一种智能功率模块的测试电路和方法

    公开(公告)号:CN119689198A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411827421.1

    申请日:2024-12-12

    Abstract: 本发明实施例提供了一种智能功率模块的测试电路和方法,智能功率模块包括绝缘栅双极型晶体管,测试电路包括电压表、第一快速二极管、第一开关和电流输入电路,电压表、第一快速二极管和第一开关串联;绝缘栅双极型晶体管与电压表、第一快速二极管和第一开关的串联电路并联;电流输入电路与电压表、第一快速二极管和第一开关的串联电路连接。在智能功率模块从工作状态切换为测试状态的情况下,通过第一快速二极管延迟导通以影响电压表测量绝缘栅双极型晶体管的正向压降的延迟时间,从而滤除了智能功率模块从工作状态切换为测试状态导致的噪音,使得测试结果更加准确。

    一种碳化硅二极管及碳化硅二极管的制备方法

    公开(公告)号:CN119486220A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411504314.5

    申请日:2024-10-25

    Abstract: 本申请公开了一种碳化硅二极管及碳化硅二极管的制备方法,本申请提供的碳化硅二极管包括依次层叠的基底层、第一外延层、第二外延层和阳极金属层;第一外延层的第一表面包括至少一个第一掺杂区;第一表面为第一外延层中与第二外延层的第二表面层叠的表面;第二外延层中与第二表面相对的第三表面包括间隔设置的第一沟槽和第二沟槽,且第二沟槽与所述第一掺杂区一一对应;第二外延层中包括所述第一沟槽的底部对应的第二掺杂区。本申请实施例实现了对碳化硅二极管的反向耐压特性和正向导通特性的同时优化,提高了碳化硅二极管的可靠性。

    碳化硅MOSFET及其制备方法和用电器

    公开(公告)号:CN119364820A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411878132.4

    申请日:2024-12-19

    Abstract: 本发明提供了一种碳化硅MOSFET及其制备方法和用电器,涉及半导体技术领域。碳化硅MOSFET包括:依次层叠的漏极、N型衬底和N型外延层;所述N型外延层背离所述N型衬底的一侧表面包括:依次分布的第一区域、第二区域和第三区域;N型电流扩展层,位于所述N型外延层的所述第二区域上;P型埋层,位于所述N型外延层的所述第一区域和所述第三区域上;栅极多晶硅层,位于所述第三区域的所述P型埋层上,并延伸进入所述N型电流扩展层内;源极多晶硅层,位于所述第一区域的所述P型埋层上,并延伸进入所述N型电流扩展层内;包含所述N型电流扩展层的沟道二极管。本申请可以降低碳化硅MOSFET反向导通时的导通压降。

    一种智能功率模块的测试电路和方法

    公开(公告)号:CN119044717A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411197082.3

    申请日:2024-08-29

    Abstract: 本发明实施例提供了一种智能功率模块的测试电路和方法,所述测试电路包括主回路、上桥集成电路、下桥集成电路、自举电路和第一绝缘栅双极晶体管,主回路包括第一电容、负载电感、第二绝缘栅双极晶体管和第三绝缘栅双极晶体管,下桥集成电路用于控制第三绝缘栅双极晶体管的工作状态,上桥集成电路用于控制第二绝缘栅双极晶体管的工作状态,通过控制时序将第一绝缘栅双极晶体管、第二绝缘栅双极晶体管和第三绝缘栅双极晶体管依次导通和断开,能够模拟实现智能功率模块在应用过程中突然遇到短路或浪涌电流等突发情况,实现了测试智能功率模块中的绝缘栅双极晶体管在工作过程中遇到浪涌电流,并在承受浪涌电流的过程中进行关断的能力。

    一种无感电机的测试方法、装置、电子设备及介质

    公开(公告)号:CN118425772B

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410868085.9

    申请日:2024-07-01

    Abstract: 本发明实施例提供了一种无感电机的测试方法、装置、电子设备及介质,应用于电机技术领域,包括:响应于用户在可视化界面的操作,确定目标测试工况信息;目标测试工况信息包括环境配置信息、供电配置信息,以及启动模式配置信息;根据环境配置信息控制无感电机所在的模拟测试环境;在模拟测试环境下,根据供电配置信息控制对无感电机的供电,并根据启动模式配置信息控制无感电机的启动;获取无感电机在目标测试工况信息下的启动情况,并将在目标测试工况信息下的启动情况反馈至可视化界面,实现了对无感电机的启动性能的测试,通过对测试环境、供电、启动模式的控制模拟不同测试工况,提升了对无感电机启动测试的准确性。

    IGBT器件及其元胞结构、元胞结构的制作方法

    公开(公告)号:CN116978784A

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN202310945231.9

    申请日:2023-07-28

    Abstract: 本发明提供一种IGBT器件及其元胞结构、元胞结构的制作方法,方法包括:制作第一型漂移区;在第一型漂移区的第一面上制作第一型掺杂柱区和第二型掺杂柱区;在第一型掺杂柱区和第二型掺杂柱区上制作基区、发射极区和多晶硅栅极;在第一型漂移区的与第一面相背的第二面上,制作重掺杂缓冲区和轻掺杂缓冲区,其中,重掺杂缓冲区和轻掺杂缓冲区同层设置;在重掺杂缓冲区和轻掺杂缓冲区背向第一型漂移区的一侧制作集电极区。将缓冲层制作成掺杂浓度不同的重掺杂缓冲区和轻掺杂缓冲区,重掺杂缓冲区可以实现抑制电场的作用,使得IGBT器件的耐压不受影响;轻掺杂缓冲区则能够有效改善载流子复合率,从而提升电流密度,有效优化器件开关特性和导通特性。

    转接装置
    10.
    发明公开
    转接装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115524517A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202211228813.7

    申请日:2022-10-09

    Inventor: 黄芷晴 李春艳

    Abstract: 本申请涉及一种转接装置,所述转接装置包括固定座,固定座上设有容置槽,容置槽用于放置电气元件,容置槽的侧壁上设有第一导通部,第一导通部用于与电气元件抵接并导通,固定座的底面上设有第二导通部,第二导通部用于与PCB板导通,第一导通部与第二导通部电性连接。根据本发明的转接装置,将需要测试的电气元件放入容置槽中,电气元件与第一导通部导通,而第一导通部同时与第二导通部电性连接,第二导通部同时与PCB板导通,从而通过电气元件‑第一导通部‑第二导通部‑PCB板,最终实现电气元件和PCB板的导通,通过免焊方式,即可实现更换不同的电气元件进行测试,降低了PCB板的报废率,节约了测试时间。

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