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公开(公告)号：CN113342669B
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202110692255.9
申请日：2021-06-22
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法及装置，该方法包括通过预设的激励回归对芯片代码进行仿真计算，确定无覆盖率的待测点；接收第一操作指令，基于所述第一操作指令编写待测点对应的断言，断言用以表征待测点所表示的输入状态无法达到；构建形式化环境，在形式化环境中运行断言，判断断言的运行结果；根据运行结果反向补充待测点的输入状态假设，并基于输入状态假设生成测试激励进行仿真验证。本发明实现了通过形式化验证工具构建形式化环境来进行断言证明，基于断言证明结果产生作为输入状态假设的反例，进而形成测试激励，从而减少芯片代码验证过程中与设计人员的交流时间，且缩短了芯片代码验证过程中的覆盖率收敛时间。
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公开(公告)号：CN113342669A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110692255.9
申请日：2021-06-22
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种缩短芯片代码覆盖率收敛时间的验证方法及装置，该方法包括通过预设的激励回归对芯片代码进行仿真计算，确定无覆盖率的待测点；接收第一操作指令，基于所述第一操作指令编写待测点对应的断言，断言用以表征待测点所表示的输入状态无法达到；构建形式化环境，在形式化环境中运行断言，判断断言的运行结果；根据运行结果反向补充待测点的输入状态假设，并基于输入状态假设生成测试激励进行仿真验证。本发明实现了通过形式化验证工具构建形式化环境来进行断言证明，基于断言证明结果产生作为输入状态假设的反例，进而形成测试激励，从而减少芯片代码验证过程中与设计人员的交流时间，且缩短了芯片代码验证过程中的覆盖率收敛时间。
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公开(公告)号：CN110727584B
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN201910850481.8
申请日：2019-09-10
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 一种处理器硅前验证用的RTL与参考模型实时比较方法，属于中央处理器芯片硅前功能正确性验证技术领域。方法包括步骤S01，当监测到RTL的通用寄存器回写信号时，将RTL回写的值记录于Testbench中的RTL缓冲内；步骤S02，比较Testbench中的RTL缓冲中条目和Testbench中参考模型缓冲中条目，若相等，则返回步骤S01，若不相等，则报错退出。本发明能够支持不同体系结构的处理器运行结果的正确性的实时比较，可在处理器的正确性验证中实现指令级的精确结果比较，提高验证环境构建速度和可靠性，提高处理器验证效率，降低处理器验证的难度和门槛。
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公开(公告)号：CN110688094B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201910861698.9
申请日：2019-09-12
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F7/72
Abstract: 本发明属于计算机整数乘法校验设计技术领域，特别涉及一种基于并行压缩循环的余数运算电路及方法。包括多个输入端，分别用于输入多个同位宽的二进制数；模加法器，用于输出求余结果；一层或多层进位保留加法器组件，设置在多个输入端和模加法器之间；每一层进位保留加法器组件包括一个或者多个进位保留加法器；最上层的进位保留加法器的两个输出连接至模加法器的输入，其余每层进位保留加法器的和输出作为下层进位保留加法器的输入，其余每层进位保留加法器的进位输出向最左移动1位以后作为下层进位保留加法器的输入；同位宽的二进制数由整数拆分而成。仅在最后输出一级采用了模加法器，而中间级均采用进位保留加法器提高了电路的时序性能。
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公开(公告)号：CN102788952A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201210325620.3
申请日：2012-09-05
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种芯片测试方法。建立用于模拟待测芯片的芯片功能的参考模型。将随机测试激励在参考模型中运行，并且将随机测试激励的运行轨迹利用MD5算法进行压缩，以便得到一个标准参考值。将与随机测试激励一致的随机测试程序和MD5算法程序加载到芯片中，并且，所述MD5算法程序与所述第二步骤中的MD5算法相对应。使芯片运行随机测试程序。使芯片运行MD5算法程序，从而把随机测试激励的运行轨迹压缩成实际运行值。将芯片的实际运行值从芯片中扫描出来。将从芯片中扫描出来的实际运行值与参考模型的标准参考值进行比较，从而验证芯片的功能正确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110704234B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN201910861709.3
申请日：2019-09-12
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/10 , G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种存控数据传输错误注入方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种存控数据传输错误注入方法，包含如下步骤；步骤S01：抽象数据传输协议步骤，对数据传输协议进行抽象处理，从而保证错误注入与协议产生交底的耦合度；步骤S02：故障模型抽象步骤，对注错模块进行配置；步骤S03：注入方式配置步骤，对焦点及伪随机设计进行设置。本发明的目的是提供一种存控数据传输错误注入方法，能够使用统一的错误注入接口，注入定向错误或伪随机错误，提高待测设计的容错功能测试效率，大大降低测试集开发工作量。
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公开(公告)号：CN110727583B
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN201910845696.0
申请日：2019-09-09
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法，包含如下步骤：环境构成要素排序步骤：将的环境构成要素分析，根据所述构成要素的可扩展性和通用性进行排序；元素分层步骤：从底到下分成若干元素层，可扩展性和通用性最好的元素放置在最底层；验证组件形成步骤；验证环境框架定义步骤：利用脚本组件库将所述验证组件装填，构成实际运行的验证环境。本发明的目的是提供一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法，即使面对复杂芯片的验证时，依旧可以有针对性的快速构建验证环境，大大提升验证环境的构建效率。
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公开(公告)号：CN110795897B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN201910841142.3
申请日：2019-09-06
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，S01、验证环境搭建步骤、S02、激励规则制定步骤、S03、造错模块添加步骤、S04、结果验证步骤。本发明的目的是提供一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，在测试过程中，充分遍历实现BIST测试中所有可出现的错误类型，保证测试修复逻辑的正确性并提升操作效率。
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公开(公告)号：CN110704260A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201910857719.X
申请日：2019-09-11
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法，属于计算机体系结构处理器技术领域。方法包括定义IO寄存器读写测试用的父类；在部件级或芯片级的IO接口上，实现继承上述父类的测试子类。本发明不用重复开发同一IO寄存器在不同测试环境下的测试激励，显著减少测试激励开发总量，加快了IO寄存器相关的错误收敛速度，压缩了处理器验证周期。测试激励可继承性良好，易用性增强。
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公开(公告)号：CN110704234A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201910861709.3
申请日：2019-09-12
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/10 , G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种存控数据传输错误注入方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种存控数据传输错误注入方法，包含如下步骤；步骤S01：抽象数据传输协议步骤，对数据传输协议进行抽象处理，从而保证错误注入与协议产生交底的耦合度；步骤S02：故障模型抽象步骤，对注错模块进行配置；步骤S03：注入方式配置步骤，对焦点及伪随机设计进行设置。本发明的目的是提供一种存控数据传输错误注入方法，能够使用统一的错误注入接口，注入定向错误或伪随机错误，提高待测设计的容错功能测试效率，大大降低测试集开发工作量。
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