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公开(公告)号：CN103439283B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201310412796.7
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法，属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面，利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号，最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。
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公开(公告)号：CN103472033B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201310467760.9
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种利用连续激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明通过建立球形颗粒系反射信号和透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用连续激光，测量得到颗粒系的半球反射信号和半球透射信号，采用现有Mie理论模型，能很精确的反应出颗粒的电磁散射特性。本发明适用于测量球形颗粒光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103471968A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310467043.6
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/00
Abstract: 一种利用单频调制激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域。解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。通过建立球形颗粒系频域反射信号和频域透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用粒度分析仪测量得到颗粒系的粒径分布情况，最后基于这些信号结合逆问题求解技术获得颗粒的光谱复折射率在已知颗粒其他物性参数的前提下，结合频域辐射传输模型，运用Mie理论结合微粒群优化算法反演获得球形颗粒光谱复折射率的方法。本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103487356B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310467042.1
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系，测量颗粒系的反射信号和透射信号，用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况，运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率，本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103487356A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310467042.1
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系，测量颗粒系的反射信号和透射信号，用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况，运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率，本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103454244A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310412799.0
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多频调制激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，属于半透明介质辐射特性测量技术领域。本发明为了解决半透明介质辐射特性测量中，单次测量信息的测量结果误差较大的问题。它基于多频调制激光辐照技术，利用多频调制激光照射具有一定黑度涂层的半透明介质表面，通过改变激光调制频率、激光入射角度、试件厚度及试件涂层黑度来获得多组边界处的频域半球反射信号，基于这些反射信号结合逆问题求解技术获得半透明介质的辐射物性参数。本发明用于测量半透明介质辐射特性。
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公开(公告)号：CN108362733B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201810143017.0
申请日：2018-02-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法，涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置，然后将背景材料光学和热物性赋给内含物，作为内含物的光学和热物性初始值，通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数；基于重建半透明材料光热特性分布的LIT‑SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。
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公开(公告)号：CN108362733A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201810143017.0
申请日：2018-02-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法，涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置，然后将背景材料光学和热物性赋给内含物，作为内含物的光学和热物性初始值，通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数；基于重建半透明材料光热特性分布的LIT-SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。
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公开(公告)号：CN103471968B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201310467043.6
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/00
Abstract: 一种利用单频调制激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域。解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。通过建立球形颗粒系频域反射信号和频域透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用粒度分析仪测量得到颗粒系的粒径分布情况，最后基于这些信号结合逆问题求解技术获得颗粒的光谱复折射率在已知颗粒其他物性参数的前提下，结合频域辐射传输模型，运用Mie理论结合微粒群优化算法反演获得球形颗粒光谱复折射率的方法。本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103411905B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201310369795.9
申请日：2013-08-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，它涉及一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，本发明是要解决现有基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量信息量不足和测量结果误差较大的问题。本发明方法通过如下步骤来实现：一、获得试件的时域半球反射信号曲线R(t)；二、获得试件在N组工况下的时域半球反射信号曲线Ri,mea(t)；三、获得计算域内的辐射强度场；四、获得试件x=0左侧边界上的时域半球反射信号的估计值Ri,est(t)；五、获得逆问题算法中的目标函数值Fobj；六、获得待测介质的吸收系数κa和待测介质的散射系数κs。本发明可应用于参与性介质辐射物性测量技术领域。
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