电压电平移位器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103297034A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201210047612.7

    申请日:2012-02-28

    CPC classification number: H03K3/356182

    Abstract: 本发明涉及电压电平移位器。电压电平移位器具有输入电路,其具有耦接到输入节点的反相器、栅极耦接到所述反相器的第一节点的下拉控制晶体管、以及栅极耦接到所述反相器的第二节点的上拉控制晶体管。下拉和上拉控制晶体管的源极耦接到低参考电压。瞬态连通性限制器(TCL)具有下拉和上拉晶体管。两个控制输入耦接到所述反相器的相应的第一和第二节点,并且路径输入耦接到下拉和上拉控制晶体管的相应的漏极。输出电路具有耦接到TCL的上拉和下拉节点的输入。在输入节点处的电压电平转换期间,TCL通过TCL上拉晶体管从饱和操作区转换到亚阈值而将上拉节点连接到所述低参考电压。

    片上电流测试电路
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105092930A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201410187126.4

    申请日:2014-05-06

    CPC classification number: G01R31/3187 G01R31/2886

    Abstract: 本发明涉及片上电流测试电路。公开了一种包括处理器的集成电路,该集成电路还具有用于间接地测量处理器中的静态电流的片上电流测试电路。集成电路的供电电压引脚接收来自外部测试单元的供电电压以给处理器提供电力。当处理器与供电电压隔离并且时钟信号停止时,片上测试电路在预定的测试期T内测量处理器两端的电压变化。电压变化提供对与处理器对应的静态电流的指示。

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