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公开(公告)号：CN1057363A
公开(公告)日：1991-12-25
申请号：CN91103772.1
申请日：1991-05-10
Applicant: 斯皮拉尔研究发展公司
CPC classification number: G01Q30/16 , G02B21/24 , H01J37/20 , Y10S977/86 , Y10S977/861 , Y10S977/869 , Y10S977/871 , Y10S977/881 , Y10S977/888
Abstract: 本发明涉及一种用于研究放置在真空或在保护气体中的样品表面的装置。其结构包括一个主工作室，在该室中置有一个用于安装至少一个称为SXM部件的支承平板，该部件是借助于电或光导探针，利用对样品表面扫描来进行样品表面的显微检查，光谱分析或蚀刻。所述装置特征在于，支承平板能够从工作室中卸下，并且围绕中轴自行旋转，使得允许使用装在所述平板周边上的一套SXM部件。它应用于扫描隧道显微检查和/或光谱分析或利用光和/或电子微刻处理。
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公开(公告)号：CN1230669C
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN02143466.2
申请日：2002-06-26
Applicant: 北海道大学
CPC classification number: G01Q60/54 , G01Q70/12 , G01Q70/18 , Y10S977/838 , Y10S977/869 , Y10S977/876
Abstract: 一种扫描探针显微镜，包括悬臂。形成于所述悬臂上的探针，在探针最前端形成具有椅型晶体结构或其最前端经改性分子进行化学改性的碳纳米管。自旋极化电子束源，其连接到所述碳纳米管并且与所述碳纳米管无关地被提供。
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公开(公告)号：CN101176167A
公开(公告)日：2008-05-07
申请号：CN200580032008.5
申请日：2005-09-23
Applicant: 利兰·斯坦福青年大学托管委员会
CPC classification number: G01Q60/02 , G01Q60/38 , G01Q60/60 , Y10S977/86 , Y10S977/869 , Y10S977/875
Abstract: 提供了用于进行电学、电化学或形貌分析的传感器和系统，以及制造这些传感器的方法。所述传感器包括悬臂和一个或多个探针，每个探针的尖端具有一个电极。所述探针的尖端是尖锐的，曲率半径约小于50纳米。另外，所述探针具有约大于19∶1的高长宽比。所述传感器适用于原子力显微镜和扫描电化学显微镜。
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公开(公告)号：CN1274583C
公开(公告)日：2006-09-13
申请号：CN03104273.2
申请日：2003-02-08
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: B82B3/00
CPC classification number: H01L51/105 , B82Y10/00 , H01L51/0021 , H01L51/0048 , Y10S977/869 , Y10S977/873 , Y10T29/4902 , Y10T29/49099 , Y10T29/49117 , Y10T29/49174
Abstract: 本发明提供一种良好且高重复性的使碳纳米管和电极进行欧姆接触的碳纳米管器件的制作方法，及被欧姆接触了的碳纳米管器件。碳纳米管器件的制作方法，包含使碳纳米管与内部电极连接的连接工序，其特征在于，上述连接工序包含：导体附着工序，在针状或者棒状的外部电极的端部或其周边附着导体；配置工序，使上述碳纳米管与上述内部电极的预定的连接部位接触或者接近地配置；接近工序，使附着了导体的上述外部电极的端部与上述连接部位接近；转移工序，使附着在上述外部电极上的导体向上述连接部位或其周边移动，以使上述碳纳米管和上述内部电极连接。
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公开(公告)号：CN102023148B
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201010508336.0
申请日：2006-05-05
Applicant: 斯蒂尔奥尼克国际公司
Inventor： 安德烈·阿莱克谢耶维奇·克利莫夫 , 德米特里·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 叶夫根尼·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 塔蒂阿娜·维塔利耶夫娜·克利莫夫
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , H04N7/18 , H04N13/275 , Y10S977/84 , Y10S977/868 , Y10S977/869 , Y10S977/881 , Y10T436/143333 , Y10T436/25
Abstract: 本发明涉及借助荧光显微镜对由荧光着色剂染色的物体实施分析。显微镜包括用于使样本图像可视化并将其投射到摄像机上的光学系统、用于记录和处理图像的计算机、布置在样本透镜前面的样本保持器以及荧光放射源。单独荧光可视的分子和纳米颗粒在物体不同的部分周期性的形成。激光产生的振荡足以记录所述分子和纳米颗粒的非重叠图形并使已经得到记录的荧光分子脱色。所记录的单个分子和纳米颗粒图像的画面通过计算机进行处理，以研究应变中心的坐标并根据与各个荧光分子和纳米颗粒的坐标相对应的应变中心的计算坐标建立物体图像。所述本发明可以获得分辨率大于20纳米的二维和三维图像并通过用不同的着色剂使蛋白质、核酸和脂类染色来记录彩色图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102023148A
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN201010508336.0
申请日：2006-05-05
Applicant: 安德烈·阿莱克谢耶维奇·克利莫夫
Inventor： 安德烈·阿莱克谢耶维奇·克利莫夫 , 德米特里·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 叶夫根尼·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 塔蒂阿娜·维塔利耶夫娜·克利莫夫
