真空处理装置及基板处理方法

    公开(公告)号:CN103882402B

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410146888.X

    申请日:2008-11-26

    CPC classification number: C23C14/568 H01L21/67276 H01L21/67745

    Abstract: 本发明提供一种真空处理装置(1),其串联连接多个对于被处理基板(S)进行规定处理的处理室,其中,在所述真空处理装置中设有遍及真空处理装置的多个处理室间设置的第一基板输送路(15)、和相对于第一基板输送路(15)并排设置且输送基板并同时进行各处理室内的规定处理的第二基板输送路(16),并且,在多个处理室中至少两个处理室设置有用于在第一基板输送路及第二基板输送路间使基板移动的输送路变更构件(17)。

    溅射方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103422066A

    公开(公告)日:2013-12-04

    申请号:CN201310178846.X

    申请日:2013-05-15

    Abstract: 本发明提供一种溅射法,其在对靶进行溅射成膜时,可有效地抑制产生薄膜厚度分布和薄膜质量分布的起伏,其以各靶31~34的与基板W的相对面侧为上,通过配置在各靶下方的磁铁单元41~44在各靶的上方形成隧道状的漏磁场M1、M2,在溅射中,使各磁铁单元同步地在X方向上以规定的冲程对靶做相对的往复运动,并使基板在X方向以规定的冲程对靶做相对的往复运动,使各磁铁单元和基板向相反方向移动,设置从往复运动的起点到折返位置为止的时间相等。

    薄膜形成方法及薄膜形成装置

    公开(公告)号:CN101622374B

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN200880006087.6

    申请日:2008-02-22

    CPC classification number: C23C14/34 H01J37/32743 H01J37/32752 H01J37/34

    Abstract: 在利用反应性溅镀法形成规定的薄膜时,以能够在整个处理基板表面上形成大致均匀的膜厚分布以及大致均匀的比电阻值等膜质的形态构成溅镀装置。在等间隔并列设置了相同数量的阴极靶31a~31h的多个溅镀室11a、11b之间,将处理基板S传送到与各阴极靶相向的位置,通过给该处理基板所在的溅镀室内的各阴极靶提供电力,使各阴极靶发生溅射,在处理基板表面上层叠出相同或不同的薄膜。此时,在彼此连续的溅镀室之间以使处理基板表面与各阴极靶彼此间的区域相向的位置错位的形态改变处理基板的停止位置。

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