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公开(公告)号：CN103439283A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310412796.7
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法，属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面，利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号，最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。
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公开(公告)号：CN115135109B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202210813319.0
申请日：2022-07-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H05K7/20
Abstract: 本发明提供了一种针对任意角度下倾斜使用的均温板结构及电子设备，属于热传导技术领域。解决了现有均温板任意角度下倾斜使用时均温散热性能差问题。它包括冷凝端壳板、蒸发端壳板和蒸发端吸液芯，冷凝端壳板和蒸发端壳板围合成具有中空腔体的结构，在中空腔体内设有若干第一隔离导流线和若干第二隔离导流线，所有隔离导流线均为倾斜导流线，隔离导流线交叉布置形成若干交叉点，通过隔离导流线将冷凝端壳板分隔成在平面上相互隔离的若干单元；在均温板结构处于任意角度下倾斜时，被隔离单元内被冷凝后液体工质下降到所在隔离的单元下部的隔离导流线，再沿此隔离导流线流向所在单元底部支撑柱，通过支撑柱流回蒸发端。本发明适用于电子元件散热。
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公开(公告)号：CN116164121A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202310107851.5
申请日：2023-02-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: F16K3/02 , F16K3/314 , F16K31/122 , F16K35/02
Abstract: 本发明涉及阀体技术领域，具体涉及一种压力可调自驱式快开阀及工作方法。压力可调自驱式快开阀，包括阀体底座，所述阀体底座上设有入口高压腔，所述入口高压腔内通入高压气体；阀体盖，与所述阀体底座连接，所述阀体盖上设有输出接口，所述输出接口与所述入口高压腔对应设置；阀板位于所述阀体底座与所述阀体盖之间，所述阀板上设有连接通道；驱动通道和开启通道，位于所述阀体底座内，且所述驱动通道和开启通道均与所述入口高压腔连通，所述驱动通道与所述阀板连接；该压力可调自驱式快开阀可实现快速开启，并且通过该自锁机构的设置，在阀体处于关闭状态时，自锁机构处于死点状态，阀板不能移动，实现了阀板的自锁，避免出现误操作的情况。
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公开(公告)号：CN113251208B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110525440.9
申请日：2021-05-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: F16K99/00
Abstract: 一种气控两位三通阀，属于气控调节阀控制领域。解决了现有技术中的气控两位两通阀无法适用于更为复杂的应用场合的问题。本发明气控两位三通阀为三层结构，其由上至下依次为：阀体层、阀膜层和基底层，且阀膜层夹固在阀体层和基底层之间；阀体层下表面开设有1个气源流道和3个常闭流道；阀膜层上设有通孔；基底层上表面开设有两条非连通的控制流道，当控制气控两位三通阀的气压控制信号输入口无气压输入时，气源流道与第三常闭流道相通；当气控两位三通阀的气压控制信号输入口有气压输入时，气源流道与第二常闭流道相通，实现了气控两位三通阀的功能。本发明适用于对微量流体的控制。
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公开(公告)号：CN113251207A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110521886.4
申请日：2021-05-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: F16K99/00
Abstract: 一种基于PDMS材料的气动梭阀及控制方法，属于微流控技术领域，本发明为解决了现有气动逻辑元件在微流控技术上不适用的问题。本发明包括阀体、PDMS薄膜和基底，PDMS薄膜夹持在阀体和基底之间；阀体内设置气体流道，基底内设置控制腔，气体流道与控制腔之间通过PDMS薄膜的通孔连通；通过控制PDMS薄膜的变形实现气动梭阀阀口的开闭。单向气动梭阀的控制方法为：当某一个气体流道进气口有气压输入或两个气体流道进气口同时有气体输入时，气体流道出气口输出气体，气动梭阀实现气动回路中逻辑或门的功能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110081081B
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN201910340935.7
申请日：2019-04-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: F16C32/04
Abstract: 本发明提供了一种应用于液压元件的液磁矢量支撑，属于液压元件中的摩擦副偶件领域。本发明一种应用于液压元件的液磁矢量支撑通过调节轴向磁力单元和径向磁力单元的磁力大小进一步对高压液膜厚度进行闭环控制，可避免摩擦副出现磨损，同时最大程度减小油液泄漏，提高液压元件的效率和使用寿命。在摩擦副运动偶件侧面安装铁芯，正对位置处设有径向磁力单元，其两侧对称布置轴向磁力单元，共同构成磁力单元组，在径向摩擦副静止偶件和轴向摩擦副静止偶件上分别安装径向位移传感器和轴向位移传感器用于监测高压液膜的厚度，高压液膜厚度的变化信息反馈到径向磁力单元和轴向磁力单元并对其产生的磁场进行削弱或加强，保持高压液膜厚度在理想范围内。
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公开(公告)号：CN104181128B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410418533.1
申请日：2014-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/47
Abstract: 基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，涉及材料物性测量技术领域。它是为了解决传统辐射物性参数的测量物件测量过程中存在信噪比低、动态范围小的问题。本发明可以同时测量多个辐射物性，稳定性同比提高了20％，可用于航空航天、生物医疗、燃烧诊断、光学探测及无损探伤等工程领域。时间相关单光子计数技术是一种具有高时间分辨率可用于极微弱光信号探测的技术，单光子计数器具有受探测器不稳定因素的影响小、信噪比高、动态范围宽、设备便宜以及可以输出数字信号便于数据处理等优点。本发明适用于材料物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103411905B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201310369795.9
申请日：2013-08-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，它涉及一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，本发明是要解决现有基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量信息量不足和测量结果误差较大的问题。本发明方法通过如下步骤来实现：一、获得试件的时域半球反射信号曲线R(t)；二、获得试件在N组工况下的时域半球反射信号曲线Ri,mea(t)；三、获得计算域内的辐射强度场；四、获得试件x=0左侧边界上的时域半球反射信号的估计值Ri,est(t)；五、获得逆问题算法中的目标函数值Fobj；六、获得待测介质的吸收系数κa和待测介质的散射系数κs。本发明可应用于参与性介质辐射物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103389272B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310331875.5
申请日：2013-08-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光的半透明介质衰减系数和散射反照率的快速测量方法，属于半透明介质辐射物性测量技术领域。本发明解决了基于逆问题求解的半透明介质辐射测量方法测量速度缓慢的问题，本发明向半透明待测试件的一侧表面涂覆上黑度涂层，利用高斯脉冲激光光束垂直入射到试件无涂层的一侧表面，采用单光子计数器测量半透明介质时域半球反射信号；设定待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω的值，时域半球反射信号的估计值与用单光子计数器测量半透明介质的时域半球反射信号做最小二乘差值；判断该差值是否小于阈值，若是将设定的待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω作为结果。本发明适用于半透明介质辐射物性测量。
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公开(公告)号：CN103454244B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310412799.0
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多频调制激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，属于半透明介质辐射特性测量技术领域。本发明为了解决半透明介质辐射特性测量中，单次测量信息的测量结果误差较大的问题。它基于多频调制激光辐照技术，利用多频调制激光照射具有一定黑度涂层的半透明介质表面，通过改变激光调制频率、激光入射角度、试件厚度及试件涂层黑度来获得多组边界处的频域半球反射信号，基于这些反射信号结合逆问题求解技术获得半透明介质的辐射物性参数。本发明用于测量半透明介质辐射特性。
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