公开(公告)号：CN115479883A

公开(公告)日：2022-12-16

申请号：CN202210946096.5

申请日：2022-08-08

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 徐焕翔 ,  金志利 ,  陈梓钧 ,  赵振博 ,  朱刚 ,  刘子莲 ,  李银乐 ,  刘沛江

IPC: G01N17/00 ,  G01R31/00

Abstract: 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法应用于5G天线高分子材料，包括获取在属于相同环境应力的不同环境参数下，分别对多组目标材料进行老化试验而得到的与目标材料的多个关键特征分别对应的老化试验时间；基于与目标材料的多个关键特征分别对应的老化试验时间，从多个关键特征中确定目标材料的敏感特征；将每组环境参数下敏感特征所对应的老化试验时间，作为目标材料的材料寿命，得到与各环境参数分别对应的材料寿命；将各环境参数、以及各环境参数分别对应的材料寿命，输入与环境应力对应的寿命加速模型，得到材料寿命与环境应力的对应关系。采用本方法能够评估在实际使用环境下的5G天线高分子材料的寿命。

公开(公告)号：CN115440320A

公开(公告)日：2022-12-06

申请号：CN202210945278.0

申请日：2022-08-08

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 刘沛江 ,  徐焕翔 ,  陈泽坚 ,  肖美珍 ,  何晓 ,  李银乐 ,  赵振博

IPC: G16C60/00 ,  G06F30/20 ,  G06F119/04 ,  G06F119/14

Abstract: 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法应用于电磁屏蔽导电高分子材料，包括基于第一数量个的环境参数和第二数量个的频率子范围，构建多组试验参数；获取在各组试验参数下对目标材料分别进行老化试验而得到试验结果，每次老化试验得到的试验结果包括目标材料的多个关键特征的特征值；对于每个关键特征，根据对应于相同环境参数的老化试验而得到的相应关键特征的特征值，确定与相应关键特征对应的目标特征值；对于每个环境参数，基于各目标特征值分别达到临界值所经历的时间段，确定在相应环境参数下目标材料的材料寿命。采用本方法能够对实际使用环境下的电磁屏蔽导电高分子材料进行寿命预测。