公开(公告)号：CN102680408B

公开(公告)日：2014-04-23

申请号：CN201210150271.6

申请日：2012-05-15

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 黄学骄 ,  王丽国 ,  申超 ,  朱汇

IPC: G01N21/19

Abstract: 本发明公开了一种磁圆二向色性光电导谱测量系统，包括：液氦制冷机与低温超导磁体系统、超连续白光光源、单色仪、斩波器、格兰泰勒棱镜、光弹调制器、消色差透镜、电流源、两台锁相放大器、以及计算机。利用本发明，可以测量磁圆二向色性光电导谱(PC-MCD)，从而可以进一步研究物质的磁性质以及与自旋相关的能带结构和特性。

公开(公告)号：CN102707361B

公开(公告)日：2014-03-05

申请号：CN201210184311.9

申请日：2012-06-06

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 李轲 ,  王丽国 ,  黄学骄 ,  贺振鑫

IPC: G02B5/20

Abstract: 本发明公开了一种双层光学滤色结构，包括：具有周期性圆孔的金属银层，该周期性圆孔构成圆孔阵列；以及位于该金属银层正上方的由金属银构成的圆环阵列，该圆环阵列正对于该圆孔阵列。本发明提供的基于金属银材料的由圆孔阵列和圆环阵列构成的双层光学滤色结构，是在单层打有圆孔阵列的金属银层的上方再加上一层金属银的圆环阵列，同时将下层的金属银层减薄，并且将圆孔增大，这样可以使得在这种双层结构的下表面激发更强的表面等离激元，从而所导致的增透光强更强，提高透射信号的抑制比，并且透射曲线的线型更加光滑、对称性更强。而且，本发明提供的结构可以通过调节圆孔、圆环阵列的周期来选择所需要的透射波长。

公开(公告)号：CN102707361A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201210184311.9

申请日：2012-06-06

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 李轲 ,  王丽国 ,  黄学骄 ,  贺振鑫

IPC: G02B5/20

Abstract: 本发明公开了一种双层光学滤色结构，包括：具有周期性圆孔的金属银层，该周期性圆孔构成圆孔阵列；以及位于该金属银层正上方的由金属银构成的圆环阵列，该圆环阵列正对于该圆孔阵列。本发明提供的基于金属银材料的由圆孔阵列和圆环阵列构成的双层光学滤色结构，是在单层打有圆孔阵列的金属银层的上方再加上一层金属银的圆环阵列，同时将下层的金属银层减薄，并且将圆孔增大，这样可以使得在这种双层结构的下表面激发更强的表面等离激元，从而所导致的增透光强更强，提高透射信号的抑制比，并且透射曲线的线型更加光滑、对称性更强。而且，本发明提供的结构可以通过调节圆孔、圆环阵列的周期来选择所需要的透射波长。

公开(公告)号：CN102680408A

公开(公告)日：2012-09-19

申请号：CN201210150271.6

申请日：2012-05-15

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 黄学骄 ,  王丽国 ,  申超 ,  朱汇

IPC: G01N21/19

Abstract: 本发明公开了一种磁圆二向色性光电导谱测量系统，包括：液氦制冷机与低温超导磁体系统、超连续白光光源、单色仪、斩波器、格兰泰勒棱镜、光弹调制器、消色差透镜、电流源、两台锁相放大器、以及计算机。利用本发明，可以测量磁圆二向色性光电导谱(PC-MCD)，从而可以进一步研究物质的磁性质以及与自旋相关的能带结构和特性。