车辆位置,确定与车辆位置之间的距离小于或等于预设距离阈值的维修店,得到维修店集合,以此基于车辆故障信息,确定目标车辆的故障类型,从维修店集合中,确定目标维修店,以推送目标维修店的目标维修店信息,其中,目标维修店的类型与故障类型匹配。由此,通过故障类型与维修店的类型的匹配,确定出适合处理当前故障的目标维修店,实现了车辆故障时推送合适的目标维修店信息的效果。

    一种方程式赛车空气动力学套件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119037569A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202310613407.0

    申请日:2023-05-29

    Abstract: 本发明涉及一种方程式赛车空气动力学套件。方程式赛车空气动力学套件包括与车身前端相连的前翼,所述前翼包括主翼、设在靠近所述主翼两端的一级襟翼、设在所述一级襟翼上的二级襟翼、设在所述主翼两端的外侧端板和设在靠近所述主翼中部且互为镜像对称的两个内侧端板;所述主翼沿长度方向为三段式构造,中间段为负攻角的对称翼型,以引导气流进入底板,两个边段为渐升攻角减弦长的渐变翼型,以引导气流外洗。本发明解决了现有方程式赛车存在空气动力学性能不足的问题,还解决了现有方程式赛车的空气动力学套件存在结构复杂和装配困难等问题。

    微控制单元、动态地址重映射方法及存储介质

    公开(公告)号:CN116610363A

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202310574314.1

    申请日:2023-05-19

    Abstract: 本发明涉及一种微控制单元、动态地址重映射方法及存储介质,其中,微控制单元中,MCU内核用于根据启动模式控制信号的状态,向重定向地址暂存寄存器写入赋值数据;重定向地址暂存寄存器用于存储赋值数据;MCU内核还用于将赋值数据写入重定向地址寄存器;重定向地址寄存器用于存储赋值数据;MCU内核还用于发起针对第一地址的读写请求,确定第一地址是否位于预设地址范围内,若第一地址位于预设地址范围内,基于赋值数据将第一地址进行地址重映射,得到第二地址,向真实重定向地址寄存器写入第二地址;真实重定向地址寄存器,用于存储第二地址,以供总线矩阵对第二地址进行读写操作,并反馈给MCU内核。本申请实施例能够实现动态的地址重映射。

    一种基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法

    公开(公告)号:CN114781930B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202210598313.6

    申请日:2022-05-30

    Abstract: 本发明涉及一种基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法,该平台包括:平台准入模块,用于判断欲进入平台的企业是否满足准入条件,基于已进入平台的企业的企业贡献度给予其不同等级的平台使用权限;信息采集模块,用于通过平台信息采集或者企业信息释放获取芯片失效分析信息;平台管理模块,用于对失效芯片信息进行审核,针对发布虚假信息企业基于惩戒,并考评企业给予激励;统计分析模块,用于利用数学模型对采集信息进行统计分析实现关键信息提取。本发明有效的将各种零散的失效分析案例整合起来,实现信息的规范化、统一化管理,消除“信息孤岛”,打破信息壁垒,形成可共享的知识平台;该平台对于芯片选型和芯片失效快速分析有重要支撑作用。

    被测设备的测试方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119375658A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202310923675.2

    申请日:2023-07-25

    Inventor: 娄晓康 李德军

    Abstract: 本申请涉及一种被测设备的测试方法、装置、设备及存储介质,涉及汽车技术领域。该方法包括:获取目标故障的故障定义文件,故障定义文件包括目标故障在被测设备中的位置、目标故障的故障状态和/或故障类型、被测设备中检测点的位置以及故障仿真激励文件,目标故障在被测设备中的位置包括芯粒的内部,以及不同芯粒之间的接口处;向被测设备发送故障定义文件,以使得被测设备基于故障定义文件进行故障仿真,并生成目标故障的故障仿真结果。由此,可以在故障的位置位于不同芯粒之间的接口处时进行故障仿真验证芯片功能安全,解决只能测试芯粒内部的功能安全导致对芯片进行功能安全测试的准确度较低的技术问题。

    一种聚偏氟乙烯/氧化石墨烯复合材料及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN119331281A

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202310902005.2

    申请日:2023-07-21

    Abstract: 本发明涉及一种聚偏氟乙烯/氧化石墨烯复合材料及其制备方法和应用。聚偏氟乙烯/氧化石墨烯复合材料的制备方法,步骤为:将聚偏氟乙烯和氧化石墨烯溶解于有机溶剂中,获得第一混合溶液;将第一混合溶液进行水热反应,静置,获得第二混合溶液;将第二混合溶液旋涂浇铸,获得薄膜;将薄膜退火处理,获得聚偏氟乙烯/氧化石墨烯复合薄膜材料。本发明还提供一种所述的制备方法制得的聚偏氟乙烯/氧化石墨烯复合材料。本发明还提供一种所述的制备方法制得的聚偏氟乙烯/氧化石墨烯复合材料的应用,所述聚偏氟乙烯/氧化石墨烯复合材料应用于多功能智能传感器中。本发明解决了现有PVDF复合材料不同时具备压电和热电性能或具备的电学性能差的问题。

    一种基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法

    公开(公告)号:CN114781930A

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202210598313.6

    申请日:2022-05-30

    Abstract: 本发明涉及一种基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法,该平台包括:平台准入模块,用于判断欲进入平台的企业是否满足准入条件,基于已进入平台的企业的企业贡献度给予其不同等级的平台使用权限;信息采集模块,用于通过平台信息采集或者企业信息释放获取芯片失效分析信息;平台管理模块,用于对失效芯片信息进行审核,针对发布虚假信息企业基于惩戒,并考评企业给予激励;统计分析模块,用于利用数学模型对采集信息进行统计分析实现关键信息提取。本发明有效的将各种零散的失效分析案例整合起来,实现信息的规范化、统一化管理,消除“信息孤岛”,打破信息壁垒,形成可共享的知识平台;该平台对于芯片选型和芯片失效快速分析有重要支撑作用。

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