离子束装置中污染控制的装置、系统和方法

    公开(公告)号:CN108604523B

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201780008729.5

    申请日:2017-01-06

    Abstract: 一种离子束装置中污染控制的装置、系统和方法。所述装置可包含产生离子束的离子源,所述离子源耦合到第一电压。装置可进一步包含:停止元件,其安置于离子源与衬底位置之间;停止电压供应器,其耦合到停止元件;以及控制组件,其用于引导停止电压供应器以将停止电压施加到停止元件,当离子束包括正离子时,停止电压等于第一电压或比第一电压更加偏正,且当离子束包括负离子时,停止电压等于第一电压或比第一电压更加偏负,其中当将停止电压施加到停止元件时,离子束的至少一部分从初始轨迹向后经偏转为经偏转的离子。

    多层沉积装置及方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107636196A

    公开(公告)日:2018-01-26

    申请号:CN201680027712.X

    申请日:2016-05-11

    Abstract: 一种装置,可包括:提取组件,至少包括第一提取孔隙与第二提取孔隙,提取组件经设置以自等离子体至少提取第一离子束与第二离子束;靶材组件,设置为邻近提取组件且至少包括第一靶材部分(包括第一材料)与第二靶材部分(包括第二材料),第一靶材部分与第二靶材部分经配置以分别截取第一离子束与第二离子束;以及基板平台,配置为邻近靶材组件且经设置以在第一点与第二点之间沿着扫描轴扫描基板,其中第一靶材部分与第二靶材部分分别自第一点分离第一距离与第二距离,且第一距离小于第二距离。

    多层沉积处理装置
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107636196B

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201680027712.X

    申请日:2016-05-11

    Abstract: 一种处理装置,可包括:提取组件,至少包括第一提取孔隙与第二提取孔隙,提取组件经设置以自等离子体至少提取第一离子束与第二离子束;靶材组件,设置为邻近提取组件且至少包括第一靶材部分(包括第一材料)与第二靶材部分(包括第二材料),第一靶材部分与第二靶材部分经配置以分别截取第一离子束与第二离子束;以及基板平台,配置为邻近靶材组件且经设置以在第一点与第二点之间沿着扫描轴扫描基板,其中第一靶材部分与第二靶材部分分别自第一点分离第一距离与第二距离,且第一距离小于第二距离。本发明的处理装置可在一次基板扫描中于基板上沉积多个膜层,且可邻近等离子体室来提供基板。

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