-
公开(公告)号:CN113655242B
公开(公告)日:2024-04-19
申请号:CN202010357952.4
申请日:2020-04-29
Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司
Abstract: 本发明涉及一种IGBT器件动态测试用夹具及方法,涉及IGBT器件技术领域,用于降低测试电路中杂散电感。本发明的IGBT器件动态测试用夹具,包括第一夹具、第二夹具和支撑架,通过将第一夹具和第二夹具分别设置为关于第一IGBT器件和第二IGBT器件对称且具有层叠结构,从而利用电磁耦合原理降低测试电路中杂散电感,有助于提升器件动态参数测试的可靠性。
-
公开(公告)号:CN113655242A
公开(公告)日:2021-11-16
申请号:CN202010357952.4
申请日:2020-04-29
Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司
Abstract: 本发明涉及一种IGBT器件动态测试用夹具及方法,涉及IGBT器件技术领域,用于降低测试电路中杂散电感。本发明的IGBT器件动态测试用夹具,包括第一夹具、第二夹具和支撑架,通过将第一夹具和第二夹具分别设置为关于第一IGBT器件和第二IGBT器件对称且具有层叠结构,从而利用电磁耦合原理降低测试电路中杂散电感,有助于提升器件动态参数测试的可靠性。
-
公开(公告)号:CN221862667U
公开(公告)日:2024-10-18
申请号:CN202323289112.7
申请日:2023-12-04
Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司
IPC: H02M1/32 , H02M1/08 , H02M1/088 , H03K17/082
Abstract: 本申请提供一种短路保护驱动电路及设备,该电路中,第一碳化硅MOS模块和第二碳化硅MOS模块串联于负载主电路形成半桥电路,电流传感器S1与负载主电路连接,电流传感器S1用于检测负载主电路中位于第一碳化硅MOS模块和第二碳化硅MOS模块之间的电流信号,第一驱动电路和第二驱动电路均与电流传感器S1连接,第一驱动电路与第一碳化硅MOS模块连接,第一驱动电路用于根据电流信号控制第一碳化硅MOS模块的栅极电压,第二驱动电路与第二碳化硅MOS模块连接,第二驱动电路用于根据电流信号控制第二碳化硅MOS模块的栅极电压。本申请具有电路短路保护的效果。
-
-