一种兼容AHB协议的非握手式JTAG调试链路及其调试方法

    公开(公告)号:CN107577635B

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN201710758156.X

    申请日:2017-08-29

    Abstract: 本发明公开了一种兼容AHB协议的非握手式JTAG调试链路及其调试方法,包括一侧设置有对外JTAG标准接口,另一侧设置有AHB标准主机接口的串并转换单元,所述串并转换单元利用IEEE1149.1协议自定义TAP控制器指令,通过扩展指令实现与AHB协议的无缝对接,依靠信息的相互解析,将上位机发出的高速串行调试命令映射到芯片内部的通信通道上,以模拟主机的行为向芯片全系统发出访问命令,然后将系统运行的关键状态信息重新转换成串行数据返回上位机。本发明相对传统调试手段速度更高、稳定性更好,且复用了标准DFT的JTAG接口,节省了芯片的管脚资源,构建了标准的JTAG接口和片上AMBA总线的转换通道,具有较高的实用价值和通用性。

    一种具有上下电过程输出状态控制的双电源三态输出电路及其工作方法

    公开(公告)号:CN119906413A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202411703776.X

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本发明提出一种具有上下电过程输出状态控制的双电源三态输出电路及其工作方法,包括逻辑控制电路,弱上下拉电平转换电路,驱动电路;逻辑控制电路由内核逻辑电压供电,弱上下拉电平转换电路由输入输出单元电压和内核逻辑电压供电,驱动电由输入输出单元电压供电。针对输入输出单元电压供电、内核逻辑电压未供电的情况,通过在三态输出单元中增加输入输出电压供电的弱上下拉电路,在内核逻辑电压没有供电时,控制三态输出单元电平转换电路的输入节点电压,让驱动电路中的上拉驱动管和下拉驱动管都处于关闭状态,确保此时三态输出单元工作在三态模式,避免应用系统出现大电流的异常工作情况,避免总线出现信号竞争而引起大电流的问题。

    一种适用于测试DDR3物理层电气功能的测试芯片

    公开(公告)号:CN112466381B

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202011349788.9

    申请日:2020-11-26

    Abstract: 本发明公开了一种适用于测试DDR3物理层电气功能的测试芯片,属于电子测试技术领域。本发明的适用于测试DDR3物理层电气功能的测试芯片,将JTAG接口作为指令的发送端口,测试数据由电路自行产生,从而将指令与数据的通路分隔开来,成功地避免了低速接口的带宽限制问题,使得DDR能够在全速工作下运行;同时还保留了低速接口的调试功能,实现低速与高速之间的切换。本发明通过将数据和待测模块集成的方式,方便观察测试结果,同时使得测试系统微型化,操作简单易行,具有很好的应用前景。本发明克服了现有的DDR测试方法不能测试DDR在全速运行下功能是否正常的缺点。

    一种基于RISC-V指令扩展的安全协处理器结构

    公开(公告)号:CN111324383B

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN202010131301.3

    申请日:2020-02-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于RISC‑V指令扩展的安全协处理器结构,专用指令执行单元和通用指令执行单元分别与输出结果控制连接,处理器主流水线译码级给出的安全指令编码逻辑根据指令编码进行详细译码并将指令发送给专用指令执行单元或通用指令执行单元,指令执行完毕后通过输出结果控制逻辑将运算结果输出给处理器主流水线的写回级,由处理器主流水线实现通用寄存器的写回操作。本发明不仅避免了指令集授权问题,同时有效降低了对原始处理器的侵入性,并且扩大了对加解密算法的适用范围,具有较高的应用价值。

    一种自适应双标分量极值对比判决反馈均衡电路

    公开(公告)号:CN113992486A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111258552.9

    申请日:2021-10-27

    Abstract: 本发明一种自适应双标分量极值对比判决反馈均衡电路,包括两抽头滤波器、阈值自适应单元、比较电路、时延单元、双标幅值均衡判决电路、系数更新单元和缓冲器;两抽头滤波器的输入端用于接收输入信号VIN,两抽头滤波器的输出端分别连接阈值自适应单元的输入端和比较电路的输入端,比较电路的输出端分别连接时延单元的输入端、双标幅值均衡判决电路的输入端和缓冲器的输入端,缓冲器用于输出信号VOUT;时延单元的输出端和阈值自适应单元的输出端均连接双标幅值均衡判决电路的输入端,双标幅值均衡判决电路的输出端连接系数更新单元的输入端,系数更新单元的输出端反馈连接两抽头滤波器的输入端。降低信号传输误码率,优化判决反馈均衡电路设计结构。

