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公开(公告)号:CN114594363A
公开(公告)日:2022-06-07
申请号:CN202210081512.X
申请日:2022-01-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种芯片定位工装。包括:底座和样品台,底座上设有第一滑轨,第一滑轨与底座滑动配合,第一滑轨相对于底座滑动的方向为第一方向;样品台上设有用于承载芯片的承载面,样品台与第一滑轨滑动配合,样品台相对于第一滑轨滑动的方向为第二方向,第一方向与第二方向相交。该芯片定位工装能够精确调整芯片与底座的相对位置,从而调整芯片与测试台面的相对位置,极大地提高了芯片测试效率和测试准确度。
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公开(公告)号:CN114518277A
公开(公告)日:2022-05-20
申请号:CN202210194092.6
申请日:2022-03-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及测试技术领域,公开了包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法。包装纸表面镀层制样方法,包括:向从包装纸上截下的镀层粗样粘有纸屑的一面涂布固化胶,固化胶用于渗透纸屑,且硬化后将纸屑固化于胶层中得到第一中间样;将第一中间样镶嵌于透明树脂内得到第二中间样;朝向镀层粗样边缘对第二中间样进行打磨,磨掉镀层的边缘。包装纸表面镀层的厚度测试方法,包括采用上述的制样方法得到镀层样本;测试镀层样本中镀层的厚度。本申请提供的方案,将厚度不准确的镀层边缘磨掉,打磨后得到样本中镀层的各层分布清晰,厚度准确,对该样本中镀层各膜层进行测试,能得到更加准确的测试结果。
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公开(公告)号:CN111328202A
公开(公告)日:2020-06-23
申请号:CN202010160534.6
申请日:2020-03-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种电阻板工装夹具,包括横向支撑组件、纵向支撑组件及紧固件。横向支撑组件包括相对设置的第一伸缩件及第二伸缩件,第一伸缩件设有第一安装孔,第二伸缩件对应设有第二安装孔。纵向支撑组件包括相对设置的第三伸缩件及第四伸缩件,第三伸缩件的两端分别连接于第一伸缩件与第二伸缩件的一端,第一伸缩件与第二伸缩件的另一端分别与第四伸缩件的两端连接。紧固件用于插设在第一安装孔、电阻板的工艺孔及第二安装孔,以将电阻板固定于横向支撑组件。电阻板需要加工时,将夹具固定好的电阻板放入设备,设备辊压设于横向支撑组件上,这样可避免设备辊直接滚压于电阻板的表面,从而提高电阻板的制作精度,进而提高生产效率和产品合格率。
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公开(公告)号:CN211831352U
公开(公告)日:2020-10-30
申请号:CN202020283502.0
申请日:2020-03-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本实用新型涉及一种电阻板工装夹具,包括横向支撑组件、纵向支撑组件及紧固件。横向支撑组件包括相对设置的第一伸缩件及第二伸缩件,第一伸缩件设有第一安装孔,第二伸缩件对应设有第二安装孔。纵向支撑组件包括相对设置的第三伸缩件及第四伸缩件,第三伸缩件的两端分别连接于第一伸缩件与第二伸缩件的一端,第一伸缩件与第二伸缩件的另一端分别与第四伸缩件的两端连接。紧固件插设在第一安装孔、电阻板的工艺孔及第二安装孔,以将电阻板固定于横向支撑组件。电阻板需要加工时,将夹具固定好的电阻板放入设备,设备辊压设于横向支撑组件上,这样可避免设备辊直接滚压于电阻板的表面,从而提高电阻板的制作精度,进而提高生产效率和产品合格率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN212390948U
公开(公告)日:2021-01-22
申请号:CN202020873917.3
申请日:2020-05-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01B5/14
Abstract: 本实用新型涉及一种标距测量机构。所述标距测量机构包括:测距本体、第一定标件、第二定标件与驱动组件,所述测距本体上设有第一刻度线,所述第一定标件与所述第二定标件均能够沿所述第一刻度线的刻度方向可移动地装设在所述测距本体上,且所述第一定标件与所述第二定标件与所述第一刻度线对位配合,所述第一定标件与所述第二定标件均与所述驱动组件相连。上述标距测量机构借助驱动组件实现了对第一定标件与第二定标件的自动控制,从而大大提高了对于铜箔的标距效率。
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公开(公告)号:CN212586467U
公开(公告)日:2021-02-23
申请号:CN202020476344.0
申请日:2020-04-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种样品导入装置及测试系统。所述样品导入装置包括基体。所述基体包括第一表面。所述第一表面包括相邻的第一区域和第二区域。所述第一区域设置有第一凸台。所述第二区域用于设置分离介质谐振器。所述第一凸台包括相邻的第一凸台面和第二凸台面。所述第一凸台面与所述第一表面平行。所述第二凸台面与所述第二区域相邻。所述第一凸台面和所述第二凸台面相接的第一棱边开设第一凹槽。第一凹槽在第二凸台面的开口用于与所述分离介质谐振器的谐振腔相对设置。第一凹槽形成导轨结构。所述样品沿所述第一凹槽导入分离介质谐振器的谐振腔,缩短了所述样品进入所述谐振腔的时间,进而提高了5G用高频材料的测试效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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