半导体器件及其制造方法和半导体模块制造方法

    公开(公告)号:CN101719486A

    公开(公告)日:2010-06-02

    申请号:CN200910178994.5

    申请日:2009-10-09

    Inventor: 林义成

    Abstract: 本发明实现了半导体器件的装配可靠性的改进。半导体芯片装配于布线衬底的上表面之上。多个焊球个体地设置于布线衬底的下表面上形成的多个焊区之上。多个焊区包括按照多行布置并且沿着布线衬底的下表面的外围边缘部分布置的第一焊区组以及在布线衬底的下表面中布置于第一焊区组以内的第二焊区组。按照第一节距布置第一焊区组中的焊区,而按照比第一节距更高的第二节距布置第二焊区组中的焊区。

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