公开(公告)号：CN110416771B

公开(公告)日：2021-04-06

申请号：CN201810391310.9

申请日：2018-04-27

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 李义 ,  李炘 ,  宋自珍 ,  陈喻 ,  万超群 ,  陈彦 ,  王真

IPC: H01R13/02 ,  H01R31/06 ,  H01R4/02 ,  H01R4/18 ,  H01R4/30 ,  H01R4/48

Abstract: 本发明涉及一种能够调节行程的软连接结构，包括：安装部和接触部；所述安装部的连接端与复合母排连接，所述接触部的接触端与模块的母排端子接触；所述安装部和接触部之间设有软连接部，所述软连接部包括导柱，所述导柱的一端位于接触部内，另一端与安装部螺纹连接，在接触部内调节导柱与安装部的旋合深度调整安装部和接触部的距离。本发明的软连接结构，能够吸收母排端子安装面的高度差，消除由于高度差造成的母排端子变形和产生的机械应力，达到保护器件的目的；同时可调的预紧力和压缩行程，以及接触部的软接触设计可以有效保证各安装面的有效接触；该设计有助于提升器件和系统应用的可靠性。

公开(公告)号：CN113655242B

公开(公告)日：2024-04-19

申请号：CN202010357952.4

申请日：2020-04-29

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 王真 ,  万超群 ,  李贵生 ,  陈彦 ,  宋自珍 ,  陈喻 ,  李义 ,  翟龙 ,  朱婷

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明涉及一种IGBT器件动态测试用夹具及方法，涉及IGBT器件技术领域，用于降低测试电路中杂散电感。本发明的IGBT器件动态测试用夹具，包括第一夹具、第二夹具和支撑架，通过将第一夹具和第二夹具分别设置为关于第一IGBT器件和第二IGBT器件对称且具有层叠结构，从而利用电磁耦合原理降低测试电路中杂散电感，有助于提升器件动态参数测试的可靠性。

公开(公告)号：CN113655242A

公开(公告)日：2021-11-16

申请号：CN202010357952.4

申请日：2020-04-29

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 王真 ,  万超群 ,  李贵生 ,  陈彦 ,  宋自珍 ,  陈喻 ,  李义 ,  翟龙 ,  朱婷

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明涉及一种IGBT器件动态测试用夹具及方法，涉及IGBT器件技术领域，用于降低测试电路中杂散电感。本发明的IGBT器件动态测试用夹具，包括第一夹具、第二夹具和支撑架，通过将第一夹具和第二夹具分别设置为关于第一IGBT器件和第二IGBT器件对称且具有层叠结构，从而利用电磁耦合原理降低测试电路中杂散电感，有助于提升器件动态参数测试的可靠性。

公开(公告)号：CN109298305B

公开(公告)日：2020-12-11

申请号：CN201710607085.3

申请日：2017-07-24

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 万超群 ,  宋自珍 ,  李义 ,  李炘 ,  陈彦 ,  李世平 ,  常桂钦

IPC: G01R31/26 ,  G01R1/067

Abstract: 本发明公开了一种针对压接式IGBT模块子模组的测试装置及方法。装置包括：发射极引出端；栅极引出端；集电极引出端；压块，压块上表面构造有螺杆接触部，压块下表面构造有栅极接触部以及突出的压块压头，所述栅极接触部连接到所述栅极引出端，所述压块压头连接到所述发射极引出端；测试腔，测试腔内顶部构造有具备螺纹的螺杆安置口，测试腔内底部对应所述螺杆安置口的位置构造有用于安置所述待测试IGBT模块子模组的安置部；螺杆，其具备螺纹且与所述螺杆安置口匹配。本发明的装置的结构匹配压接式IGBT模块子模组，其可以辅助现有测试设备对压接式IGBT模块子模组进行测试。相较于现有技术中的设备，本发明装置结构简单，使用简便，具有很高的实用价值。