化合物、薄膜形成用原料和薄膜的制造方法

    公开(公告)号:CN114787168B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202080082238.7

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 本发明涉及一种化合物,其由下述通式(1)或(2)表示。(式(1)中,R1~R4各自独立地表示氢原子、碳数1~5的烷基等,R5和R6各自独立地表示氢原子或碳数1~5的烷基,M1表示镓原子或铟原子。)(式(2)中,R7~R10各自独立地表示氢原子、碳数1~5的烷基等,R11表示氢原子或碳数1~5的烷基,M2表示镓原子或铟原子。)

    钨前驱体及使用其形成含钨层的方法

    公开(公告)号:CN109134546B

    公开(公告)日:2023-03-10

    申请号:CN201810556182.9

    申请日:2018-05-31

    Abstract: 本发明公开一种钨前驱体及一种形成含钨层的方法。所述钨前驱体具有由以下式1表示的结构。在式1中,R1、R2及R3独立地包括包含经取代或未经取代的C1到C5的直链或分支的烷基;R4及R5独立地包括包含C1到C5的直链或分支的烷基、卤素元素、具有C2到C10的二烷基氨基或者包含C3到C12的三烷基硅烷基;n为1或2,且m为0或1。此外,n+m=2(例如,当n为1时,m为1)。当n为2时,m为0且R1及R2各有两个。两个R1彼此独立,且两个R2彼此独立。本公开的钨前驱体适用于沉积且限制及/或防止半导体器件的劣化。

    化合物、薄膜形成用原料和薄膜的制造方法

    公开(公告)号:CN114787168A

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202080082238.7

    申请日:2020-11-16

    Abstract: 本发明涉及一种化合物,其由下述通式(1)或(2)表示。(式(1)中,R1~R4各自独立地表示氢原子、碳数1~5的烷基等,R5和R6各自独立地表示氢原子或碳数1~5的烷基,M1表示镓原子或铟原子。)(式(2)中,R7~R10各自独立地表示氢原子、碳数1~5的烷基等,R11表示氢原子或碳数1~5的烷基,M2表示镓原子或铟原子。)

Patent Agency Ranking