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公开(公告)号:CN114242586A
公开(公告)日:2022-03-25
申请号:CN202111543886.0
申请日:2021-12-16
Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司
IPC: H01L21/331 , H01L29/06 , H01L29/08 , H01L29/739 , H01L27/06
Abstract: 本申请提供了一种RC‑IGBT元胞的制备方法及RC‑IGBT芯片,该制备方法包括:对半导体基板进行处理并在其上形成由氧化层和多晶硅组成的栅极;在所述栅极的中部刻蚀出多个孔洞区;通过一具有预设结构的光刻版在所述孔洞区进行N+发射极的注入,其中注入有所述N+发射极的区域为IGBT区,未注入所述N+发射极的区域为FRD区。本申请提供的制备方法通过对条形栅极分段,通过在栅极的中部刻蚀出多个孔洞区,并利用有预设结构的光刻版在孔洞区合理布局N+发射极的位置,让没有被沟道短路的二极管部分率先进入电导调制状态,能有效降低VF,优化了VF‑shift。