用于电吸收调制半导体激光器高频封装的热沉

    公开(公告)号:CN100391067C

    公开(公告)日:2008-05-28

    申请号:CN200510090643.0

    申请日:2005-08-18

    CPC classification number: H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 一种用于电吸收调制半导体激光器高频封装的热沉,其中包括:一电介质热沉基片;一微波传输线,该微波传输线制作在电介质热沉基片的上表面的一侧,该微波传输线在电介质热沉基片的上表面形成三个端点;一薄膜电阻,该薄膜电阻制作在电介质热沉基片的上表面,形成在微波传输线的端点的尾端;多条金属电极,该多条金属电极制作在电介质热沉基片的上表面的另一侧;一地电极,该地电极制作在电介质热沉基片的下表面,且将电介质热沉基片的下表面覆盖。

    宽光谱、大功率的半导体超辐射发光二极管及制作方法

    公开(公告)号:CN100461472C

    公开(公告)日:2009-02-11

    申请号:CN200510056278.1

    申请日:2005-04-04

    Abstract: 一种宽光谱、大功率的半导体超辐射发光二极管,包括:一衬底片;一二氧化硅层,该二氧化硅层制作在衬底片上,在二氧化硅层上刻蚀出平行的宽度渐变的两个三角形二氧化硅图形;一缓冲层,该缓冲层制作在两个三角形二氧化硅图形之间;一下限制层,该下限制层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在缓冲层上;一多量子阱层,该多量子阱层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在下限制层上,形成能带结构空间变化的半导体多量子阱层结构;一上限制层,该上限制层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在多量子阱上;一包层,该包层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在上限制层上;一接触层,该接触层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在包层上。

    用于电吸收调制半导体激光器高频封装的热沉

    公开(公告)号:CN1917311A

    公开(公告)日:2007-02-21

    申请号:CN200510090643.0

    申请日:2005-08-18

    CPC classification number: H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 一种用于电吸收调制半导体激光器高频封装的热沉,其中包括:一电介质热沉基片;一微波传输线,该微波传输线制作在电介质热沉基片的上表面的一侧,该微波传输线在电介质热沉基片的上表面形成三个端点;一薄膜电阻,该薄膜电阻制作在电介质热沉基片的上表面,形成在微波传输线的端点的尾端;多条金属电极,该多条金属电极制作在电介质热沉基片的上表面的另一侧;一地电极,该地电极制作在电介质热沉基片的下表面,且将电介质热沉基片的下表面覆盖。

    宽光谱、大功率的半导体超辐射发光二极管及制作方法

    公开(公告)号:CN1848464A

    公开(公告)日:2006-10-18

    申请号:CN200510056278.1

    申请日:2005-04-04

    Abstract: 一种宽光谱、大功率的半导体超辐射发光二极管,包括:一衬底片;一二氧化硅层,该二氧化硅层制作在衬底片上,在二氧化硅层上刻蚀出平行的宽度渐变的两个三角形二氧化硅图形;一缓冲层,该缓冲层制作在两个三角形二氧化硅图形之间;一下限制层,该下限制层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在缓冲层上;一多量子阱层,该多量子阱层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在下限制层上,形成能带结构空间变化的半导体多量子阱层结构;一上限制层,该上限制层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在多量子阱上;一包层,该包层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在上限制层上;一接触层,该接触层采用金属有机物化学气相沉淀方法淀积在包层上。

    电吸收调制分布反馈半导体激光器件的制作方法

    公开(公告)号:CN1630149A

    公开(公告)日:2005-06-22

    申请号:CN200310122343.7

    申请日:2003-12-16

    Abstract: 本发明一种电吸收调制分布反馈半导体激光器的制作方法,包括如下步骤:1)在InP衬底上同一次外延中先后生长InP缓冲层、下波导层、量子阱A、InP刻蚀阻止层和多量子阱B;2)采用化学湿法选择腐蚀去掉调制器区的多量子阱B,留下多量子阱A;3)全面积在激光器区和调制器区外延生长上波导层和InP盖层;4)采用全息曝光发有选择地在激光器区制作光栅,然后全面积外延生长光栅掩盖层、1.2Q刻蚀阻止层、p型InP光限制层以及电接触层。

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