    一种适用于测试DDR3物理层电气功能的测试芯片

    公开(公告)号:CN112466381A

    公开(公告)日:2021-03-09

    申请号:CN202011349788.9

    申请日:2020-11-26

    Abstract: 本发明公开了一种适用于测试DDR3物理层电气功能的测试芯片,属于电子测试技术领域。本发明的适用于测试DDR3物理层电气功能的测试芯片,将JTAG接口作为指令的发送端口,测试数据由电路自行产生,从而将指令与数据的通路分隔开来,成功地避免了低速接口的带宽限制问题,使得DDR能够在全速工作下运行;同时还保留了低速接口的调试功能,实现低速与高速之间的切换。本发明通过将数据和待测模块集成的方式,方便观察测试结果,同时使得测试系统微型化,操作简单易行,具有很好的应用前景。本发明克服了现有的DDR测试方法不能测试DDR在全速运行下功能是否正常的缺点。

    一种针对FPGA内嵌TAP接口的调试链路及调试方法

    公开(公告)号:CN107608846B

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN201710765377.X

    申请日:2017-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种针对FPGA内嵌TAP接口的调试链路及调试方法,通过设置一个UART串口作为片上互连总线上的主机,为调试软件提供发起片上访问的通信链路,并将用户自定义的JTAG与TAP链路上的观测点以从机的形式也映射到片上互连总线的虚拟从机中,通过串口调试软件实时检查观测点的状态,确认用户自定义设计的正确性。本发明具有调试范围广泛、可观性高且易于操作的特点,所需要的软硬件环境都是成熟设计,无需新增研发任务即可快速实现调试目的,相对于示波器调试需要反复修改和综合设计,本发明将观测点大规模的集成于片上可寻址空间,只需要一次设计就可完成所有的调试任务,能够大幅度缩短调试周期。

    一种具有自刷新功能的抗单粒子翻转效应异步分频电路

    公开(公告)号:CN108847842A

    公开(公告)日:2018-11-20

    申请号:CN201810574786.6

    申请日:2018-06-05

    Abstract: 本发明一种具有自刷新功能的抗单粒子翻转效应异步分频电路,包括多数表决电路和并联的三级计数分频模块,计数分频模块包括分频数配置电路和计数器电路。采用冗余结构、多数表决电路和自刷新方法大幅提升异步分频电路的抗单粒子翻转效应;通过冗余表决方式抑制单个分频电路中发生的单粒子翻转事件,且利用多数表决后输出频率信号对三个计数分频模块进行实时刷新控制,确保三个计数分频模块工作状态一致,消除了单粒子翻转效应在计数分频模块中的时序错误状态累积,大幅降低了异步分频电路的单粒子翻转概率,提高了集成电路在空间应用环境的可靠性。

    一种针对FPGA内嵌TAP接口的调试链路及调试方法

    公开(公告)号:CN107608846A

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201710765377.X

    申请日:2017-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种针对FPGA内嵌TAP接口的调试链路及调试方法,通过设置一个UART串口作为片上互连总线上的主机,为调试软件提供发起片上访问的通信链路,并将用户自定义的JTAG与TAP链路上的观测点以从机的形式也映射到片上互连总线的虚拟从机中,通过串口调试软件实时检查观测点的状态,确认用户自定义设计的正确性。本发明具有调试范围广泛、可观性高且易于操作的特点,所需要的软硬件环境都是成熟设计,无需新增研发任务即可快速实现调试目的,相对于示波器调试需要反复修改和综合设计,本发明将观测点大规模的集成于片上可寻址空间,只需要一次设计就可完成所有的调试任务,能够大幅度缩短调试周期。

    一种高速采样器电路、一种高速采样器及采样方法

    公开(公告)号:CN116599532A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310564952.5

    申请日:2023-05-18

    Abstract: 本发明公开一种高速采样器电路、一种高速采样器及采样方法,该抗辐射加固高速采样器电路,包括PMOS管M1,PMOS管M2,PMOS管M3,PMOS管M6,PMOS管M11,PMOS管M9,NMOS管M4,NMOS管M7,NMOS管M5,NMOS管M8,NMOS管M10,电流源Is1以及电流源Is2;该高速采样器电路设计有两个等效的电流源Is,用来补偿粒子辐照引起的节点Vout1和Vout2的扰动,电流源Is的设置增大了电路结构的抗单粒子翻转的临界电荷,增加了该结构在采样过程中的抗辐射性能。

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