可改变工作波长且无光线偏移的滤光器及其使用方法

    公开(公告)号:CN101206312B

    公开(公告)日:2011-04-13

    申请号:CN200610165536.4

    申请日:2006-12-21

    Abstract: 一种可改变工作波长且无光线偏移的滤光器,包括:一底板;一第一旋转台安装在底板上面一侧的上方;一第二旋转台安装在底板上面另一侧的上方;第一晶片固定器固定在第一旋转台上中央位置;一第二晶片固定器固定在第二旋转台上中央位置;一薄膜干涉滤光片安装在第一晶片固定器上;一光学晶片组安装在第二晶片固定器上;一丝轴基座固定在底板上中间的上端;一丝轴的一端安装在丝轴基座上;一滑块安装在丝轴上,其上部还带有可以滑轨配合的凸状卡头;一步进电机安装在底板中间的下端,与丝轴的另一端连接;一第一杆件的一端固定于第一旋转台上;一第二杆件的一端固定于第二旋转台上。

    一种谐振腔增强探测器腔模的控制方法

    公开(公告)号:CN101471396A

    公开(公告)日:2009-07-01

    申请号:CN200710304257.6

    申请日:2007-12-26

    CPC classification number: H01J23/20 G01N21/65

    Abstract: 本发明一种谐振腔增强探测器腔模的控制方法,包括:1)设计谐振腔增强探测器的腔模,初始设置探测器每一个结构层的厚度,由分子束外延设备生长样品;2)采用显微拉曼光谱仪测量样品的反射谱,得到高反带的中心位置以及样品实际腔模位置;3)运用模拟程序,计算出与实际样品高反带完全对应的砷化镓层的厚度,砷化铝层的厚度以及与实际腔模完全对应所要求的腔体的厚度;4)根据步骤3)所得数据对第一次生长样品高反带的砷化镓层厚度、砷化铝层厚度以及腔体厚度进行校正,并对分子束外延设生长样品的时间参数进行校正,生长出新样品。5)采用显微拉曼光谱仪测量新样品反射谱。

    改变陷波滤波器工作波长和延长寿命的结构及其方法

    公开(公告)号:CN1928619A

    公开(公告)日:2007-03-14

    申请号:CN200510098382.7

    申请日:2005-09-09

    Inventor: 谭平恒 朱汇 章昊

    Abstract: 一种改变陷波滤波器工作波长和延长其使用寿命的结构及其使用方法,该结构包括底板、陷波滤波器、光学晶片组、晶片固定器和转动装置。将转动装置安放在底板上,用晶片固定器固定陷波滤波器和与之匹配的光学晶片组,并将它们安装在设计的转动装置上,通过转动装置改变陷波滤波器和光学晶片组的角度,可以在很宽范围内调节陷波滤波器的工作波长,大大延长陷波滤波器的使用寿命。本发明可应用于激光拉曼光谱及荧光光谱等技术中。

    磁圆二向色性光电导谱测量系统

    公开(公告)号:CN102680408B

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201210150271.6

    申请日:2012-05-15

    Abstract: 本发明公开了一种磁圆二向色性光电导谱测量系统,包括:液氦制冷机与低温超导磁体系统、超连续白光光源、单色仪、斩波器、格兰泰勒棱镜、光弹调制器、消色差透镜、电流源、两台锁相放大器、以及计算机。利用本发明,可以测量磁圆二向色性光电导谱(PC-MCD),从而可以进一步研究物质的磁性质以及与自旋相关的能带结构和特性。

    具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统

    公开(公告)号:CN102023141B

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN200910093882.X

    申请日:2009-09-23

    Abstract: 一套具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统,包括:一掺钛蓝宝石激光器,在其出射光路上依次排列有斩波器、宽波段线偏振片、光弹调制器、第一宽带消偏振分光棱镜、第二宽带消偏振分光棱镜、第一物镜和液氮杜瓦;该第二宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包扩一摄像头及与其连接的显示器,在摄像头之后的光路上有一第二物镜,在第二物镜之后通过光纤连接有一单色仪及其配套的探测器;斩波器与一控制器连接;光弹调制器与一控制器连接;第一宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包括一照明光源及探测器;第二宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包扩一摄像头及与其连接的显示器;一钕铁硼永磁体,同轴但不接触地套在液氮杜瓦的前端;还包括一直流电流源,其两个输出端口通过导线与样品连接。

    一种偏振分辨的差分反射谱测量系统

    公开(公告)号:CN102095689B

    公开(公告)日:2012-08-15

    申请号:CN201010596245.7

    申请日:2010-12-20

    Inventor: 申超 朱汇 吴昊

    Abstract: 本发明公开了一种偏振分辨的差分反射谱测量系统,包括:一液氮杜瓦;一手动三维平移台;一消色差透镜;一激震器用于周期性震动透镜;一宽波段四分之一波长波片;一双输出格兰泰勒棱镜;一宽波段线偏振片以及一宽波长二分之一波长波片;一单色仪;一超连续白光光源;一探测器;两台锁相放大器;以及一斩波。利用本发明,通过配备低温杜瓦,可以测量样品在77K至300K之间的偏振分辨差分反射谱,从而可以进一步研究分析物质与自旋相关的能带结构和特性。

    分析光学元件保偏特性的方法

    公开(公告)号:CN101943630B

    公开(公告)日:2012-03-07

    申请号:CN200910088591.1

    申请日:2009-07-08

    Inventor: 吴昊 郑厚植 朱汇

    Abstract: 一种分析光学元件保偏特性的方法,包括:由第一宽波段线偏振片和第一宽波段四分之一波长波片组成极化单元,由第二宽波段四分之一波长波片和第二宽波段线偏振片组成检测单元,在同一光路上依次排列有激光器、极化单元、检测单元和光功率计;调节极化单元和调节检测单元;在极化单元和检测单元之间插入待测的光学元件;读取光功率计的读数,若待测光学元件对入射光的偏振状态有所改变,光功率计的读数将有所增加;若待测光学元件对入射光的偏振状态没有改变,则光功率计的读数不变,仍然只反映环境光的强度。

Patent Agency Ranking