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , H04N7/18 , H04N13/275 , Y10S977/84 , Y10S977/868 , Y10S977/869 , Y10S977/881 , Y10T436/143333 , Y10T436/25
Abstract: 本发明涉及借助荧光显微镜对由荧光着色剂染色的物体实施分析。显微镜包括用于使样本图像可视化并将其投射到摄像机上的光学系统、用于记录和处理图像的计算机、布置在样本透镜前面的样本保持器以及荧光放射源。单独荧光可视的分子和纳米颗粒在物体不同的部分周期性的形成。激光产生的振荡足以记录所述分子和纳米颗粒的非重叠图形并使已经得到记录的荧光分子脱色。所记录的单个分子和纳米颗粒图像的画面通过计算机进行处理，以研究应变中心的坐标并根据与各个荧光分子和纳米颗粒的坐标相对应的应变中心的计算坐标建立物体图像。所述本发明可以获得分辨率大于20纳米的二维和三维图像并通过用不同的着色剂使蛋白质、核酸和脂类染色来记录彩色图像。
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公开(公告)号：CN1405546A
公开(公告)日：2003-03-26
申请号：CN02143466.2
申请日：2002-06-26
Applicant: 北海道大学
CPC classification number: G01Q60/54 , G01Q70/12 , G01Q70/18 , Y10S977/838 , Y10S977/869 , Y10S977/876
Abstract: 本发明提供一种扫描探针显微镜，其中在探针最前端形成具有椅型晶体结构或其最前端经改性分子进行化学改性的碳纳米管。
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公开(公告)号：CN101228428B
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：CN200680026457.3
申请日：2006-05-05
Applicant: 斯蒂尔奥尼克国际公司
Inventor： 安德烈·阿莱克谢耶维奇·克利莫夫 , 德米特里·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 叶夫根尼·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 塔蒂阿娜·维塔利耶夫娜·克利莫夫
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , H04N7/18 , H04N13/275 , Y10S977/84 , Y10S977/868 , Y10S977/869 , Y10S977/881 , Y10T436/143333 , Y10T436/25
Abstract: 本发明涉及借助荧光显微镜对由荧光着色剂染色的物体实施分析。显微镜包括用于使样本图像可视化并将其投射到摄像机上的光学系统、用于记录和处理图像的计算机、布置在样本透镜前面的样本保持器以及荧光放射源。单独荧光可视的分子和纳米颗粒在物体不同的部分周期性的形成。激光产生的振荡足以记录所述分子和纳米颗粒的非重叠图形并使已经得到记录的荧光分子脱色。所记录的单个分子和纳米颗粒图像的画面通过计算机进行处理，以研究应变中心的坐标并根据与各个荧光分子和纳米颗粒的坐标相对应的应变中心的计算坐标建立物体图像。所述本发明可以获得分辨率大于20纳米的二维和三维图像并通过用不同的着色剂使蛋白质、核酸和脂类染色来记录彩色图像。
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公开(公告)号：CN101228428A
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200680026457.3
申请日：2006-05-05
Applicant: 安德烈·阿莱克谢耶维奇·克利莫夫
Inventor： 安德烈·阿莱克谢耶维奇·克利莫夫 , 德米特里·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 叶夫根尼·安德烈耶维奇·克利莫夫 , 塔蒂阿娜·维塔利耶夫娜·克利莫夫
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , H04N7/18 , H04N13/275 , Y10S977/84 , Y10S977/868 , Y10S977/869 , Y10S977/881 , Y10T436/143333 , Y10T436/25
Abstract: 本发明涉及借助荧光显微镜对由荧光着色剂染色的物体实施分析。显微镜包括用于使样本图像可视化并将其投射到摄像机上的光学系统、用于记录和处理图像的计算机、布置在样本透镜前面的样本保持器以及荧光放射源。单独荧光可视的分子和纳米颗粒在物体不同的部分周期性的形成。激光产生的振荡足以记录所述分子和纳米颗粒的非重叠图形并使已经得到记录的荧光分子脱色。所记录的单个分子和纳米颗粒图像的画面通过计算机进行处理，以研究应变中心的坐标并根据与各个荧光分子和纳米颗粒的坐标相对应的应变中心的计算坐标建立物体图像。所述本发明可以获得分辨率大于20纳米的二维和三维图像并通过用不同的着色剂使蛋白质、核酸和脂类染色来记录彩色图像。
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公开(公告)号：CN1436717A
公开(公告)日：2003-08-20
申请号：CN03104273.2
申请日：2003-02-08
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: B82B3/00
CPC classification number: H01L51/105 , B82Y10/00 , H01L51/0021 , H01L51/0048 , Y10S977/869 , Y10S977/873 , Y10T29/4902 , Y10T29/49099 , Y10T29/49117 , Y10T29/49174
Abstract: 本发明提供一种良好且高重复性的使碳纳米管和电极进行欧姆接触的碳纳米管器件的制作方法，及被欧姆接触了的碳纳米管器件。碳纳米管器件的制作方法，包含使碳纳米管与内部电极连接的连接工序，其特征在于，上述连接工序包含：导体附着工序，在针状或者棒状的外部电极的端部或其周边附着导体；配置工序，使上述碳纳米管与上述内部电极的预定的连接部位接触或者接近地配置；接近工序，使附着了导体的上述外部电极的端部与上述连接部位接近；转移工序，使附着在上述外部电极上的导体向上述连接部位或其周边移动，以使上述碳纳米管和上述内部电极连接。
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