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公开(公告)号:CN102053818A
公开(公告)日:2011-05-11
申请号:CN200910198355.5
申请日:2009-11-05
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F9/38
Abstract: 一种分支预测方法及装置、处理器。所述分支预测方法包括:在取指的同时,以指令地址中的j位地址数据索引其历史模式,获得对应的k位历史模式数据;将指令的j位地址数据中的i位地址数据和k位历史模式数据进行异或运算获得n位运算结果;以n位运算结果索引所述指令在所述历史模式下的历史信息;以索引获得的历史信息数据对所述指令的下一个取指地址进行预测。所述分支预测方法及装置、处理器解决例如GAs、Gshare实现对不依赖统一历史模式而只依赖自身历史模式的情况预测不准的问题,也无需如GAs、PAs实现需要庞大的饱和计数器阵列来保存历史信息,节省了硬件开销及访问延时。
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公开(公告)号:CN102053818B
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN200910198355.5
申请日:2009-11-05
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F9/38
Abstract: 一种分支预测方法及装置、处理器。所述分支预测方法包括:在取指的同时,以指令地址中的j位地址数据索引其历史模式,获得对应的k位历史模式数据;将指令的j位地址数据中的i位地址数据和k位历史模式数据进行异或运算获得n位运算结果;以n位运算结果索引所述指令在所述历史模式下的历史信息;以索引获得的历史信息数据对所述指令的下一个取指地址进行预测。所述分支预测方法及装置、处理器解决例如GAs、Gshare实现对不依赖统一历史模式而只依赖自身历史模式的情况预测不准的问题,也无需如GAs、PAs实现需要庞大的饱和计数器阵列来保存历史信息,节省了硬件开销及访问延时。
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公开(公告)号:CN102788952B
公开(公告)日:2015-04-08
申请号:CN201210325620.3
申请日:2012-09-05
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种芯片测试方法。建立用于模拟待测芯片的芯片功能的参考模型。将随机测试激励在参考模型中运行,并且将随机测试激励的运行轨迹利用MD5算法进行压缩,以便得到一个标准参考值。将与随机测试激励一致的随机测试程序和MD5算法程序加载到芯片中,并且,所述MD5算法程序与所述第二步骤中的MD5算法相对应。使芯片运行随机测试程序。使芯片运行MD5算法程序,从而把随机测试激励的运行轨迹压缩成实际运行值。将芯片的实际运行值从芯片中扫描出来。将从芯片中扫描出来的实际运行值与参考模型的标准参考值进行比较,从而验证芯片的功能正确性。
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公开(公告)号:CN102788952A
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201210325620.3
申请日:2012-09-05
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种芯片测试方法。建立用于模拟待测芯片的芯片功能的参考模型。将随机测试激励在参考模型中运行,并且将随机测试激励的运行轨迹利用MD5算法进行压缩,以便得到一个标准参考值。将与随机测试激励一致的随机测试程序和MD5算法程序加载到芯片中,并且,所述MD5算法程序与所述第二步骤中的MD5算法相对应。使芯片运行随机测试程序。使芯片运行MD5算法程序,从而把随机测试激励的运行轨迹压缩成实际运行值。将芯片的实际运行值从芯片中扫描出来。将从芯片中扫描出来的实际运行值与参考模型的标准参考值进行比较,从而验证芯片的功能正确性。
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