用于SoC中Flexray总线控制器的验证系统及方法

    公开(公告)号:CN114970428A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210641212.2

    申请日:2022-06-08

    Abstract: 本发明公开了一种用于SoC(System on Chip)中Flexray总线控制器的验证系统及方法,属于集成电路验证技术领域,提供了一种用于SoC(System on Chip)中Flexray总线控制器的验证方法,该方法以多个片外Flexray总线节点及总线编解码模型完成包括待测Flexray总线控制器节点的组网、同步、解析以及数据比对的功能,通过使用相关模型及应用配置函数对SoC中待测Flexray总线控制器进行初始化及其传输数据进行配置。通过该验证方法可有效提升片上系统中Flexray节点的测试效率。

    一种PCIe仿真数据可视化方法、系统、设备及介质

    公开(公告)号:CN114567569A

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN202210182854.0

    申请日:2022-02-25

    Abstract: 本发明提供一种PCIe仿真数据可视化方法、系统、设备及介质,将PCIe事务可视化显示在平台中,解决了在调试工作中的困难,显著提高了调试的准确度和PCIe仿真验证效率。包括如下步骤:采集所有PCIe设备的PCIe串行码并解析为并行码流;根据协议规定对并行码流进行三层协议的解包,获取三层的事务流信息,其中,三层分为物理层、数据链路层和事务层;根据获取的事务流信息构建所有PCIe设备的网络拓扑结构;基于Python的Tkinter模块搭建可视化面板,对构建的网络拓扑结构进行可视化处理,实现PCIe仿真数据可视化。

    一种交换电路路由算法的验证方法及装置

    公开(公告)号:CN114925654A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202210577174.9

    申请日:2022-05-25

    Abstract: 本发明公开了一种交换电路路由算法的验证方法及装置,将第一路由验证组件数据包转换为第一总线验证组件数据包;将第一总线验证组件数据包发送给待测交换电路的每个输入端口,待测交换电路的每个输出端口输出第二总线验证组件数据包;获取第二总线验证组件数据包,并将第二总线验证组件数据包转化为第二路由验证组件数据包;获取待测交换电路的每个输入端口的第一总线验证组件数据包,并转化为第三路由验证组件数据包;根据待测交换电路的理论路由算法逻辑,对第三路由验证组件数据包进行预测,得到第四路由验证组件数据包;将第二路由验证组件数据包与第四路由验证组件数据包进行比对,本发明提高了验证的覆盖率和效率。

    一种交换电路路由算法的验证方法及装置

    公开(公告)号:CN114925654B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202210577174.9

    申请日:2022-05-25

    Abstract: 本发明公开了一种交换电路路由算法的验证方法及装置,将第一路由验证组件数据包转换为第一总线验证组件数据包;将第一总线验证组件数据包发送给待测交换电路的每个输入端口,待测交换电路的每个输出端口输出第二总线验证组件数据包;获取第二总线验证组件数据包,并将第二总线验证组件数据包转化为第二路由验证组件数据包;获取待测交换电路的每个输入端口的第一总线验证组件数据包,并转化为第三路由验证组件数据包;根据待测交换电路的理论路由算法逻辑,对第三路由验证组件数据包进行预测,得到第四路由验证组件数据包;将第二路由验证组件数据包与第四路由验证组件数据包进行比对,本发明提高了验证的覆盖率和效率。

    一种PCIe仿真数据可视化方法、系统、设备及介质

    公开(公告)号:CN114567569B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202210182854.0

    申请日:2022-02-25

    Abstract: 本发明提供一种PCIe仿真数据可视化方法、系统、设备及介质,将PCIe事务可视化显示在平台中,解决了在调试工作中的困难,显著提高了调试的准确度和PCIe仿真验证效率。包括如下步骤:采集所有PCIe设备的PCIe串行码并解析为并行码流;根据协议规定对并行码流进行三层协议的解包,获取三层的事务流信息,其中,三层分为物理层、数据链路层和事务层;根据获取的事务流信息构建所有PCIe设备的网络拓扑结构;基于Python的Tkinter模块搭建可视化面板,对构建的网络拓扑结构进行可视化处理,实现PCIe仿真数据可视化。

    一种总线回环测试结构和方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114545201A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210143515.1

    申请日:2022-02-16

    Abstract: 本发明公开了一种总线回环测试结构和方法,包括寄存器配置模块、时间产生模块、时钟同步模块、数据发送模块、数据接收模块、回环时间产生模块、回环数据发送模块;时间产生模块和回环时间产生模块各自产生独立的周期和时隙信息;在回环使能时,将回环数据发送模块的输出TX_LP与数据发送模块的输出TX进行与操作,并与RX进行连接。可以完成时间触发类总线的回环测试,提高了总线的测试效率。

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